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公开(公告)号：CN104516114A
公开(公告)日：2015-04-15
申请号：CN201410508075.0
申请日：2014-09-28
申请人： 株式会社东芝
CPC分类号： G02B27/2214 , G02B7/004 , G02B7/023 , G09F7/20 , G09F15/0087 , G09F19/14
摘要： 本发明提供一种图像显示装置。其包括：记录媒体，其用印刷装置印刷了合成图像，所述合成图像为合成了每个视差的多幅图像的合成图像；多透镜，其并排多个柱面透镜地被构成，在各个视差方向上分离所述合成图像并进行显示；位置调整机构，其对所述记录媒体和所述多透镜的相对位置进行调整，所述位置调整机构具备：倾斜度调整部，其使所述记录媒体和所述多透镜的至少一方的倾斜角度可变；左右调整部，其使所述记录媒体和所述多透镜的至少一方在与所述柱面透镜的边界线垂直的方向上可移动，所述倾斜度调整部和所述左右调整部可独立进行调整，在所述左右调整部的一部分具有所述倾斜度调整部的旋转中心，以所述旋转中心为基准，使所述倾斜角度可变。
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公开(公告)号：CN103369334B
公开(公告)日：2015-07-01
申请号：CN201210585122.2
申请日：2012-12-28
申请人： 株式会社东芝
CPC分类号： G02B26/02 , H04N13/305 , H04N13/31 , H04N13/317 , H04N13/351
摘要： 根据一个实施例，图像显示装置（100）包括光源（101）、调制单元（102）、第一阵列（103）和第二阵列（104）。调制单元（102）调制光的强度和颜色以产生对应于包括在调制像素组中的每个调制像素的光束。通过并置多个第一偏转元件来形成第一阵列（103），每个所述第一偏转元件具有平行于调制像素的垂直方向的母线。通过并置多个第二偏转元件来形成第二阵列（105），每个所述第二偏转元件具有相对于所述第一偏转元件的母线倾斜了由tan-1（α×m/n）表示的角度的母线。
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公开(公告)号：CN101046674A
公开(公告)日：2007-10-03
申请号：CN200710091679.X
申请日：2007-03-27
申请人： 株式会社东芝
IPC分类号： G03H1/02
CPC分类号： G03H1/02 , G03F7/001 , G03F7/038 , G03H2001/0264 , G03H2260/12 , G11B7/245 , G11B7/246 , G11B7/2472 , G11B7/2475 , G11B7/2531
摘要： 本发明提供一种全息记录媒体，它具备有含有由环氧化合物的螺环原酸酯(Spiro OrthoEster)的聚合体所形成的基质、自由基聚合性化合物、光自由基聚合引发剂的记录层。
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公开(公告)号：CN115809978A
公开(公告)日：2023-03-17
申请号：CN202210170165.8
申请日：2022-02-24
申请人： 株式会社东芝 , 东芝数字解决方案株式会社
摘要： 本发明的实施方式涉及光学检查方法、光学检查程序、处理装置以及光学检查装置。提供能够检查被检物的表面状态的光学检查方法、光学检查程序、处理装置以及光学检查装置。根据实施方式，被检物的表面状态的光学检查方法包括：通过使用使来自被检物的表面的相互不同的多个波长选择性地通过的波长选择部的光学上的成像，在与影像传感器的各像素的多个颜色通道的数量相同或者比该数量更少的n维的颜色坐标系中取得与该波长对应的颜色的颜色向量；以及根据颜色坐标系中的颜色向量的方向，判别被检物的表面状态。
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公开(公告)号：CN115753781A
公开(公告)日：2023-03-07
申请号：CN202210174971.2
申请日：2022-02-25
申请人： 株式会社东芝
摘要： 本发明涉及处理装置、检查系统、处理方法以及存储介质。提供能迅检查速被检体的表面中成为检查对象的范围的处理装置、检查系统、处理方法以及存储介质。本发明提供与使用拍摄部的被检体检查关联的处理装置。处理装置的处理器基于由点群表示被检体的表面的形状且利用点群规定被检体的表面中的位置以及有关法线矢量的信息的形状数据，计算多个拍摄点来作为对被检体进行拍摄的位置。处理器对经过计算出的所有多个拍摄点且使自多个拍摄点的每一个起至成为下一个移动目的地的拍摄点为止的移动成本的总和最小化的路径进行解析，计算与解析结果对应的路径来作为使拍摄部移动的路径。
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公开(公告)号：CN103369334A
公开(公告)日：2013-10-23
申请号：CN201210585122.2
申请日：2012-12-28
申请人： 株式会社东芝
CPC分类号： G02B26/02 , H04N13/305 , H04N13/31 , H04N13/317 , H04N13/351
摘要： 根据一个实施例，图像显示装置（100）包括光源（101）、调制单元（102）、第一阵列（103）和第二阵列（104）。调制单元（102）调制光的强度和颜色以产生对应于包括在调制像素组中的每个调制像素的光束。通过并置多个第一偏转元件来形成第一阵列（103），每个所述第一偏转元件具有平行于调制像素的垂直方向的母线。通过并置多个第二偏转元件来形成第二阵列（105），每个所述第二偏转元件具有相对于所述第一偏转元件的母线倾斜了由tan-1（α×m/n）表示的角度的母线。
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公开(公告)号：CN118688099A
公开(公告)日：2024-09-24
申请号：CN202311162750.4
申请日：2023-09-08
申请人： 株式会社东芝 , 东芝情报系统株式会社
摘要： 本发明的实施方式涉及光学检查方法、存储有光学检查程序的存储介质以及光学检查装置。提供能够获取物体的信息的光学检查方法。根据实施方式，光学检查方法包括：利用波长选择部选择性地使来自物点的包括至少两个不同的波长谱的光通过，利用具有能够接受波长谱的光的至少两个颜色通道的拍摄部对物点进行拍摄；基于针对物点的至少两个颜色通道中的受光数据，使至少两个不同的波长谱的光成为分别具有不同的方向的信号向量；以及基于信号向量的方向，对物点处的光的方向分布的离散度进行推定处理。
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公开(公告)号：CN118687505A
公开(公告)日：2024-09-24
申请号：CN202311433930.1
申请日：2023-10-31
申请人： 株式会社东芝
IPC分类号： G01B11/25
摘要： 本实施方式提供一种光学检查方法以及存储介质、以及光学检查装置，光学检查方法具备：将明暗周期性地变化的第1基本调制模式的第1图案光投影于物体；对投影有第1图案光的物体进行摄像而获取第1图像；将明暗相对于第1基本调制模式反转的第1反转调制模式的第2图案光投影于物体；对投影有第2图案光的物体进行摄像而获取第2图像；以及生成至少基于第1图像和第2图像抽取的强调了进行特异的光散射的特异区域的特异光散射图像。
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公开(公告)号：CN116818657A
公开(公告)日：2023-09-29
申请号：CN202211060742.4
申请日：2022-08-31
申请人： 株式会社东芝
摘要： 本公开涉及光学检查方法、光学检查程序、处理装置以及光学检查装置。提供一种获取物体表面的信息的光学检查方法。在实施方式的光学检查方法中，使用通过了选择性地使来自物体表面的互不相同的多个预定波长的光通过的波长选择部的光，用具有区分地接收多个预定波长的光的颜色通道的图像传感器进行摄像以获取图像，进行推定在图像的各像素接收到光的颜色通道的通道数量作为颜色数量的颜色数量推定处理，基于颜色数量，进行识别来自物体表面的散射光分布(BRDF)的散射光分布识别处理或者识别物体表面的状态的表面状态识别处理中的至少一方的处理。
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