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WO2022069204A1 ELEKTRONIKEINHEIT UND VERFAHREN ZUR PRÜFUNG MINDESTENS EINES ZUSTANDS EINER ELEKTRONIKEINHEIT 审中-公开

ELEKTRONIKEINHEIT UND VERFAHREN ZUR PRÜFUNG MINDESTENS EINES ZUSTANDS EINER ELEKTRONIKEINHEIT
Abstract:
Die Erfindung bezieht sich auf eine Elektronikeinheit (1), umfassend mindestens ein Bauteil (2) und eine Leiterplatte (3), wobei das mindestens eine Bauteil (2) mindestens einen Anschluss (4) aufweist, wobei die Leiterplatte (3) mindestens eine erste Kontaktfläche (5) und mindestens eine zweite Kontaktfläche (6) aufweist, wobei die mindestens eine erste Kontaktfläche (5) und die mindestens eine zweite Kontaktfläche (6) voneinander beabstandet sind, wobei der mindestens eine Anschluss (4) mit den mindestens zwei Kontaktflächen (5,6) mittels mindestens einer Lötstelle (7) verbunden ist. Die Erfindung bezieht sich weiterhin auf ein Verfahren zur Prüfung mindestens eines Zustands einer Elektronikeinheit (1).
Abstract(English):

The invention relates to an electronic unit (1) comprising at least one component (2) and a printed circuit board (3). The at least one component (2) has at least one connection (4), and the printed circuit board (3) has at least one first contact surface (5) and at least one second contact surface (6), wherein the at least one first contact surface (5) and the at least one second contact surface (6) are mutually spaced, and the at least one connection (4) is connected to the at least two contact surfaces (5, 6) by means of at least one solder point (7). The invention additionally relates to a method for checking at least one state of an electronic unit (1).

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