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公开(公告)号：CN109633541B
公开(公告)日：2023-08-11
申请号：CN201910061772.9
申请日：2019-01-23
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
Abstract: 本发明提供一种磁源定位装置及磁源定位方法，所述磁源定位装置包括：安装支架，用于提供安装平台；全张量磁梯度测量组件，设于安装支架上，用于测量待定位磁源在全张量磁梯度测量组件处产生的磁场梯度值；位置定位器，刚性连接于全张量磁梯度测量组件，用于测量全张量磁梯度测量组件在地理坐标系下的位置信息；测控组件，电连接于全张量磁梯度测量组件及位置定位器，用于采集磁场梯度值及位置信息，并根据采集的数据对待定位磁源进行定位；运动载体，设于安装支架下方，用于载运安装支架进行位置移动，以实现全张量磁梯度测量组件的位置移动。通过本发明解决了现有定位方法中存在虚解或受基线长度限制而无法实现长距离高精度定位的问题。
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公开(公告)号：CN110133544A
公开(公告)日：2019-08-16
申请号：CN201910399862.9
申请日：2019-05-14
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: G01R33/025 , G01R33/035
Abstract: 本发明提供一种航空超导全张量磁补偿系数的获取方法、终端及存储介质，所述获取方法包括：基于动态测量数据获取平面梯度计关于涡流干扰的磁补偿系数近似值，并以此获取平面梯度计关于涡流干扰的磁补偿系数取值约束范围；在飞行器携带置于其内的航空超导全张量磁梯度测量系统进行高空机动飞行时，获取航空超导全张量磁梯度测量系统输出的磁梯度测量值及三轴磁场分量测量值；以平面梯度计关于涡流干扰的磁补偿系数取值约束范围作为约束条件，并将磁梯度测量值及三轴磁场分量测量值代入具有约束条件的磁补偿模型中，从而获取航空超导全张量磁补偿系数的最优值。通过本发明解决了现有方法无法获取航空超导全张量磁补偿系数最优解的问题。
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公开(公告)号：CN109633491A
公开(公告)日：2019-04-16
申请号：CN201910061775.2
申请日：2019-01-23
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
CPC classification number: G01R33/0023 , G01C1/00 , G01C21/16
Abstract: 本发明提供一种全张量磁梯度测量系统安装误差的标定装置及标定方法，所述标定装置包括：激励源，电连接于所述激励源的标定源，设于所述标定源下方的无磁安置台，设于所述标定源一侧的安装支架，设于所述安装支架上的全张量磁梯度测量组件，刚性连接于所述全张量磁梯度测量组件的组合惯导，电连接于所述全张量磁梯度测量组件及所述组合惯导的测控组件，及设于所述标定源一侧的姿态调整装置。通过本发明提供的全张量磁梯度测量系统安装误差的标定装置及标定方法，解决了现有技术无法提供一种简单、便捷的标定装置及标定方法的问题。
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公开(公告)号：CN109633490A
公开(公告)日：2019-04-16
申请号：CN201910061718.4
申请日：2019-01-23
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: G01R33/00
CPC classification number: G01R33/0023
Abstract: 本发明提供一种全张量磁梯度测量组件标定系统及标定方法，所述系统包括：激励源；电连接于激励源的标定源，用于在激励源的驱动下产生标定磁场；设于标定源下方的无磁转台，用于对标定源进行角度调整；设于标定源一侧的安装支架，用于提供安装平台；设于安装支架上的全张量磁梯度测量组件，用于测量标定源在全张量磁梯度测量组件处产生的磁场梯度值；电连接于全张量磁梯度测量组件的测控组件，用于采集磁场梯度值并存储；设于标定源一侧的姿态调整装置，用于固定安装支架并通过对安装支架进行定点转动以对全张量磁梯度测量组件进行姿态调整。通过本发明解决了现有技术无法提供一种简单、高效的标定系统及标定方法的问题。
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公开(公告)号：CN109633540B
公开(公告)日：2023-04-14
申请号：CN201910061731.X
申请日：2019-01-23
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
Abstract: 本发明提供一种磁源的实时定位系统及实时定位方法，所述定位系统包括：设于不同测点的至少两组磁源定位装置；其中，磁源定位装置包括：安装支架，用于提供安装平台；全张量磁梯度测量组件，设于所述安装支架上，用于同步测量待定位磁源在所述全张量磁梯度测量组件处产生的磁场梯度值；位置定位器，刚性连接于所述全张量磁梯度测量组件，用于测量所述全张量磁梯度测量组件在地理坐标系下的位置信息；测控组件，电连接于所述全张量磁梯度测量组件及所述位置定位器，用于采集所述磁场梯度值及所述位置信息并根据采集的数据对所述待定位磁源进行实时定位。通过本发明解决了现有定位方法中存在虚解或受基线长度限制而无法实现长距离高精度定位的问题。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109633490B
公开(公告)日：2021-04-02
申请号：CN201910061718.4
申请日：2019-01-23
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: G01R33/00
Abstract: 本发明提供一种全张量磁梯度测量组件标定系统及标定方法，所述系统包括：激励源；电连接于激励源的标定源，用于在激励源的驱动下产生标定磁场；设于标定源下方的无磁转台，用于对标定源进行角度调整；设于标定源一侧的安装支架，用于提供安装平台；设于安装支架上的全张量磁梯度测量组件，用于测量标定源在全张量磁梯度测量组件处产生的磁场梯度值；电连接于全张量磁梯度测量组件的测控组件，用于采集磁场梯度值并存储；设于标定源一侧的姿态调整装置，用于固定安装支架并通过对安装支架进行定点转动以对全张量磁梯度测量组件进行姿态调整。通过本发明解决了现有技术无法提供一种简单、高效的标定系统及标定方法的问题。
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公开(公告)号：CN109633541A
公开(公告)日：2019-04-16
申请号：CN201910061772.9
申请日：2019-01-23
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
CPC classification number: G01S5/06 , G01S5/0257 , G01S5/14 , G01S5/145
Abstract: 本发明提供一种磁源定位装置及磁源定位方法，所述磁源定位装置包括：安装支架，用于提供安装平台；全张量磁梯度测量组件，设于安装支架上，用于测量待定位磁源在全张量磁梯度测量组件处产生的磁场梯度值；位置定位器，刚性连接于全张量磁梯度测量组件，用于测量全张量磁梯度测量组件在地理坐标系下的位置信息；测控组件，电连接于全张量磁梯度测量组件及位置定位器，用于采集磁场梯度值及位置信息，并根据采集的数据对待定位磁源进行定位；运动载体，设于安装支架下方，用于载运安装支架进行位置移动，以实现全张量磁梯度测量组件的位置移动。通过本发明解决了现有定位方法中存在虚解或受基线长度限制而无法实现长距离高精度定位的问题。
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公开(公告)号：CN109633540A
公开(公告)日：2019-04-16
申请号：CN201910061731.X
申请日：2019-01-23
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
CPC classification number: G01S5/06 , G01S5/0257 , G01S5/14 , G01S5/145
Abstract: 本发明提供一种磁源的实时定位系统及实时定位方法，所述定位系统包括：设于不同测点的至少两组磁源定位装置；其中，磁源定位装置包括：安装支架，用于提供安装平台；全张量磁梯度测量组件，设于所述安装支架上，用于同步测量待定位磁源在所述全张量磁梯度测量组件处产生的磁场梯度值；位置定位器，刚性连接于所述全张量磁梯度测量组件，用于测量所述全张量磁梯度测量组件在地理坐标系下的位置信息；测控组件，电连接于所述全张量磁梯度测量组件及所述位置定位器，用于采集所述磁场梯度值及所述位置信息并根据采集的数据对所述待定位磁源进行实时定位。通过本发明解决了现有定位方法中存在虚解或受基线长度限制而无法实现长距离高精度定位的问题。
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公开(公告)号：CN109633539A
公开(公告)日：2019-04-16
申请号：CN201910061723.5
申请日：2019-01-23
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
CPC classification number: G01S5/06 , G01S5/0257 , G01S5/14 , G01S5/145
Abstract: 本发明提供一种磁源的静态定位装置及静态定位方法，所述静态定位装置包括：安装支架，用于提供安装平台；全张量磁梯度测量组件，设于所述安装支架上，用于测量待定位磁源在所述全张量磁梯度测量组件处产生的磁场梯度值；位置定位器，刚性连接于所述全张量磁梯度测量组件，用于测量所述全张量磁梯度测量组件在地理坐标系下的位置坐标；测控组件，电连接于所述全张量磁梯度测量组件及所述位置定位器，用于采集所述磁场梯度值及所述位置坐标，并根据采集的数据对运动状态下的所述待定位磁源进行实时定位。通过本发明解决了现有技术中无法对运动磁源进行高效定位的问题。
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公开(公告)号：CN116224182A
公开(公告)日：2023-06-06
申请号：CN202111476292.2
申请日：2021-12-06
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 , 上海理微医疗科技发展有限公司
IPC: G01R33/035
Abstract: 本发明提供了一种超导二阶梯度线圈结构、制造方法及超导量子干涉梯度计，涉及超导量子干涉器件领域。超导二阶梯度线圈结构包括二阶梯度线圈支架及六组二阶梯度线圈组，二阶梯度线圈支架包括中心支架及四个补偿支架，六组二阶梯度线圈组均包括中心点线圈及与中心点线圈连接的两个对称线圈，各组的中心点线圈均设置于中心支架处，各组的两个对称线圈分别设于相对的两个补偿支架上，六组二阶梯度线圈组分别用于响应Gzy、Gxy、Gyy、Gzx、Gyx、Gxx磁场梯度分量。本申请提供的超导二阶梯度线圈结构以中心支架处为高效探测点，可实现局部空间高效的信号探测；二阶梯度线圈支架有效降低了液面的高度，适合于局部近源目标体的探测。
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