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公开(公告)号：CN117607559A
公开(公告)日：2024-02-27
申请号：CN202311466725.5
申请日：2023-11-06
申请人： 北京无线电计量测试研究所
摘要： 本申请公开了一种阻抗不对称衰减器衰减量的测量系统和方法，解决了网络分析仪法不适用于不对称衰减器衰减量测量的问题。一种阻抗不对称衰减器衰减量的测量系统，包含网络分析仪和固定阻抗单元。所述固定阻抗单元用于提供一个固定阻抗，所述固定阻抗与待测的阻抗不对称衰减器并联后连接在网络分析仪两端。阻抗不对称衰减器的输入端阻抗与所述固定阻抗并联后等于网络分析仪的源阻抗。本申请有效的避免了因阻抗不匹配引起失配的测量误差；较常规方法对阻抗不对称衰减器的测量具有较好的适应性和准确性。
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公开(公告)号：CN116559753A
公开(公告)日：2023-08-08
申请号：CN202310665915.3
申请日：2023-06-06
申请人： 北京无线电计量测试研究所
IPC分类号： G01R35/00
摘要： 本发明公开一种紧缩场静区平面波幅相特性自动化校准系统和方法，所述系统包括：微波幅相单元、扫描设备单元和中心控制单元；微波幅相单元，用于接收信号并对所述信号进行幅度和相位测量；扫描设备单元，用于控制检测探头的接收位置和姿态；中心控制单元，用于对微波幅相单元和扫描设备单元远程控制，实时分析幅度和相位数据，自动化计算静区特性。根据扫描数据完成静区场幅度不平度、静区场相位不平度和静区场交叉极化三个指标量化，根据结果来评判紧缩场测试系统的性能，对于紧缩场初检和复检具有参考意，本发明还可帮助用户初检及后续复检紧缩场测试系统的性能。
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公开(公告)号：CN112702127B
公开(公告)日：2022-10-25
申请号：CN202011417029.1
申请日：2020-12-07
申请人： 北京无线电计量测试研究所
摘要： 本发明公开一种T型网络测量方法和系统，解决现有方法中系统测量误差大和频率覆盖范围小的问题。所述方法，包含：将被测T型网络的第三端口与匹配负载连接，选定被测频率范围内的被校频率点，通过所述被测T型网络的第一端口输入预设幅度值的正弦连续波信号，记录其第二端口在所述被校频率点的输出幅度值为第一测量值；将被测T型网络的第二端口与匹配负载连接，在所述被校频率点，保持所述被测T型网络的第一端口输入预设幅度值的正弦连续波信号，记录其第三端口在所述被校频率点的输出幅度值为第二测量值；计算所述被测T型网络的在每个所述被校频率的插入损耗和电容值。所述系统使用所述方法，可实现大范围、高精度T型网络电容测量。
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公开(公告)号：CN109301508B
公开(公告)日：2021-04-02
申请号：CN201811124218.2
申请日：2018-09-26
申请人： 北京无线电计量测试研究所
摘要： 本发明公开一种用于紧缩场校准的天线装置，包括校准频率低于40GHz的第一天线组件和高于40GHz的第二天线组件；以及安装有40GHz以下的低噪声放大器的固定组件；其中，所述固定组件上布置用于固定天线组件的若干调节孔，所述若干调节孔形成多个装配第一天线组件和第二天线组件的预设排列，从而两个天线组件可择一地装配在形成其中一个预设排列的若干调节孔上。通过设置的多组调节孔来实现对不同频率和尺寸的天线的安装，从而实现天线装置的通用性设计。
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公开(公告)号：CN109301508A
公开(公告)日：2019-02-01
申请号：CN201811124218.2
申请日：2018-09-26
申请人： 北京无线电计量测试研究所
摘要： 本发明公开一种用于紧缩场校准的天线装置，包括校准频率低于40GHz的第一天线组件和高于40GHz的第二天线组件；以及安装有40GHz以下的低噪声放大器的固定组件；其中，所述固定组件上布置用于固定天线组件的若干调节孔，所述若干调节孔形成多个装配第一天线组件和第二天线组件的预设排列，从而两个天线组件可择一地装配在形成其中一个预设排列的若干调节孔上。通过设置的多组调节孔来实现对不同频率和尺寸的天线的安装，从而实现天线装置的通用性设计。
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公开(公告)号：CN108802501A
公开(公告)日：2018-11-13
申请号：CN201810352901.5
申请日：2018-04-19
申请人： 北京无线电计量测试研究所
IPC分类号： G01R29/08
CPC分类号： G01R29/0871
摘要： 本申请公开了一种紧缩场扫描装置，解决使用现有技术的扫描架测量误差大的问题。装置包含扫描架、激光准直仪；所述扫描架包含方位调节机构、俯仰调节机构、水平扫描架、竖直扫描架、补偿机构；所述激光准直仪包含发射装置和接收装置；所述发射装置位于地面上方固定点，用于产生与场平面平行的激光束；所述接收装置固定于所述运动筒的端部，用于接收所述激光束。所述接收装置接收到激光束后，检测出偏移量；所述控制单元接收所述偏移量，控制所述补偿机构，使所述偏移量减小。本申请的装置提高紧缩场平面波相位检测精度，避免了手动、效率低、速度慢等缺陷。
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公开(公告)号：CN104535858B
公开(公告)日：2017-11-28
申请号：CN201410796746.8
申请日：2014-12-18
申请人： 北京无线电计量测试研究所
IPC分类号： G01R31/00
摘要： 本发明公开一种紧缩场天线测量同步反射点区域确定方法，包括在紧缩场暗室中建立三维直角坐标系；在三维直角坐标系中确定紧缩场馈源所在位置；根据紧缩场馈源的位置和测试区的位置确定紧缩场反射面所在位置；以紧缩场馈源所在位置和待测天线所在测试区内的离紧缩场反射面水平方向最近和最远的位置点作为焦点，以紧缩场馈源经紧缩场反射面到测试区的距离的最小和最大值为长轴长度，在紧缩场暗室中构建两个椭球面；两个椭球面及两椭球面之间的空间即为同步反射点区域。通过对这些区域添加高性能的吸波材料或移去这些干扰反射源，减小这些区域反射对待测目标反射信号测量精度的影响。
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公开(公告)号：CN104567672B
公开(公告)日：2017-07-04
申请号：CN201410827936.1
申请日：2014-12-25
申请人： 北京无线电计量测试研究所
摘要： 本发明涉及一种大型紧缩场扫描架系统，它包括激光平面准直仪、高精度平台和大型紧缩场扫描架；一种大型紧缩场扫描架系统空间几何量的调整方法，其步骤如下：步骤一、调整高精度平台至水平；步骤二、测量得到标尺的位置线与理论参考线的夹角；步骤三、调整标尺位置线与理论参考线重合；步骤四、产生参考激光平面；步骤五、使光学接收靶标可以接收到激光平面发生器发射出的激光信号；步骤六、设置直线运动模块达到要求的水平度；步骤七、测量得到直线运动模块的位置线与理论参考线的夹角；步骤八、使得直线运动模块的位置线与理论参考线重合；步骤九、调整光学接收靶标处于参考激光平面内；本发明可以保证扫描平面具有很高的平面度精度，为紧缩场静区测量提供关键技术支撑。
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公开(公告)号：CN104466345B
公开(公告)日：2017-03-22
申请号：CN201410710494.2
申请日：2014-11-28
申请人： 北京无线电计量测试研究所
摘要： 本发明公开一种天线、低噪放及混频器连接机构，所述连接机构包括天线、波导、低噪放、混频器以及支撑系统，所述天线、低噪放和混频器通过波导依次连接；所述支撑系统的第一前档板和第二前档板通过前挡板支撑梁固接在一起，所述第二前档板和连接法兰通过支撑梁固接在一起；压板卡环固装在支撑梁上，压板卡环的径向设有卡槽，混频器压板卡套在压板卡环的卡槽中；混频器托板与混频器固装在一起，混频器托板的一端与混频器压板垂直固定；第一前挡板和第二前挡板均设有对应的中心孔，转盘穿过第一前挡板的中心孔和第二前挡板的中心孔；所述天线设于第一前挡板的前端，所述波导穿过转盘与低噪放连接，所述波导穿过混频器压板与混频器连接。
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公开(公告)号：CN104597331A
公开(公告)日：2015-05-06
申请号：CN201410800313.5
申请日：2014-12-18
申请人： 北京无线电计量测试研究所
摘要： 本发明公开一种紧缩场天线测量同步反射点位置识别方法，包括在紧缩场暗室中建立三维直角坐标系；在三维直角坐标系中确定紧缩场馈源所在位置；根据紧缩场馈源的位置和测试区的位置确定紧缩场反射面所在位置；以紧缩场馈源所在位置和处于测试区内的待测天线所在位置为焦点，以紧缩场馈源经紧缩场反射面到到处于测试区任意位置的待测天线的传播路径长为长轴长度，在紧缩场暗室中构建一个椭球面；椭球面与紧缩场暗室各面及紧缩场暗室内部空间物体的交汇处即为同步反射点位置。该方法快速的找到紧缩场内反射信号与直射波信号同时到达接收天线的同步反射点位置。
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