并联电抗器隔声罩隔声量测试方法及装置

    公开(公告)号:CN106679797A

    公开(公告)日:2017-05-17

    申请号:CN201611007519.8

    申请日:2016-11-16

    CPC classification number: G01H17/00

    Abstract: 本发明提供了一种并联电抗器隔声罩隔声量测试方法及装置,其中,该方法包括如下步骤:测量距离并联电抗器第一预设距离处的第一声强级,并根据测量出的第一声强级计算并联电抗器的声功率级;对并联电抗器安装隔声罩,测量距离隔声罩第一预设距离处的第二声强级,并根据测量出的第二声强级计算隔声罩的声功率级;将计算出的并联电抗器的声功率级与隔声罩的声功率级的差值确定为并联电抗器隔声罩的隔声量。本发明中通过测量声强级计算隔声量,由于声强为矢量,具有方向性,所以不易受外界环境的干扰,测量出的声强级更加准确可靠,进而提高了隔声量计算的准确度。

    一种直流合成场测量仪的校准装置

    公开(公告)号:CN102998649B

    公开(公告)日:2015-12-02

    申请号:CN201210545586.0

    申请日:2012-12-14

    Abstract: 本发明所设计的一种直流合成场测量仪的校准装置,它包括由下至上依次布置的直流场接地极、直流场高压极、控制极和离子流极、设置在直流场接地极中部的校准孔、设置在校准孔下方的支持平台,直流场接地极和直流场高压极之间设有第一绝缘支柱,直流场高压极和控制极之间设有第二绝缘支柱,控制极和离子流极之间设有第三绝缘支柱,直流场接地极上还设有多个与直流场接地极绝缘的离子流接受板。本发明在直流场接地极上表面可形成由静电场和空间电荷场叠加而成的直流合成场,该直流合成场可用于合成场测量仪的校准。通过校准后能消除直流合成场测量仪的测量误差。

    一种直流合成场测量仪的校准装置

    公开(公告)号:CN102998649A

    公开(公告)日:2013-03-27

    申请号:CN201210545586.0

    申请日:2012-12-14

    Abstract: 本发明所涉及的一种直流合成场测量仪的校准装置,它包括由下至上依次布置的直流场接地极、直流场高压极、控制极和离子流极、设置在直流场接地极中部的校准孔、设置在校准孔下方的支持平台,直流场接地极和直流场高压极之间设有第一绝缘支柱,直流场高压极和控制极之间设有第二绝缘支柱,控制极和离子流极之间设有第三绝缘支柱,直流场接地极上还设有多个与直流场接地极绝缘的离子流接受板。本发明在直流场接地极上表面可形成由静电场和空间电荷场叠加而成的直流合成场,该直流合成场可用于合成场测量仪的校准。通过校准后能消除直流合成场测量仪的测量误差。

Patent Agency Ranking