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公开(公告)号：CN114758236A
公开(公告)日：2022-07-15
申请号：CN202210384412.4
申请日：2022-04-13
申请人： 华中科技大学
IPC分类号： G06V20/10 , G06V10/26 , G06V10/20 , G06V10/44 , G06V10/774 , G06V10/764 , G06V10/82 , G06K9/62 , G06N3/04 , G06N3/08
摘要： 本发明提供了一种非特定形状物体识别、定位与机械手抓取系统及方法，属于机械手抓取领域，系统包括多自由度机械手、机器视觉成像模块和中央处理模块，多自由度机械手与中央处理模块相连接，机器视觉成像模块与中央处理模块相连接，以将采集的图像数据传输给中央处理模块，中央处理模块对图像数据进行处理，提取目标轮廓，并根据目标轮廓结合标定后的物空间尺寸与像空间像素数量映射关系实现对每个目标的外形尺寸的测量，还用于采用深度神经网络模型依据目标外形尺寸对目标进行分类，以控制多自由度机械手对目标进行识别、定位和拾取。本发明还提供了对目标进行识别、定位和拾取的方法。本发明方法和系统适应性强，能对目标进行灵活拾取。
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公开(公告)号：CN114757903A
公开(公告)日：2022-07-15
申请号：CN202210362277.3
申请日：2022-04-07
申请人： 华中科技大学
摘要： 本发明提供了一种光器件芯片封装金线缺陷检测方法，属于机器视觉缺陷检测领域，本发明方法包括如下步骤：S1采集光器件芯片上具有封装金线的区域块图像，通过模板匹配检测获得金线的焊点，S2对封装金线的区域块图像依据灰度均值和灰度方差进行基于焊点寻迹的金线线区域提取，获得金线线区域，S3对提取的金线线区域进行灰度分析以及特征计算，完成金线缺陷检测。本发明检测方法的检测速度快，鲁棒性强。
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公开(公告)号：CN112729135B
公开(公告)日：2022-04-26
申请号：CN202011517746.1
申请日：2020-12-21
申请人： 华中科技大学
摘要： 本发明公开一种具有主动光学防抖功能的面阵扫频测距/厚的装置，属于测距/厚领域，包括第一、二二向色镜、分束器、远心镜头、相机、光谱仪、采集控制单元和可运动反射器件，第一二向色镜的透射光方向上设置分束器，分束器反射光方向上设置有载物台，分束器透射光方向上设置可运动反射器件，分束器具有四个端口，第一端口和第三端口位于相对的两个边上，第一端口正对第一二向色镜，第二端口正对载物台，第三端口正对可运动反射器件，第四端口的方向上设置有第二二向色镜，第二二向色镜透射光方向上设置远心镜头，远心镜头连接有相机，第二二向色镜反射光方向上设置光谱仪，光谱仪连通采集控制单元。本发明装置结构简单、测量快速、测量精度高。
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公开(公告)号：CN114354649A
公开(公告)日：2022-04-15
申请号：CN202111634362.2
申请日：2021-12-29
申请人： 华中科技大学
摘要： 本发明提供了一种CMP垫的金属微粒缺陷的检测装置及方法，属于CMP垫内部缺陷的检测领域，方法包括：对CMP垫进行背向照明，使用机器视觉成像系统对CMP垫进行扫描成像；对扫描图像进行灰度值的底帽变换；对传统OSTU法获取预设前景灰度百分比进行改造，计算灰度阈值；对预处理后的扫描图像进行自动阈值分割；将分割完成之后的区域进行连通；将连通域中存在缺陷的特征区域进行图像坐标提取；采用张正友角点标定法，对机器视觉系统图像坐标系与X射线成像系统的图像坐标系进行坐标转换获取X射线成像的图像坐标；采用X射线成像方法，对金属微粒缺陷成像核实。本发明检测范围、检测精度和检测效率均得到了极大的提升。
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公开(公告)号：CN112731346A
公开(公告)日：2021-04-30
申请号：CN202011518546.8
申请日：2020-12-21
申请人： 华中科技大学
摘要： 本发明公开一种具有主动光学防抖功能的显微型面阵扫频测距/厚的装置，涉及激光扫频测距领域，包括第一、二二向色镜、分束器、显微镜、相机、光谱仪、采集控制单元和可运动反射器件，第一二向色镜的透射光方向上设分束器，分束器反射光方向上设载物台，载物台和分束器之间设显微镜，分束器有四个端口，第一端口正对第一二向色镜，第二端口正对显微镜，第三端口正对可运动反射器件，第四端口正对第二二向色镜，第二二向色镜透射光方向上设置相机，相机与采集控制单元相连，第二二向色镜反射光方向上设光谱仪，光谱仪连通采集控制单元，采集控制单元具有采集相机和光谱仪的信号以及显示数据的功能。本发明装置结构简单、测量快速、测量精度高。
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公开(公告)号：CN107228839B
公开(公告)日：2021-03-26
申请号：CN201710395830.2
申请日：2017-05-31
申请人： 华中科技大学
IPC分类号： G01N21/43
摘要： 本发明公开了一种高通量的折射率测量芯片、测量装置以及测量方法，属于精密仪器领域，其中，测量芯片包括芯片本体，芯片本体的一个面为光学平面，该光学平面用于与外界的折射率测量设备相面接触，在芯片本体上设置有至少两个用于容置待测量液体的沟槽，沟槽的深度小于或者等于所述芯片本体的厚度，沟槽的两端分别设置有液体输入通道和液体输出通道。本发明还提供一种高通量的折射率测量装置，其包括如上所述的测量芯片。本发明还提供一种高通量的折射率测量方法，能实现同时测量获得多种液体的折射率。本发明装置测量效率高，测量结果一致性好，不易引入随机误差。
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公开(公告)号：CN110361074B
公开(公告)日：2020-09-08
申请号：CN201810253307.0
申请日：2018-03-26
申请人： 华中科技大学
IPC分类号： G01F23/292
摘要： 本发明公开了一种光电式液位检测装置，属于液位检测技术领域，用于测量透明液体的液位高度，包括透明液体容器、光源、聚光柱透镜、滤光片、阵列光电检测器件以及信号采集处理单元，透明液体容器连通容置待测液体的本体容器，光源为发散光源，其位于透明液体容器的底部，光源发射出的发散光束用于从透明液体容器底部入射进入待测液体中，并从透明液体容器的侧壁出射，聚光柱透镜紧邻透明液体容器的外壁，滤光片设置在聚光柱透镜出射光方向上，阵列光电检测器件设置在滤光片出射光方向上，信号采集处理单元连接阵列光电检测器件，用于处理电信号，从而获得液位高度。本发明装置是一种高精度，结构简单，低成本的光电式液位检测装置。
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公开(公告)号：CN110361073B
公开(公告)日：2020-07-10
申请号：CN201810253306.6
申请日：2018-03-26
申请人： 华中科技大学
IPC分类号： G01F23/292
摘要： 本发明公开了一种基于液体波导的液位检测方法，涉及液位检测技术领域，用于测量透明液体的液位高度，其采用光电式液位检测装置进行检测，包括如下步骤：S1在无光条件下，测量阵列光电检测器件的光强曲线并保存，将其作为系统的暗电流噪声，S2开启光源，多次读取同一液位条件下阵列光电检测器件的光强曲线，对多次读取的光强曲线进行信号平均处理，以平滑光强曲线从而降低阵列光电检测器件带来的散粒噪声，S3处理获得待测液体的光强曲线，采用信号采集处理单元对待测液体光强曲线进行分析计算，分析计算过程中，减小所述暗电流噪声和散粒噪声，获得液位高度计算值。本发明检测方法操作方便、简单实用、成本低廉。
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公开(公告)号：CN110044929B
公开(公告)日：2020-05-19
申请号：CN201910329425.X
申请日：2019-04-23
申请人： 华中科技大学
IPC分类号： G01N21/958 , G01N21/01
摘要： 本发明公开了一种基于暗场照明的曲面玻璃次表面缺陷检测装置，包括照明模块、图像采集模块和图像处理模块；照明模块包括激光光源、偏振分光镜、第一平面反射镜、第一拦光光阑、第二平面反射镜、第二拦光光阑、45°半透半反镜、扩束镜和第三平面反射镜；图像采集模块包括共主光轴依次设置的显微物镜、聚焦透镜和CCD；图像处理模块与图像采集模块相连；激光入射到偏振分光镜，经过偏振分光镜后得到两束偏振方向相互垂直的偏振光P波和S波，分别对待测件进行两路暗场照明得到包含待测件缺陷的散射光。本发明利用偏振分光镜得到两路照明光，一路照明光用来大致定位缺陷，另一路照明光用来精确定位缺陷，提高了检测装置的对比度，也简化了操作。
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公开(公告)号：CN108732132B
公开(公告)日：2020-05-19
申请号：CN201810849972.6
申请日：2018-07-28
申请人： 华中科技大学
IPC分类号： G01N21/41
摘要： 本发明公开了一种基于光电传感阵列测量折射率过程中数据处理方法，属于测量与光学领域，其包括如下步骤：S1光电传感阵列器件探测得到光强数据，根据光强数据计算获得临界角对应的像素，S2提取临界角对应的像素及该像素前后各一个像素，一共获得三个像素的信息，所述信息包括光强信息和坐标信息，计算获得该三个像素对应的反射率微分值；S3三个点能唯一确定一条抛物线，得到抛物线公式；S4对抛物线公式求导，导函数为0处即为抛物线峰值处，该峰值处对应为亚像素位置处。本发明方法结合了阵列器件测量折射率的自动化、快速的特点，同时提高了折射率测量的精度。
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