膜轮廓
    91.
    发明授权

    公开(公告)号:CN104377312B

    公开(公告)日:2018-06-26

    申请号:CN201410403553.1

    申请日:2014-08-15

    IPC分类号: H01L51/52 H01L51/50 H01L51/56

    CPC分类号: Y02E10/50

    摘要: 本发明涉及膜轮廓。一种光电器件包括第一电极、第二电极及位于第一电极和第二电极之间的半导电材料,以及限定包围表面层区域的阱的电绝缘堤部结构,表面层区域包括所述第一电极,该器件具有光腔,包括:完全光反射层;部分光反射层;以及包括至少一个可溶液加工层的层结构,该层结构包括半导电材料并且位于完全光反射层和部分光反射层之间。表面层区域包括一个反射层并且可溶液加工层位于表面层区域上以及侧壁的第一斜坡和第二斜坡上。将完全光反射层和部分光反射层布置成为层结构中生成的光提供谐振腔,并且侧壁具有从表面层区域延伸的第一斜坡和从第一斜坡延伸的更陡的第二斜坡。

    有机半导体共混物
    95.
    发明授权

    公开(公告)号:CN105190924B

    公开(公告)日:2018-01-02

    申请号:CN201480013911.6

    申请日:2014-03-12

    发明人: C·纽萨姆

    IPC分类号: H01L51/00 H01L51/05

    摘要: 用于制备有机电子器件的半导体层的共混物,该共混物包含聚合物、第一非聚合物半导体、第二非聚合物半导体和第三非聚合物半导体。该共混物使得能够实现更高浓度的半导体溶液以及更宽的溶液加工窗口,相比于包含一种聚合物和一种非聚合物半导体的共混物而言。例如,包含F8‑TFB和三种不同的取代苯并噻吩衍生物的共混物与具有一种聚合物和这些苯并噻吩衍生物之一的共混物相比在OTFT中显示出高三倍的平均饱和迁移率以及在60℃、80℃和100℃干燥之后一致的峰值饱和迁移率,即使在2分钟的延迟之后。