Semiconductor device manufacturing method

发明授权

US07537987B2 Semiconductor device manufacturing method 有权

标题翻译：半导体器件制造方法

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专利标题： Semiconductor device manufacturing method
专利标题（中）： 半导体器件制造方法
申请号： US11551861

申请日： 2006-10-23
公开(公告)号： US07537987B2

公开(公告)日： 2009-05-26
发明人: Masahiko Higashi , Satoshi Kume , Jiro Yugami , Shinichi Yamanari , Takahiro Maruyama , Itaru Kanno
申请人： Masahiko Higashi , Satoshi Kume , Jiro Yugami , Shinichi Yamanari , Takahiro Maruyama , Itaru Kanno
申请人地址： JP Tokyo
专利权人： Renesas Technology Corp.
当前专利权人： Renesas Technology Corp.
当前专利权人地址： JP Tokyo
代理机构： Oblon, Spivak, McClelland, Maier & Neustadt, P.C.
优先权： JP2005-313635 20051028
主分类号： H01L21/84
IPC分类号： H01L21/84

摘要：

In a semiconductor device manufacturing method of the invention, a metal film, for forming a gate electrode, is formed on a gate insulating film. Subsequently, when the metal film is processed, part of the metal film is removed by a wet etching process using a given chemical liquid.

摘要（中）：

在本发明的半导体器件制造方法中，在栅极绝缘膜上形成用于形成栅电极的金属膜。随后，当处理金属膜时，通过使用给定的化学液体的湿蚀刻工艺去除部分金属膜。

公开/授权文献

US20070099406A1 SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURING METHOD 公开/授权日：2007-05-03

信息查询

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IPC分类:

H	电学
H01	基本电气元件
H01L	半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件（使用半导体器件的测量入G01；一般电阻器入H01C；磁体、电感器、变压器入H01F；一般电容器入H01G；电解型器件入H01G9/00；电池组、蓄电池入H01M；波导管、谐振器或波导型线路入H01P；线路连接器、汇流器入H01R；受激发射器件入H01S；机电谐振器入H03H；扬声器、送话器、留声机拾音器或类似的声机电传感器入H04R；一般电光源入H05B；印刷电路、混合电路、电设备的外壳或结构零部件、电气元件的组件的制造入H05K；在具有特殊应用的电路中使用的半导体器件见应用相关的小类）
H01L21/00	专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21/70	.由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造（由预制电组件组成的组装件的制造入H05K3/00，H05K13/00）
H01L21/77	..在公共衬底中或上面形成的由许多固态元件或集成电路组成的器件的制造或处理（电可编程只读存储器或其多步骤的制造方法入H01L27/115）
H01L21/78	...把衬底连续地分成多个独立的器件（改变表面物理特性或者半导体形状的切割入H01L21/304）
H01L21/82	....制造器件，例如每一个由许多元件组成的集成电路
H01L21/84	.....衬底不是半导体的，例如绝缘体