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公开(公告)号：CN109092378B
公开(公告)日：2020-10-02
申请号：CN201810776829.9
申请日：2018-07-13
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: B01L3/00
Abstract: 一种基于等离激元纳米结构的微流控芯片流量光控制方法，本发明涉及微流控芯片流量光控制方法。本发明的目的是为了解决现有微流控设备操作复杂，设备昂贵，且便携性较差以及光控微流体技术需要向微流体中加入其他介质，或使用特殊的微流道材料等，极大限制了微流控技术的应用范围的问题。过程为：一、计算得到不同尺寸，不同间隔以及不同材料的纳米棒阵列在不同入射激光强度和偏振方向下纳米棒阵列吸收截面，纳米棒阵列所在微流道内流体的温度场和流场分布情况；二、选取符合要求的纳米阵列；三、使用特性波长的激光照射选取的符合要求的纳米棒阵列，通过调节特性波长的激光强度和偏振方向调控微流道内流体的微流动。本发明用于微流控领域。
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公开(公告)号：CN108362733B
公开(公告)日：2020-06-09
申请号：CN201810143017.0
申请日：2018-02-11
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于锁相热波与光学层析相结合的半透明材料光热特性分布测量方法，涉及半透明材料光热物性测量技术领域。本发明为了解决目前无法准确的测量半透明材料光热特性分布的问题。本发明首先利用LIT技术识别材料中内含物位置，然后将背景材料光学和热物性赋给内含物，作为内含物的光学和热物性初始值，通过SQP算法反演初步确定的内含物的吸收系数、散射系数和导热系数；基于重建半透明材料光热特性分布的LIT‑SQP算法最终确定半透明材料光热特性分布。本发明结合了锁相技术快速定位内含物位置的优点和SQP算法准确重建材料光热特性的优点。本发明适用于半透明材料光热特性分布的测量。
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公开(公告)号：CN109632718A
公开(公告)日：2019-04-16
申请号：CN201910075887.3
申请日：2019-01-25
Applicant: 哈尔滨工业大学
CPC classification number: G01N21/47 , G01N21/59 , G01N2021/4735
Abstract: 基于时频光信息融合的弥散介质光学参数场测量装置及方法。本发明属于光学成像技术领域。现有对弥散介质吸收散射系数分布的同时重建过程中，利用单一模型的测量信号进行重建存在获得的测量数据少、光学参数场重建精度低的问题。本发明包括：利用具有微透镜阵列的光场相机分别获取调频激光与脉冲激光作用下弥散介质边界各个方向上的辐射强度信息，通过模拟调频激光作用下弥散介质内的红外辐射传输过程，初步得到频域模型下介质内部的光学参数场的重建图像，并作为时域模型的初始的光学参数场，通过模拟脉冲激光作用下弥散介质内的红外辐射传输过程，得到弥散介质的内部结构。利用本发明方法能完成高精度的光学参数场的重建。
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公开(公告)号：CN108362733A
公开(公告)日：2018-08-03
申请号：CN201810143017.0
申请日：2018-02-11
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于锁相热波与光学层析相结合的半透明材料光热特性分布测量方法，涉及半透明材料光热物性测量技术领域。本发明为了解决目前无法准确的测量半透明材料光热特性分布的问题。本发明首先利用LIT技术识别材料中内含物位置，然后将背景材料光学和热物性赋给内含物，作为内含物的光学和热物性初始值，通过SQP算法反演初步确定的内含物的吸收系数、散射系数和导热系数；基于重建半透明材料光热特性分布的LIT-SQP算法最终确定半透明材料光热特性分布。本发明结合了锁相技术快速定位内含物位置的优点和SQP算法准确重建材料光热特性的优点。本发明适用于半透明材料光热特性分布的测量。
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公开(公告)号：CN105675646B
公开(公告)日：2018-04-24
申请号：CN201610169267.2
申请日：2016-03-23
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种基于本征光热信息同时测量高温半透明介质热导率及吸收系数的方法，属于半透明介质物性测量技术领域。解决现有测量方法存在结果误差较大，并且对于温度相关热物性的反演需要更多测量信息的问题。测量过程中使用加热器将半透明介质加热至某一高温，借助探测器测量待测样品的本征温度响应以及方向辐射强度，最后通过逆问题求解技术间接得到待测样品随温度变化的热导率及谱带吸收系数。通过建立随温度变化的热导率及谱带吸收系数的半透明介质导热辐射耦合换热的正、逆问题模型，在介质其他参数已知的前提下，提出了采用微粒群优化算法同时反演高温半透明介质温度相关热导率及谱带吸收系数的方法，提高对于半透明介质热物性测量的精度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105547485B
公开(公告)日：2018-03-16
申请号：CN201510889296.1
申请日：2015-12-04
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于微透镜阵列与调制激光的火焰温度泛尺度光场探测方法，涉及高温热辐射测量技术领域。本发明是为了适应火焰光场探测中对于泛尺度分析的需求。本发明所述的基于微透镜阵列与调制激光的火焰温度泛尺度光场探测方法，利用具有微透镜阵列的光场相机获取高温火焰不同方向上的辐射强度信息，通过将调制激光照射到火焰上，由探测器接收到的介质边界上的出射光谱辐射强度通过逆问题求解得到介质的光谱辐射特性参数，结合火焰自身的出射辐射强度重建出高温火焰的三维温度场。本发明实现对高温火焰的辐射特性参数和温度场的重建，并为光场相机的标定、测量等工作提供理论基础。
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公开(公告)号：CN104181128B
公开(公告)日：2016-08-17
申请号：CN201410418533.1
申请日：2014-08-22
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N21/47
Abstract: 基于时间相关单光子计数技术的半透明材料辐射物性测量方法，涉及材料物性测量技术领域。它是为了解决传统辐射物性参数的测量物件测量过程中存在信噪比低、动态范围小的问题。本发明可以同时测量多个辐射物性，稳定性同比提高了20％，可用于航空航天、生物医疗、燃烧诊断、光学探测及无损探伤等工程领域。时间相关单光子计数技术是一种具有高时间分辨率可用于极微弱光信号探测的技术，单光子计数器具有受探测器不稳定因素的影响小、信噪比高、动态范围宽、设备便宜以及可以输出数字信号便于数据处理等优点。本发明适用于材料物性测量技术领域。
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公开(公告)号：CN105675646A
公开(公告)日：2016-06-15
申请号：CN201610169267.2
申请日：2016-03-23
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种基于本征光热信息同时测量高温半透明介质热导率及吸收系数的方法，属于半透明介质物性测量技术领域。解决现有测量方法存在结果误差较大，并且对于温度相关热物性的反演需要更多测量信息的问题。测量过程中使用加热器将半透明介质加热至某一高温，借助探测器测量待测样品的本征温度响应以及方向辐射强度，最后通过逆问题求解技术间接得到待测样品随温度变化的热导率及谱带吸收系数。通过建立随温度变化的热导率及谱带吸收系数的半透明介质导热辐射耦合换热的正、逆问题模型，在介质其他参数已知的前提下，提出了采用微粒群优化算法同时反演高温半透明介质温度相关热导率及谱带吸收系数的方法，提高对于半透明介质热物性测量的精度。
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公开(公告)号：CN105571741A
公开(公告)日：2016-05-11
申请号：CN201510889096.6
申请日：2015-12-04
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01K11/00
CPC classification number: G01K11/00
Abstract: 基于微透镜阵列与连续激光的火焰温度泛尺度光场探测方法，涉及高温热辐射测量技术领域。本发明是为了适应火焰光场探测中对于泛尺度分析的需求。本发明所述的基于微透镜阵列与连续激光的火焰温度泛尺度光场探测方法利用具有微透镜阵列的光场相机获取高温火焰不同方向上的辐射强度信息，通过将连续激光照射到火焰上，由探测器接收到的介质边界上的出射光谱辐射强度通过逆问题求解得到介质的光谱辐射特性参数，结合火焰自身的出射辐射强度重建出高温火焰的三维温度场。通过本发明能够实现对高温火焰的辐射特性参数和温度场的重建，并为光场相机的标定、测量等工作提供理论基础。
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公开(公告)号：CN105203494A
公开(公告)日：2015-12-30
申请号：CN201510607276.0
申请日：2015-09-21
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N21/3563
Abstract: 高温半透明材料折射率及吸收系数反演测量装置及方法，属于高温半透明材料热物性测量技术领域。本发明是为了解决现有半透明材料高温热辐射物性的测量方法复杂并且测量结果不可靠的问题。装置包括傅立叶红外光谱分析仪、数据处理系统、黑体光源B、旋转平台、黑体辐射加热器、黑体光源A、真空罐和循环水恒温套筒；方法首先通过实验测得指定实验温度下待测半透明材料指定方向上的光谱方向表观发射率，在此基础上通过逆问题求解方法计算得到该材料的光谱折射率和光谱吸收系数，利用该方法可以精确地计算出待测材料的光谱折射率和光谱吸收系数。本发明用于高温半透明材料的热物性测量。
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