发明专利
- 专利标题: 用於負載開關和直流-直流器件的高密度MOSFET的器件結構及其制備方法
- 专利标题(英): Device structure and methods of making high density MOSFETs for load switch and DC-DC applications
- 专利标题(中): 用于负载开关和直流-直流器件的高密度MOSFET的器件结构及其制备方法
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申请号: TW102145739申请日: 2013-12-11
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公开(公告)号: TW201426882A公开(公告)日: 2014-07-01
- 发明人: 耶爾馬茲 哈姆紮 , YILMAZ, HAMZA , 博德 馬督兒 , BOBDE, MADHUR , 常虹 , CHANG, HONG , 李亦衡 , LEE, YEEHENG , 卡拉夫特 丹尼爾 , CALAFUT, DANIEL , 金鐘五 , KIM, JONGOH , 雷 燮光 , LUI, SIK , 陳 軍 , CHEN, JOHN
- 申请人: 萬國半導體股份有限公司 , ALPHA AND OMEGA SEMICONDUCTOR INCORPORATED
- 专利权人: 萬國半導體股份有限公司,ALPHA AND OMEGA SEMICONDUCTOR INCORPORATED
- 当前专利权人: 萬國半導體股份有限公司,ALPHA AND OMEGA SEMICONDUCTOR INCORPORATED
- 代理商 葉大慧
- 优先权: 13/724,180 20121221
- 主分类号: H01L21/336
- IPC分类号: H01L21/336 ; H01L21/28
摘要:
本發明的各個方面提出了一種帶有自對准源極接觸的基於高密度溝槽的功率MOSFET,以及這類器件的制備方法。源極接觸與墊片自對准,墊片沿閘極蓋的側壁形成。另外,有源器件具有二階閘極氧化物。其中閘極氧化物底部的厚度大於頂部的厚度。二階閘極氧化物與自對准的源極接觸相結合,從而制備的器件間距可以在深亞微米級別。
公开/授权文献
- TWI518803B 用於負載開關和直流-直流器件的高密度MOSFET的器件結構及其制備方法 公开/授权日:2016-01-21
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