溅射靶及其制造方法
    92.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119220940A

    公开(公告)日:2024-12-31

    申请号:CN202411358725.8

    申请日:2018-03-16

    Abstract: 本发明提供一种溅射靶及其制造方法,该溅射靶是靶部和背衬板部均包含铜和不可避免的杂质的一体型溅射靶,该溅射靶的维氏硬度Hv为90以上,并且与溅射面正交的截面的晶粒的扁平率为0.35以上且0.65以下。

    Cu-W-O溅射靶和氧化物薄膜
    94.
    发明授权

    公开(公告)号:CN114182216B

    公开(公告)日:2024-11-15

    申请号:CN202110422866.1

    申请日:2021-04-20

    Abstract: 本发明涉及Cu‑W‑O溅射靶和氧化物薄膜。一种Cu‑W‑O溅射靶,其为包含钨(W)、铜(Cu)、氧(O)和不可避免的杂质的溅射靶,其中,所述Cu‑W‑O溅射靶的体积电阻率为1.0×103Ω·cm以下。一种氧化物薄膜,其为包含钨(W)、铜(Cu)、氧(O)和不可避免的杂质的薄膜,其中,W和Cu的含有比率以原子比计满足0.5≤W/(Cu+W)<1。本发明的课题在于,提供一种能够形成功函数高的膜并且体积电阻率低的溅射靶。

    铜合金、伸铜品及电子机器零件
    96.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118547183A

    公开(公告)日:2024-08-27

    申请号:CN202410623335.2

    申请日:2020-03-24

    Abstract: 本发明涉及铜合金、伸铜品及电子机器零件。具体地,本发明提供一种光泽度高且焊接性良好的铜合金以及使用其的伸铜品及电子机器零件。本发明的铜合金为含有合计0.5~5.0质量%的Ni及Co中的1种以上,0.1~1.2质量%的Si,其余部分由铜及不可避免的杂质构成的轧制材,沿与轧制方向成直角的方向测定的表面的表面粗糙度Rsk为‑0.50~0.70,沿与轧制方向平行的方向测定的表面的60度光泽度G60RD为200以上。

    电子材料用铜合金以及电子部件
    99.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118176312A

    公开(公告)日:2024-06-11

    申请号:CN202380014095.X

    申请日:2023-01-25

    Inventor: 中村祐太

    Abstract: 本发明提供一种电子材料用铜合金,其中,Ni的量为1.0质量%以下,含有0.5~2.5质量%的Co,以按质量比例计(Ni+Co)/Si为3~5的方式含有Si,余量由铜以及不可避免的杂质组成,在轧制垂直方向上伸长且板厚减少的平面应变下的平均Taylor因子为3.5以下,结晶粒径为10μm以下,轧制方向的0.2%屈服强度为700MPa以上,轧制方向的导电率为50%IACS。

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