发明专利
- 专利标题: 鰭式場效電晶體元件結構與其形成方法
- 专利标题(英): Fin field effect transistor (FinFET) device and method for forming the same
- 专利标题(中): 鳍式场效应管组件结构与其形成方法
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申请号: TW105100491申请日: 2016-01-08
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公开(公告)号: TW201703258A公开(公告)日: 2017-01-16
- 发明人: 陳建穎 , CHEN, CHANG YIN , 張家瑋 , CHANG, CHAI WEI , 陳臆仁 , CHEN, YI JEN , 楊柏峰 , YOUNG, BO FENG
- 申请人: 台灣積體電路製造股份有限公司 , TAIWAN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING CO., LTD.
- 申请人地址: 新竹市
- 专利权人: 台灣積體電路製造股份有限公司,TAIWAN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING CO., LTD.
- 当前专利权人: 台灣積體電路製造股份有限公司,TAIWAN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING CO., LTD.
- 当前专利权人地址: 新竹市
- 代理商 洪澄文; 顏錦順
- 优先权: 62/188,028 20150702;14/942,491 20151116
- 主分类号: H01L29/772
- IPC分类号: H01L29/772 ; H01L21/336
摘要:
本揭露提供一種鰭式場效電晶體元件結構(FinFET device structure),包括:一鰭式結構形成於一基板之上;以及一閘極結構,橫跨於該鰭式結構之上。閘極結構包括一閘極電極層,其中該閘極電極層包括一上部份高於該鰭式結構與一下部份低於該鰭式結構,一虛擬介面介於該上部份與該下部份之間,且該下部份具有一漸尖寬度,該漸尖寬度從該虛擬介面到該下部份之一底表面逐漸變尖。
公开/授权文献
- TWI578529B 鰭式場效電晶體元件結構與其形成方法 公开/授权日:2017-04-11
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