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公开(公告)号：CN102053365A
公开(公告)日：2011-05-11
申请号：CN201010537897.3
申请日：2010-10-27
Applicant: 株式会社理光
CPC classification number: G03G15/326 , G02B13/0005 , G02B26/125 , G03G15/0409 , G03G15/0435
Abstract: 本发明涉及光扫描装置以及图像形成装置，其目的在于简化斜入射方式的光扫描装置，有效控制波前像差增大，获得良好的光扫描。具体为在斜入射方式中，扫描透镜(5)为经过同一个偏转反射面偏转的多束扫描光束共同使用，并为单一透镜体，其位于偏转反射面一方的入射面(50)为单一入射面，而位于被扫描部一方的发射面则为对应于各个被扫描部且在副扫描方向分离为发射面(5A)、(5B)，入射面(50)被形成为在副扫描方向的折射力随着接近主扫描方向的周边逐渐减小，发射面(5A)、(5B)被形成为在主扫描方向和副扫描方向上均具有正的折射力的面。
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公开(公告)号：CN111837055B
公开(公告)日：2024-11-01
申请号：CN201980018066.4
申请日：2019-02-01
Applicant: 株式会社理光
Abstract: 本发明的课题在于，一种光学装置,包括光源，其具有多个发射激光束的面发光激光元件；扫描光源发射的激光束的扫描仪；以及光学系统，其设置在光源和扫描仪之间的光路中并引导激光束到扫描仪。光学系统包括第一光学元件，控制光源发射的激光束的发散角，以及第二光学元件，聚光已经通过第一光学元件去往扫描仪待扫描表面的激光束。
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公开(公告)号：CN103969637B
公开(公告)日：2017-04-12
申请号：CN201410124493.X
申请日：2014-01-30
Applicant: 株式会社理光
IPC: G01S7/481
CPC classification number: G01J1/0407 , G01J1/42 , G01S7/481 , G01S7/4815 , G01S17/936
Abstract: 本发明涉及一种目标探测器。该目标探测器包括光源；光学系统，将从光源发出的光束转换成预定状态；偏转器，偏转和扫描穿过光学系统的光束，并且将光束照射到目标上；光电探测器，探测反射光或者散射光。光源的发光区的第一尺寸与光源发光区的第二尺寸是不同的，所述的第一尺寸是发光区在第一方向的第一宽度，所述第二尺寸是发光区在第二方向的第二宽度。同所述第一尺寸和第二尺寸中较小者对应的第一方向和第二方向中的一个方向与角分辩率较高的方向一致。
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公开(公告)号：CN103969637A
公开(公告)日：2014-08-06
申请号：CN201410124493.X
申请日：2014-01-30
Applicant: 株式会社理光
IPC: G01S7/481
CPC classification number: G01J1/0407 , G01J1/42 , G01S7/481 , G01S7/4815 , G01S17/936
Abstract: 本发明涉及一种目标探测器。该目标探测器包括光源；光学系统，将从光源发出的光束转换成预定状态；偏转器，偏转和扫描穿过光学系统的光束，并且将光束照射到目标上；光电探测器，探测反射光或者散射光。光源的发光区的第一尺寸与光源发光区的第二尺寸是不同的，所述的第一尺寸是发光区在第一方向的第一宽度，所述第二尺寸是发光区在第二方向的第二宽度。同所述第一尺寸和第二尺寸中较小者对应的第一方向和第二方向中的一个方向与角分辩率较高的方向一致。
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公开(公告)号：CN103576209A
公开(公告)日：2014-02-12
申请号：CN201310338031.3
申请日：2013-08-06
Applicant: 株式会社理光
CPC classification number: G01J1/0422 , G01C3/08 , G01S7/4811 , G01S7/4815 , G01S7/4817 , G01S17/42 , G01S17/936
Abstract: 公开了一种光学测量设备，包括：第一光源；光学元件，聚集从第一光源发出的光束；光照射器，将光束照射到目标上；以及光电检测器，检测光束的从目标穿过成像系统的反射光或散射光，光束被照射到目标上，其中，从第一光源到通过光学元件形成的第一光源第一共轭象的第一光路长度与从光电检测器到通过成像系统形成的光电检测器第二共轭象的第二光路长度至少在第一方向上不同。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101295073B
公开(公告)日：2011-05-04
申请号：CN200810081752.X
申请日：2008-03-06
Applicant: 株式会社理光
Inventor： 仲村忠司
CPC classification number: G02B26/127 , H04N1/0318 , H04N1/1135 , H04N1/1215 , H04N1/129 , H04N2201/04706 , H04N2201/04755
Abstract: 本发明涉及光学扫描装置和图像形成装置。在所述光学扫描装置中，光圈设置在光源单元中的半导体激光器与振动镜之间，并且设置在柱面透镜和振动镜之间。当来自半导体激光器的光束进入振动镜的反射面时，所构造的光学扫描装置通过使光束穿过光圈的开口将光束的束宽限制到适合于反射面的宽度，并且确保光束进入振动镜的反射面的沿主扫描方向的照射位置。本发明的图像形成装置包括有所述光学扫描装置。
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公开(公告)号：CN101271194A
公开(公告)日：2008-09-24
申请号：CN200810086599.X
申请日：2008-03-19
Applicant: 株式会社理光
Abstract: 本发明涉及一种包含能够以更简单的方式调整光束对振动镜照射的光扫描装置的图像形成装置。本发明的光扫描装置将光源所发出的光束照射至具有扭转梁的振动镜上，通过以该扭转梁为轴使该振动镜移动，该光束对目标对象进行光扫，该光扫描装置包含第一调整单元，该第一调整单元用于调整该振动镜相对于该光束的配置。本发明的图像形成装置在目标对象上形成图像，包含本发明第一方面所述的光扫描装置。
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公开(公告)号：CN111837055A
公开(公告)日：2020-10-27
申请号：CN201980018066.4
申请日：2019-02-01
Applicant: 株式会社理光
Abstract: 本发明的课题在于，一种光学装置,包括光源，其具有多个发射激光束的面发光激光元件；扫描光源发射的激光束的扫描仪；以及光学系统，其设置在光源和扫描仪之间的光路中并引导激光束到扫描仪。光学系统包括第一光学元件，控制光源发射的激光束的发散角，以及第二光学元件，聚光已经通过第一光学元件去往扫描仪待扫描表面的激光束。
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公开(公告)号：CN103576209B
公开(公告)日：2016-08-24
申请号：CN201310338031.3
申请日：2013-08-06
Applicant: 株式会社理光
CPC classification number: G01J1/0422 , G01C3/08 , G01S7/4811 , G01S7/4815 , G01S7/4817 , G01S17/42 , G01S17/936
Abstract: 公开了一种光学测量设备，包括：第一光源；光学元件，聚集从第一光源发出的光束；光照射器，将光束照射到目标上；以及光电检测器，检测光束的从目标穿过成像系统的反射光或散射光，光束被照射到目标上，其中，从第一光源到通过光学元件形成的第一光源第一共轭象的第一光路长度与从光电检测器到通过成像系统形成的光电检测器第二共轭象的第二光路长度至少在第一方向上不同。
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公开(公告)号：CN102749706A
公开(公告)日：2012-10-24
申请号：CN201210113592.9
申请日：2012-04-17
Applicant: 株式会社理光
Abstract: 本发明涉及光扫描装置以及成像装置，其目的在于在存在副扫描像面弯曲的情况下尽可能改善扫描线间距不均等，提高画质。光扫描装置(100)包括光源(1)、柱形镜(4)以及扫描镜(6)，当以所述旋转多面镜(5)的主扫描方向和副扫描方向分别为第一方向和第二方向，并以同时垂直于该第一和第二方向的方向为第三方向时，满足关系式α2＜α1、α3以及β2＜β1、β3，或者，α2＞α1、α3以及β2＞β1、β3，其中，α1、α2、α3分别为旋转多面镜在扫描开始、中间、结束时从其转动中心到反射位置之间的距离，β1、β2、β3分别为旋转多面镜在扫描开始、中间、结束时从成像面到第二方向上光束会聚的傍轴焦点位置之间的距离。
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