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公开(公告)号：CN103472033B
公开(公告)日：2015-12-02
申请号：CN201310467760.9
申请日：2013-10-09
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N21/41
Abstract: 一种利用连续激光辐照技术测量球形颗粒光谱复折射率的方法，属于颗粒光学特性测量技术领域，解决了现有的球形颗粒光谱复折射率测量方法仍然存在测量过程复杂和精确度低的问题。本发明通过建立球形颗粒系反射信号和透射信号测量的正问题和逆问题求解模型，采用连续激光，测量得到颗粒系的半球反射信号和半球透射信号，采用现有Mie理论模型，能很精确的反应出颗粒的电磁散射特性。本发明适用于测量球形颗粒光谱复折射率。
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公开(公告)号：CN103767687B
公开(公告)日：2015-06-17
申请号：CN201410043662.7
申请日：2014-01-29
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: A61B5/00
Abstract: 基于短脉冲激光反射信号峰值反演的生物组织光学特性参数快速测量方法，属于生物组织光学参数测量技术领域。解决了现有测量生物组织光学参数测量响应时间长的问题。本发明测量样品块表面的时域半球反射信号的峰值改变激光器的脉冲宽度tp测量方，获得n组半球反射信号峰值设定待测样品的散射反照率ω和待测样品的非对称因子g，通过经验公式获得待定系数a和b；获得的n组半球反射信号峰值的估计值利用时域半球反射信号峰值的估计值与信号峰值的估计值对应的时域半球反射信号作最小二乘差值；判断最小二乘差值是否小于阈值ε，是则完成基于短脉冲激光反射信号峰值反演的生物组织光学特性参数快速测量，否则继续测量。本发明适用于生物组织光学参数测量。
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公开(公告)号：CN103767687A
公开(公告)日：2014-05-07
申请号：CN201410043662.7
申请日：2014-01-29
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: A61B5/00
Abstract: 基于短脉冲激光反射信号峰值反演的生物组织光学特性参数快速测量方法，属于生物组织光学参数测量技术领域。解决了现有测量生物组织光学参数测量响应时间长的问题。本发明测量样品块表面的时域半球反射信号的峰值改变激光器的脉冲宽度tp测量方，获得n组半球反射信号峰值设定待测样品的散射反照率ω和待测样品的非对称因子g，通过经验公式获得待定系数a和b；获得的n组半球反射信号峰值的估计值利用时域半球反射信号峰值的估计值与信号峰值的估计值对应的时域半球反射信号作最小二乘差值；判断最小二乘差值是否小于阈值ε，是则完成基于短脉冲激光反射信号峰值反演的生物组织光学特性参数快速测量，否则继续测量。本发明适用于生物组织光学参数测量。
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公开(公告)号：CN102564610B
公开(公告)日：2014-03-05
申请号：CN201110448155.8
申请日：2011-12-28
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种基于能量法的半透明材料高温辐射率测量装置及扣除背景辐射的修正方法，涉及一种半透明材料高温法向光谱辐射率修正测试方法，属于高温测量材料物性技术领域。本发明是为了解决传统测试系统造价昂贵、温度加热上限低、测试精度较低的问题。它包括傅立叶红外光谱分析仪、参考黑体炉、可旋转反光镜、加热炉，加热器，温度采集装置，温度巡检操控仪、入射光源、数据处理系统、光阑和半透明试件；所述的加热炉内置有透光口、半透明试件的固定装置和温度采集装置；所述的入射光源发光口的中心轴线、加热炉的透光口的中心轴线、可旋转反光镜的镜面和参考黑体炉出光口的中心轴线与水平轴线共线。用于测量半透明材料表面的高温光谱法向辐射率。
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公开(公告)号：CN103528963A
公开(公告)日：2014-01-22
申请号：CN201310533552.4
申请日：2013-11-01
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N21/17
Abstract: 采用多频调制激光加热与光热信息重建技术的半透明材料辐射特性测量方法，涉及一种测量半透明材料辐射特性参数的方法。其步骤为：分别采用不同频率的激光照射半透明材料的一侧表面，使用光电探测器分别测量在该入射激光频率下材料激光入射侧的频域半球反射辐射信号和激光出射侧的频域半球透射辐射信号，同时利用热电偶测温仪测量并记录材料两表面温度随时间的变化。根据频域半球反射辐射信号、频域半球透射辐射信号以及两表面随时间变化的温度，通过逆问题求解技术获得半透明材料的衰减系数和反照率。本发明通过建立测量半透明材料衰减系数和反照率的正、逆问题模型，能简单、快速、准确的利用逆问题求解技术同时测量半透明材料衰减系数和反照率。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103472039A
公开(公告)日：2013-12-25
申请号：CN201310460565.3
申请日：2013-09-30
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于积分球反射及透射的半透明材料光谱法向发射率测量方法，属于高温材料热物性测量技术领域。本发明为了解决现有半透明材料在近红外波段的法向发射率测量方法的测量过程复杂，并且测量结果误差大的问题。它将半透明待测试件固定在积分球的试件口处；将激光器固定在积分球的激光入口处，并将激光器输出激光束的中心对准半透明待测试件内表面的中心位置；将激光功率计探测器的探头固定在积分球的探测器口处；分别对半透明待测试件的反射率和透射率进行测量，继而根据基尔霍夫定律得到半透明待测试件的光谱法向发射率。本发明用于测量半透明材料的光谱法向发射率。
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公开(公告)号：CN103471968A
公开(公告)日：2013-12-25
申请号：CN201310467043.6
申请日：2013-10-09
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N15/00
Abstract: 一种利用单频调制激光辐照技术测量球形颗粒光谱复折射率的方法，属于颗粒光学特性测量技术领域。解决了现有的球形颗粒光谱复折射率测量方法仍然存在测量过程复杂和精确度低的问题。通过建立球形颗粒系频域反射信号和频域透射信号测量的正问题和逆问题求解模型，采用粒度分析仪测量得到颗粒系的粒径分布情况，最后基于这些信号结合逆问题求解技术获得颗粒的光谱复折射率在已知颗粒其他物性参数的前提下，结合频域辐射传输模型，运用Mie理论结合微粒群优化算法反演获得球形颗粒光谱复折射率的方法。本发明适用于测量颗粒的光谱复折射率。
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公开(公告)号：CN102353478B
公开(公告)日：2013-07-31
申请号：CN201110304148.0
申请日：2011-10-10
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01K15/00
Abstract: 半透明介质环境下非接触测温的校正方法，属于高温测量技术领域。它解决了被测物体表面处于半透明介质覆盖的环境下时，采用传统方法探测到的辐射能量不能通过传统的材料表面发射率修正方法进行修正得到其真实温度的问题。首先判断半透明介质与被测材料表面是否接触，若接触，选择一维耦合换热模型，采用有限体积法进行正向模型的计算，得到测温设备能够获得的理论辐射能量值；若不接触，选择一维纯辐射换热模型，采用有限体积法进行正向模型的计算，得到测温设备能够获得的理论辐射能量值；然后测量被测材料表面的实际辐射能量值；采用智能微粒群优化算法反演被测材料表面的真实温度值。本发明适用于半透明介质环境下被测材料表面的温度测量。
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公开(公告)号：CN101000264B
公开(公告)日：2010-07-14
申请号：CN200710071635.0
申请日：2007-01-15
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 采用维恩位移定律进行光谱测温的方法，它涉及一种测温方法。本发明解决了目前测量物体温度方法的测量精度低、测量范围窄，而且需要标定的问题。本发明方法的步骤如下：被测物体的红外辐射射线经聚光镜汇进入傅立叶分析光谱仪，傅立叶分析光谱仪进行光谱扫描，光谱曲线记录并存入计算机，计算机通过光谱曲线的峰值波长根据维恩位移定律直接计算得到被测物体的温度，最后在显示屏上显示被测物体的温度。本发明方法测量温度的范围为300～3000K。本发明具有测量精度高、测量范围宽的优点，而且测量时不需要标定。
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公开(公告)号：CN119147101A
公开(公告)日：2024-12-17
申请号：CN202411182648.5
申请日：2024-08-27
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01J5/00 , G01K7/02 , G06T11/00 , G06T3/4007 , G06T3/4053 , G06T7/246
Abstract: 一种光场层析成像系统及火焰三维温度场重建方法，它属于火焰温度测量技术领域。本发明解决了现有光场层析成像方法的温度场重建误差大的问题。本发明首先利用光场层析成像系统拍摄被测量火焰光场图像，将被测量火焰所在的空间区域划分为各个微元体，再从被测量火焰光场图像上的每个像素点开始进行火焰辐射光线追迹，并根据火焰辐射光线的追迹结果建立辐射传输方程组，并根据建立的辐射传输方程组得到重建方程组，基于热电偶的多点精确温度测量值信息来求解重建方程组得到火焰各个微元体的黑体光谱辐射强度，最后将各个微元体的黑体光谱辐射强度转换为各个微元体的温度，实现温度场重建。本发明方法可以应用于火焰三维温度场重建。
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