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公开(公告)号：CN113624129B
公开(公告)日：2024-06-28
申请号：CN202110356816.8
申请日：2021-04-01
Applicant: 浙江大学台州研究院
Abstract: 本发明公开一种尺寸测量仪的实时测量方法，1)初始化步骤、2)实时测量步骤、3)匹配步骤；本发明提供了高兼容、标准化、高效实时匹配检测的一种尺寸测量仪的实时测量方法。
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公开(公告)号：CN110187175B
公开(公告)日：2024-06-18
申请号：CN201910608688.4
申请日：2019-07-08
Applicant: 浙江大学台州研究院
IPC: G01R23/06
Abstract: 本发明公开了一种石英晶片抛光研磨在线测频系统，包括DDS信号模块、射频功率放大模块、π网络接口电路模块、阻抗匹配模块、信号处理模块、MCU控制系统模块和用于为以上模块提供工作电压的电源模块，所述DDS信号模块根据MCU控制系统模块发出指定的扫频指令产生指定频率范围和扫频速度，输出功率的正弦扫频信号，经过射频功率放大模块把DDS信号模块产生的谐振信号进行功率放大，功率放大后的信号连接到π网络接口电路模块，正弦扫频信号通过π网络作用在晶片上使其产生机械振动，同时晶片的机械振动又产生交变电场，当外加的正选扫频信号频率为某一特定值的时候，振幅明显增大，当产生振幅明显增大的信号时，再去捕获有效信号。
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公开(公告)号：CN112284250B
公开(公告)日：2022-04-15
申请号：CN202011103724.0
申请日：2020-10-15
Applicant: 浙江大学台州研究院
Abstract: 一种基于机器视觉的尺寸测量评分系统及测量方法，其中系统包括操作模块和检测模块，所述操作模块包括系统设置模块以及尺寸测量模块；系统设置模块包括参数配置、试题制作以及模板校准功能；进入系统设置模块需要输入密码；尺寸测量模块包括正面尺寸测量和侧面尺寸测量的功能；尺寸测量评分系统还包括退出系统模块；本发明通过设置尺寸测量界面完成参数配置、试题制作、模板校准以及尺寸测量的功能，实现模板的制作以及待检测零件的精确测量。
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公开(公告)号：CN112162145B
公开(公告)日：2022-04-08
申请号：CN202010942393.3
申请日：2020-09-09
Applicant: 浙江大学台州研究院
IPC: G01R23/02 , G01R29/027 , G01R29/033
Abstract: 本发明公开了一种SC切型石英晶片在线研磨测频系统的自动搜索方法，自动搜索实现对SC晶片当前频率的搜索，并且根据自动搜索的不同结果进行不同的处理，若指定圈数内未搜索到频率则系统提示搜索异常报警，若搜索到一个频率则进行单频率跟踪测频流程，若搜索到两个频率则进行双频率跟踪测频流程；同时当系统出现测频异常且频率未到达停机阈值时，调用自动搜索功能重新搜索频率；本发明提供了一种处理效率高、数据精度高，双模频率精准区分的一种SC切型石英晶片在线研磨测频系统的自动搜索方法。
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公开(公告)号：CN113467664A
公开(公告)日：2021-10-01
申请号：CN202110356518.9
申请日：2021-04-01
Applicant: 浙江大学台州研究院
IPC: G06F3/0482 , G01B11/00 , G01B11/24
Abstract: 本发明公开一种基于模板匹配的尺寸测量仪使用方法，2.1)初始步骤、2.2)用户操作判断步骤、2.3)进入测量步骤、2.4)空模板步骤、2.5)退出取消步骤；本发明提供了多参数测量、容易标准化、高效工作的一种基于模板匹配的尺寸测量仪使用方法。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110221124B
公开(公告)日：2021-02-26
申请号：CN201910472593.4
申请日：2016-12-23
Applicant: 浙江大学台州研究院
Abstract: 本发明公开了基于扫频数据机制的石英晶片在线研磨的测控方法，包括如下步骤：初始化数据、谐振频率自动搜索流程、基于扫频数据机制的跟踪测频流程、惯性导航流程；本发明的优点在于：石英晶片研磨在线测频的自动搜索方法，具有抗干扰性强、运行稳定、统计参数多样、全自动化的晶片研磨。
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公开(公告)号：CN110221124A
公开(公告)日：2019-09-10
申请号：CN201910472593.4
申请日：2016-12-23
Applicant: 浙江大学台州研究院
Abstract: 本发明公开了基于扫频数据机制的石英晶片在线研磨的测控方法，包括如下步骤：初始化数据、谐振频率自动搜索流程、基于扫频数据机制的跟踪测频流程、惯性导航流程；本发明的优点在于：石英晶片研磨在线测频的自动搜索方法，具有抗干扰性强、运行稳定、统计参数多样、全自动化的晶片研磨。
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公开(公告)号：CN119687831A
公开(公告)日：2025-03-25
申请号：CN202411710939.7
申请日：2024-11-27
Abstract: 本发明公开了一种基于散斑辅助相位跟踪的相位模糊降低方法，通过在相移投影序列中加入散斑图样，并利用DIC算法计算前后帧间的亚像素投影点位移，能够精确校正相移图像中的运动误差，显著提高了三维测量的精度，通过重映射技术将相移图像投影点对齐到相同相机坐标下，有效降低了运动模糊误差，从而保证了测量结果的准确性，对投影点进行跟踪，而非跟踪物体的运动，可以校正有z方向位移的运动误差，通过相移法获取包裹相位图，并结合双频级次法和恒定几何约束法进行相位解包裹，确保了相位展开的准确性和连续性，从而利用三角测量法重建物体的三维形状。
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公开(公告)号：CN113552134B
公开(公告)日：2024-05-24
申请号：CN202110784407.8
申请日：2019-08-07
Applicant: 浙江大学台州研究院
Abstract: 一种湿法涂胶的合成革卷边检测方法，包括支撑杆、支撑杆底盘、横杆一、横杆二、背光源、短杆、支杆、正面光源、采图模块、报警灯、工控机以及电气控制柜；所述支撑杆设置于支撑底盘，支撑底盘设置于地面，支撑杆竖立于检测点左右两侧；所述横杆一设置于支撑杆之间；所述背光源设置于横杆一上；所述短杆设置于支撑杆，短杆与支撑杆之间设置支杆；本发明通过机器代替人工，避免了人工检查可能存在漏检或是发现问题不及时的情况发生，保证了生产布匹的质量；通过提取待检测区域，便于对图像进行毛边检测，缩小检测范围，提高检测速度。
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公开(公告)号：CN112180160B
公开(公告)日：2022-04-08
申请号：CN202010942378.9
申请日：2020-09-09
Applicant: 浙江大学台州研究院
IPC: G01R23/02 , G01R29/027 , G01R29/033
Abstract: 本发明公开了一种SC切型石英晶片在线研磨的测频测试方法，包括单次扫频双谐振频率波形匹配功能、单次扫频谐振频率数据处理功能、单位时间内数据处理功能；本发明提供了一种处理效率高、操作便捷，数据精度高，双模频率精准区分的一种SC切型石英晶片在线研磨的测频测试方法。
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