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公开(公告)号：CN102081110B
公开(公告)日：2014-03-26
申请号：CN201010566098.9
申请日：2010-11-25
Applicant: 日本麦可罗尼克斯股份有限公司
IPC: G01R1/073
Abstract: 本发明提供一种探针装置。该探针装置尽可能地减小探针相对于探针支架的位移量之差而能够进行正确的测试。探针装置包括探针组装体，该探针组装体包括多个探针、及将这些探针配置成使其针中央区域相对并在左右方向上隔开间隔并沿前后方向延伸的状态的探针支架。上述探针支架和上述探针中的任一者包括：第1部位，其朝下；以及第2部位，其朝前；上述探针支架和上述探针中的另一者包括：第3部位，其朝上，并能够与上述第1部位抵接；以及第4部位，其朝后，并能够与上述第2部位抵接。
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公开(公告)号：CN102081110A
公开(公告)日：2011-06-01
申请号：CN201010566098.9
申请日：2010-11-25
Applicant: 日本麦可罗尼克斯股份有限公司
IPC: G01R1/073
Abstract: 本发明提供一种探针装置。该探针装置尽可能地减小探针相对于探针支架的位移量之差而能够进行正确的测试。探针装置包括探针组装体，该探针组装体包括多个探针、及将这些探针配置成使其针中央区域相对并在左右方向上隔开间隔并沿前后方向延伸的状态的探针支架。上述探针支架和上述探针中的任一者包括：第1部位，其朝下；以及第2部位，其朝前；上述探针支架和上述探针中的另一者包括：第3部位，其朝上，并能够与上述第1部位抵接；以及第4部位，其朝后，并能够与上述第2部位抵接。
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公开(公告)号：CN103728505B
公开(公告)日：2016-06-22
申请号：CN201310481443.2
申请日：2013-10-15
Applicant: 日本麦可罗尼克斯股份有限公司
Abstract: 提供一种检查装置，其在一台检查装置中应对种类不同的被检查体的检查，并且提高检查装置的运转率，从而提高该被检查体的检查工序的生产率。检查被检查体的检查装置具备检查上述被检查体的多个探测单元机构和与上述多个探测单元机构对应的被检查体的检查位置，上述多个探测单元机构能够在相同的方向线上移动，在上述方向线上存在上述检查位置。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103728505A
公开(公告)日：2014-04-16
申请号：CN201310481443.2
申请日：2013-10-15
Applicant: 日本麦可罗尼克斯股份有限公司
Abstract: 提供一种检查装置，其在一台检查装置中应对种类不同的被检查体的检查，并且提高检查装置的运转率，从而提高该被检查体的检查工序的生产率。检查被检查体的检查装置具备检查上述被检查体的多个探测单元机构和与上述多个探测单元机构对应的被检查体的检查位置，上述多个探测单元机构能够在相同的方向线上移动，在上述方向线上存在上述检查位置。
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公开(公告)号：CN101520977A
公开(公告)日：2009-09-02
申请号：CN200910118706.7
申请日：2009-02-24
Applicant: 日本麦可罗尼克斯股份有限公司
Abstract: 本发明提供一种检查装置。在进行亮灯检查而发生亮灯不良时，可以容易地判定引起该亮灯不良的原因是面板不良还是接触不良。该检查装置对检查对象板进行亮灯检查。在该检查装置中包括具有直接与上述检查对象板的电极相接触的探针的多个探针组合体、和支承各探针组合体的探针基座，上述多个探针组合体包括与上述检查对象板简易接触而进行简易亮灯检查的简易接触用探针组合体、和与上述检查对象板全部接触而进行通常亮灯检查的全部接触用探针组合体。
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公开(公告)号：CN101520977B
公开(公告)日：2011-04-20
申请号：CN200910118706.7
申请日：2009-02-24
Applicant: 日本麦可罗尼克斯股份有限公司
Abstract: 本发明提供一种检查装置。在进行亮灯检查而发生亮灯不良时，可以容易地判定引起该亮灯不良的原因是面板不良还是接触不良。该检查装置对检查对象板进行亮灯检查。在该检查装置中包括具有直接与上述检查对象板的电极相接触的探针的多个探针组合体、和支承各探针组合体的探针基座，上述多个探针组合体包括与上述检查对象板简易接触而进行简易亮灯检查的简易接触用探针组合体、和与上述检查对象板全部接触而进行通常亮灯检查的全部接触用探针组合体。
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公开(公告)号：CN101290329A
公开(公告)日：2008-10-22
申请号：CN200810090199.6
申请日：2008-04-17
Applicant: 日本麦可罗尼克斯股份有限公司
Abstract: 本发明提供一种探针单元以及检查装置，可以安全且由一人进行更换探针单元的操作。该探针单元具备：固定在主体侧的探针台、具有直接与液晶面板等检查对象板的电极相接触的探针的探针组合体、在被上述探针台支承的状态下支承上述探针组合体的探针基座，上述探针基座具备：一个基准板部、一个或两个以上的调整板部、设于上述基准板部和调整板部之间以及各调整板部之间用于调整各调整板部位置的位置调整机构。上述基准板部不能错动地安装在上述探针台的特定位置上，上述调整板部以可错动的状态安装于上述探针台上。
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公开(公告)号：CN201535789U
公开(公告)日：2010-07-28
申请号：CN200920219637.4
申请日：2009-10-30
Applicant: 日本麦可罗尼克斯股份有限公司
Abstract: 本实用新型提供一种探针单元及检查装置。能谋求检查作业的效率化。该探针单元包括：探针部件，其通过使多个探针分别与设于检查对象面板上的多个端子相接触来进行点亮检查；短路装置，其在使上述各探针分别与上述各端子相接触而进行点亮检查时，在上述检查对象面板上产生线缺陷等的不良情况下使各端子短路，上述短路装置包括：短路构件，其与上述各端子相对设置，与上述各端子同时接触而使所有端子短路；按压机构，其在被支承于上述探针部件侧的状态下支承该短路构件并在产生上述不良情况时使该短路构件与上述各端子相接触。利用被按压机构支承的短路构件与各端子相接触来判断上述不良情况是由面板引起的还是由探针单元引起的。
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