发明授权
- 专利标题： Mass sensor method for measuring analytes in a sample
- 专利标题（中）： 用于测量样品中分析物的质量传感器方法
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申请号： US41662申请日： 1993-04-01
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公开(公告)号： US5306644A公开(公告)日： 1994-04-26
- 发明人: Carl A. Myerholtz , May Tom-Moy , Darlene J. Spira-Solomon , Richard L. Baer , Thomas P. Doherty
- 申请人： Carl A. Myerholtz , May Tom-Moy , Darlene J. Spira-Solomon , Richard L. Baer , Thomas P. Doherty
- 申请人地址： CA Palo Alto
- 专利权人： Hewlett-Packard Company
- 当前专利权人： Hewlett-Packard Company
- 当前专利权人地址： CA Palo Alto
- 主分类号： G01N29/00
- IPC分类号： G01N29/00 ; G01N1/40 ; G01N29/02 ; G01N33/18 ; G01N33/543 ; G01N33/552 ; G01N33/68 ; G01N35/08 ; G01N27/00 ; G01N33/00 ; H01L41/00 ; H01L41/08
摘要：
A system for accurate and precise measurements of analyte(s) in a system. The measurement system comprises piezoelectric surface wave sample devices, at least one piezoelectric surface wave reference device, and the measurement instrument.
公开/授权文献
- USD395190S Digital video disk storage package 公开/授权日：1998-06-16
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