芯片级电磁干扰传导注入测试方法及装置

    公开(公告)号:CN116930670B

    公开(公告)日:2023-12-05

    申请号:CN202311205204.4

    申请日:2023-09-19

    IPC分类号: G01R31/00

    摘要: 本申请提供一种芯片级电磁干扰传导注入测试方法及装置,属于芯片电磁抗扰度测试技术领域。所述芯片级电磁干扰传导注入测试方法包括:构建测试装置;根据当前被测芯片标定测试装置不同参数对应的注入能量及波形特征;将当前被测芯片连接到测试装置上;采用测试装置注入电磁干扰到当前被测芯片;记录当前被测芯片的不同注入能量及波形特征以及对应的芯片状态。通过上述技术手段,在对被测芯片进行测试前标定被测芯片在测试装置采用不同参数时注入的能量及波形特征,然后将被测芯片连接到测试装置上进行测试,最后记录被测芯片状态及对应的注入能量及波形特征,为研究干扰注入能量及波形特征对芯片失效的影响提供数据基础,该方法适用范围广。

    芯片级电磁干扰传导注入测试方法及装置

    公开(公告)号:CN116930670A

    公开(公告)日:2023-10-24

    申请号:CN202311205204.4

    申请日:2023-09-19

    IPC分类号: G01R31/00

    摘要: 本申请提供一种芯片级电磁干扰传导注入测试方法及装置,属于芯片电磁抗扰度测试技术领域。所述芯片级电磁干扰传导注入测试方法包括:构建测试装置;根据当前被测芯片标定测试装置不同参数对应的注入能量及波形特征;将当前被测芯片连接到测试装置上;采用测试装置注入电磁干扰到当前被测芯片;记录当前被测芯片的不同注入能量及波形特征以及对应的芯片状态。通过上述技术手段,在对被测芯片进行测试前标定被测芯片在测试装置采用不同参数时注入的能量及波形特征,然后将被测芯片连接到测试装置上进行测试,最后记录被测芯片状态及对应的注入能量及波形特征,为研究干扰注入能量及波形特征对芯片失效的影响提供数据基础,该方法适用范围广。

    电磁环境数据压缩方法及装置
    10.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115358282A

    公开(公告)日:2022-11-18

    申请号:CN202211292155.8

    申请日:2022-10-21

    IPC分类号: G06K9/00

    摘要: 本申请涉及数据处理领域,提供一种电磁环境数据压缩方法及装置。所述电磁环境数据压缩方法,包括:对电磁环境数据中的突变信号数据进行截取;对截取的突变信号数据进行滤波处理;对滤波处理后的数据进行特征点选取;对选取的特征点连接形成的包络线进行数据拟合,提取描述包络线波形的特征参数,将描述包络线波形的特征参数作为电磁环境数据的特征值。本申请实施例通过选取电磁环境数据的特征点,将特征点连接形成的包络线进行数据拟合,将拟合得到的特征参数作为电磁环境数据的特征值,实现对电磁环境数据的压缩。在对电磁环境数据进行存储时,大大降低了数据存储容量,且可以从存储的数据中直接获取特征数据。