成膜厚度检测装置、检测方法以及蒸镀设备

    公开(公告)号:CN110670044A

    公开(公告)日:2020-01-10

    申请号:CN201911185418.3

    申请日:2019-11-27

    IPC分类号: C23C14/54 C23C14/24

    摘要: 本发明公开了一种成膜厚度检测装置、检测方法以及蒸镀设备,成膜厚度检测装置包括:晶振片,位于蒸镀源的蒸发侧,并与蒸镀源间隔设置,晶振片能够将晶振片上的成膜厚度信息转化为振动频率信息;导向组件,包括容纳腔以及与容纳腔连通的导向通道,容纳腔容纳晶振片,导向通道具有朝向蒸镀源的导入口,蒸镀源的蒸发材料能够经由导入口在导向通道的导向下到达晶振片成膜,其中,导入口能够在晶振片与蒸镀源之间移动以使导向通道伸缩。本发明提供的成膜厚度检测装置能够准确的对晶振片上的成膜厚度进行检测。

    显示面板及装置
    92.
    发明公开

    公开(公告)号:CN110426880A

    公开(公告)日:2019-11-08

    申请号:CN201910748372.5

    申请日:2019-08-14

    IPC分类号: G02F1/1333 H05F3/04 H05F3/02

    摘要: 本发明提供了一种显示面板及装置,属于显示技术领域。所述显示面板包括显示屏体和设置于所述显示屏体背面的静电防护结构;所述静电防护结构包括金属背板以及设置在所述金属背板上的第一导电层;所述第一导电层位于所述金属背板朝向所述显示屏体的一侧,所述金属背板背向所述显示屏体的一侧与所述显示屏体的电路板的接地端电性连接;所述第一导电层的周向边缘设置有多个尖端放电部,所述尖端放电部分别与所述显示屏体及所述金属背板电性连接,并可进行尖端放电。本发明提供的显示面板及装置,能够将显示屏体上产生的静电及时导出,防止静电击穿现象的发生。

    显示面板残影检测方法及装置

    公开(公告)号:CN110376218A

    公开(公告)日:2019-10-25

    申请号:CN201910690132.4

    申请日:2019-07-29

    发明人: 马悦兴 朱修剑

    IPC分类号: G01N21/95 G01N21/88 G02F1/13

    摘要: 本发明公开了显示面板残影检测方法及装置。显示面板残影检测方法包括:控制待检测显示面板显示第一画面,其中,第一画面包括具有预设识别码信息的第一灰阶值和第二灰阶值的图像;将第一画面切换为第二画面,其中,第二画面包括第三灰阶值的图像,其中,第三灰阶值位于第一灰阶值与第二灰阶值之间;对利用图像采集器对第二画面定时连续采集以获取多个检测图像;确定在图像采集时序内最后一个包含识别码信息的检测图像,以确定待检测显示面板的残影消失时间。本发明公开显示面板残影检测方法可以客观准确的评价显示面板的残影消失时间,为显示面板的质量评价提供可靠依据。

    TFT阵列基板及显示器件
    94.
    发明公开

    公开(公告)号:CN109994490A

    公开(公告)日:2019-07-09

    申请号:CN201910020634.6

    申请日:2019-01-09

    IPC分类号: H01L27/12

    摘要: 本发明实施例涉及显示技术领域,公开了一种TFT阵列基板及显示器件。本发明中,一种TFT阵列基板,包括:衬底以及设置在所述衬底上的多个TFT,每个所述TFT包括相对设置在所述衬底上的源极区和漏极区,位于所述源极区和所述漏极区之间的沟道区,以及覆盖所述源极区、所述漏极区和所述沟道区的绝缘层,其特征在于,所述沟道区包括相互绝缘的多条沟道,所述多条沟道并联在所述源极区和所述漏极区之间。本发明实施方式所提供的TFT阵列基板及显示器件,具有可靠性较高的优点。

    像素电路及其驱动方法和有源矩阵有机发光显示装置

    公开(公告)号:CN106910462B

    公开(公告)日:2019-04-05

    申请号:CN201510975495.4

    申请日:2015-12-22

    发明人: 张九占 朱修剑

    IPC分类号: G09G3/3225 H01L27/32

    摘要: 本发明实施例公开了一种像素电路及其驱动方法和有源矩阵有机发光显示装置,所述像素电路包括第一至第六薄膜晶体管,电容、有机发光二极管,第一薄膜晶体管其栅极电性连接至发光控制线,第一端电性连接至第一电源,第二端电性连接至第一节点;第二薄膜晶体管其栅极电性连接至发光控制线,第一端电性连接至第二节点,第二端电性连接至第三节点;第三薄膜晶体管其栅极电性连接至第三节点;第四薄膜晶体管其栅极电性连接至第一扫描线;第五薄膜晶体管其栅极电性连接至第二扫描线;第六薄膜晶体管其栅极电性连接至第二扫描线;电容电性连接在第一节点和第二节点之间。本发明的像素电路及其驱动方法和有源矩阵有机发光显示装置能够显示亮度均匀的图像。

    一种驱动控制电路及其驱动方法、显示装置

    公开(公告)号:CN108122534B

    公开(公告)日:2019-03-26

    申请号:CN201611071901.5

    申请日:2016-11-29

    IPC分类号: G09G3/3225

    摘要: 本发明涉及显示驱动技术领域,尤其涉及一种驱动控制电路及其驱动方法、显示装置,用以改善现有技术存在的显示屏体中横向Mura现象。驱动集成电路通过为提供给发射控制电路的驱动信号进行占空比的调整,以使得生成的第一驱动信号能够配合发射控制电路形成具有预设占空比的第二驱动信号,该预设占空比大于驱动集成电路中待输出的驱动信号的占空比;将写入数据时加载的数据信号的幅值调低,提升单位时间内每个OLED的亮度,以保证整个屏体亮度不变。通过缩短每一帧内OLED点亮的时间,使得像素电路每一行之间的亮度差异这一Mura仅体现在较短的时间内,进而,从整体上缩短了Mura发生的时间,改善了屏体显示时出现的横向Mura现象。

    像素电路及其驱动方法和有源矩阵有机发光显示器

    公开(公告)号:CN106935201B

    公开(公告)日:2019-01-18

    申请号:CN201511029763.X

    申请日:2015-12-31

    发明人: 张九占 朱修剑

    IPC分类号: G09G3/3233 H01L27/32

    摘要: 在本发明提供的像素电路及其驱动方法和有源矩阵有机发光显示器中,驱动晶体管所输出的电流由数据线提供的数据电压、有机发光二极管的阈值电压以及第二电源提供的第二电源电压决定,而与驱动晶体管的阈值电压以及第一电源提供的第一电源电压无关,因此能够避免由驱动晶体管阈值电压偏差以及IR压降引起的亮度不均,同时,在所述有机发光二极管的发光效率降低时流过驱动晶体管的电流能够自动升高,使得所述有机发光二极管的发光亮度基本不变,进而延长所述有源矩阵有机发光显示器的使用寿命。

    一种显示装置及该显示装置的电源电路

    公开(公告)号:CN106373526B

    公开(公告)日:2018-12-07

    申请号:CN201610970560.9

    申请日:2016-10-28

    IPC分类号: G09G3/3208

    摘要: 本发明公开了一种显示装置及该显示装置的电源电路,该显示装置包括OLED显示面板、驱动模块及电源电路;驱动模块,用于生成驱动信号给OLED显示面板,并生成控制信号给电源电路;电源电路包括:电源转换模块和开关控制模块;电源转换模块,用于接收输入电压以产生电源电压;开关控制模块,用于接收驱动模块生成的控制信号,并根据该控制信号控制电源电压的输出;OLED显示面板接收所述驱动模块生成的驱动信号及所述电源电路输出的电源电压并进行显示工作。本发明公开的显示装置及该显示装置的电源电路,解决了现有技术中电源电路出现关闭的现象;优化了电源电压输出的控制方式,提高了电源电路输出的稳定性。

    一种发光控制电路、发光控制方法以及移位寄存器

    公开(公告)号:CN108806588A

    公开(公告)日:2018-11-13

    申请号:CN201710296337.5

    申请日:2017-04-28

    发明人: 吴剑龙 朱修剑

    IPC分类号: G09G3/3208

    摘要: 本申请公开了一种发光控制电路、发光控制方法以及移位寄存器,该发光控制电路包括:第一薄膜晶体管、第二薄膜晶体管、第三薄膜晶体管、第四薄膜晶体管、第五薄膜晶体管、第六薄膜晶体管、第七薄膜晶体管、第八薄膜晶体管、第九薄膜晶体管、第十薄膜晶体管、第十一薄膜晶体管、第十二薄膜晶体管以及第十三薄膜晶体管。第十二薄膜晶体管与第一薄膜晶体管连接,第十三薄膜晶体管与第五薄膜晶体管以及第七薄膜晶体管连接,第十二薄膜晶体管可以将第一薄膜晶体管与低电压阻隔,第十三薄膜晶体管可以将第五薄膜晶体管以及第七薄膜晶体管与低电压阻隔。这样,可以降低薄膜晶体管被击穿的风险,提高发光控制电路的稳定性。

    一种邦定基板、电路板及邦定电路模组

    公开(公告)号:CN108633168A

    公开(公告)日:2018-10-09

    申请号:CN201810550849.4

    申请日:2018-05-31

    IPC分类号: H05K1/02 H05K3/36

    摘要: 本发明提供了膨胀量的测量一种邦定基板、电路板及邦定电路模组,解决了邦定过程中由于高温高压环境下基板发生膨胀后,不能计算基板的膨胀率的问题。包括:第一基板对位标识,设置在所述邦定基板的邦定膨胀量测量方向的中心线上;以及基板测量标识,设置在所述基板对位标识在所述邦定膨胀量测量方向的一侧。