公开(公告)号：CN108572160B

公开(公告)日：2020-05-19

申请号：CN201710148080.9

申请日：2017-03-14

申请人： 华中科技大学

发明人： 夏珉 ,  罗运 ,  郭文平 ,  陈俊尧 ,  李微 ,  杨克成

IPC分类号： G01N21/41

摘要： 本发明公开了一种折射率分布测量的折光计，属于测量与光学领域，其包括光源单元、光路调节单元、探测单元以及图像采集及处理单元，其中，光源单元用于产生平行光，光路调节单元用于根据设定的测量范围调节平行光光束大小，还用于调节平行光光束方向以使光束垂直入射至探测单元，探测单元包括棱镜和透镜阵列，透镜阵列贴合设置在棱镜的一个侧面上，其用于接受来自光路调节单元的平行光束，棱镜的底面贴合于待测对象的界面上，图像采集及处理单元用于接收从棱镜的另一个侧面出射的光斑，还用于对光斑进行图像处理，进而获得待测对象的折射率。本发明装置结构简单紧凑，能对折射率分布进行测量，测量精度较高。

公开(公告)号：CN108572160A

公开(公告)日：2018-09-25

申请号：CN201710148080.9

申请日：2017-03-14

申请人： 华中科技大学

发明人： 夏珉 ,  罗运 ,  郭文平 ,  陈俊尧 ,  李微 ,  杨克成

IPC分类号： G01N21/41

摘要： 本发明公开了一种折射率分布测量的折光计，属于测量与光学领域，其包括光源单元、光路调节单元、探测单元以及图像采集及处理单元，其中，光源单元用于产生平行光，光路调节单元用于根据设定的测量范围调节平行光光束大小，还用于调节平行光光束方向以使光束垂直入射至探测单元，探测单元包括棱镜和透镜阵列，透镜阵列贴合设置在棱镜的一个侧面上，其用于接受来自光路调节单元的平行光束，棱镜的底面贴合于待测对象的界面上，图像采集及处理单元用于接收从棱镜的另一个侧面出射的光斑，还用于对光斑进行图像处理，进而获得待测对象的折射率。本发明装置结构简单紧凑，能对折射率分布进行测量，测量精度较高。