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公开(公告)号：CN110470325A
公开(公告)日：2019-11-19
申请号：CN201910374383.1
申请日：2019-05-07
Applicant: 株式会社三丰
Inventor： 加藤庆显
IPC: G01D5/245
Abstract: 提供了一种电磁感应编码器，其允许减小标尺上的轨道的数目，以减小标尺的尺寸。电磁感应编码器包括具有标尺图案的标尺、头部和计算单元。头部包括发送单元和接收单元，发送单元包括发送线圈，接收单元包括接收线圈。标尺图案具有第一图案和第二图案，第一图案使得接收线圈接收正电流，第二图案使得接收线圈接收负电流。计算单元包括：确定单元，其当检测到正电流时确定电流与第一图案相关联，并且当检测到负电流时确定电流与第二图案相关联；信号生成单元，其基于确定的结果生成由表示第一图案的“1”和表示第二图案的“0”形成的信号；以及位置计算单元，其基于由信号生成单元生成的信号计算头部的位置。
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公开(公告)号：CN110319860A
公开(公告)日：2019-10-11
申请号：CN201910256052.8
申请日：2019-04-01
Applicant: 株式会社三丰
Inventor： T.S.库克
IPC: G01D5/249
Abstract: 一种电子位置编码器包括：标尺，包括具有沿y轴线方向的轨道宽度尺寸，该y轴线方向垂直于x轴线测量轴线方向；检测器；和信号处理结构。检测器包括固定在多层印刷电路板(PCB)上的磁场产生线圈结构，其包括磁场产生线圈部分，该磁场产生线圈部分围绕对准图案轨道的内部区域且包括具有沿y轴线方向的迹线宽度的第一和第二窄长部分，其为内部区域的y轴线宽度的至少0.1倍。检测器包括沿x轴线方向布置且固定在PCB上的导电接收器环圈。至少使用PCB的内部铜层制造第一和第二窄长部分，且使用至少一个铜层制造导电接收器环圈，该至少一个铜层比内部铜层更靠近检测器的面对标尺图案的前表面。
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公开(公告)号：CN107367817B
公开(公告)日：2019-10-11
申请号：CN201710304253.1
申请日：2017-05-03
Applicant: 株式会社三丰
Inventor： R.K.布里尔
Abstract: 一种用于确定成像的表面的表面Z高度测量的可变焦距(VFL)透镜系统。所述系统的控制器配置为控制VFL透镜(例如，可调谐声学梯度折射率透镜)以周期性地调制其光功率，从而以第一操作频率周期性地调制聚焦位置，其中周期性调制的VFL透镜光功率定义第一周期性调制相位。相位定时信号与该控制器中的具有第一操作频率以及具有第二周期性调制相位的周期信号同步，所述第二周期性调制相位相对于第一周期性调制相位具有相位偏移。相位偏移补偿部分配置为执行相位偏移补偿处理，其提供Z高度测量，其中至少部分地消除与相位偏移贡献相关的Z高度误差或Z高度变化中的至少一个。
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公开(公告)号：CN106969711B
公开(公告)日：2019-10-11
申请号：CN201610868420.0
申请日：2016-09-29
Applicant: 株式会社三丰
Inventor： 菊池一志
Abstract: 提供一种直线位移测量装置，其在被不良安装时通知使用者。滑动件包括沿着主标尺在主标尺上行进的行进体、安装于对象物的滑架部和连结行进体与滑架部的连结部件。连结部件允许行进体与滑架部之间相对位移，并且连结部件对行进体朝向主标尺施力。连结部件具有连接杆，连接杆配置成经由球接头连结行进体与滑架部。滑动件还包括检测行进体与滑架部之间的超出了预定的允许范围的相对位移的未对准检测部件。未对准检测部件为配置于连接杆的附近使得连接杆的位移被限制在预定范围内的一对突片。
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公开(公告)号：CN110300255A
公开(公告)日：2019-10-01
申请号：CN201910216554.8
申请日：2019-03-21
Applicant: 株式会社三丰
IPC: H04N5/232
Abstract: 一种信息处理装置，包括：获取单元，被配置为获取手动拍摄的对象图像组，所述手动拍摄的对象图像组包括多个对象图像，所述多个对象图像是通过在手动移动图像拾取设备的焦点位置的同时拍摄对象的图像而生成的；第一计算器，能够基于关于所获取的手动拍摄的对象图像组中的多个对象图像的多个对比度信息，通过使用预定的函数进行拟合来计算图像拾取设备相对于对象的第一对焦位置；以及驱动器，能够基于用户输入的自动聚焦指令将图像拾取设备的焦点位置移动到计算出的第一对焦位置。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110243282A
公开(公告)日：2019-09-17
申请号：CN201910173447.1
申请日：2019-03-07
Applicant: 株式会社三丰
Abstract: 本发明提供一种干涉测量光学装置，其用于测量圆筒形对象物的弯曲壁形状，该干涉测量光学装置包括：干涉测量光学系统，其将测量光发射在对象物的弯曲壁处，收集对象物反射的光，并生成用于合成反射的光和参考光的合成波；转动驱动组件，其连接到干涉测量光学系统，并且使干涉测量光学系统以与对象物的圆筒形的中心轴一致的转动轴为中心转动移动；传感器，用于使用二维排列的多个感光器元件来获取合成波的强度的二维分布；以及计算装置，用于基于在转动驱动机构的转动角度变化的状态下所获取到的多个二维分布来计算对象物的弯曲壁形状。
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公开(公告)号：CN110044296A
公开(公告)日：2019-07-23
申请号：CN201910045028.X
申请日：2019-01-17
Applicant: 株式会社三丰
Inventor： 酒井裕志
Abstract: 本发明提供3D形状的自动跟踪方法和测量机。在第一过程中，将操作者最初设定的一处基准视场设为原点来进行编号。在第二过程中，在对与基准视场相邻的场所进行编号之后，将测量范围依次自动移动到被编号后的位置并在该位置执行测量来确认形状数据的存在，保存测量结果并记录有无形状数据。在第三过程中，将存在形状数据的视场设为下一个基准视场，在对与基准视场相邻的场所进行编号之后，将测量范围依次自动移动到除已经测量完毕或不存在形状数据的位置以外的位置并在该位置执行测量来确认形状数据的存在，保存测量结果并记录有无形状数据。在第四过程中，重复该第三过程，当没有未测量的位置时，判断为对连续的形状整体完成了测量。
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公开(公告)号：CN110032306A
公开(公告)日：2019-07-19
申请号：CN201910028062.6
申请日：2019-01-11
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G06F3/0481 , G06F3/0484 , G06F3/0488
Abstract: 本发明涉及位置指定方法以及存储介质。通过以下步骤进行指定：获取开始探测到对触摸面板显示器的接触位置时的初始接触位置；在与初始接触位置相应的位置显示位置显示光标；在接触位置到达距初始接触位置规定距离的位置前，在持续探测到接触位置的期间在与初始接触位置相应的位置显示位置显示光标，并且在结束了接触位置探测的情况下不进行位置指定就结束位置显示光标的显示；在到达规定距离的位置后，在持续探测到接触位置的期间以追随接触位置的移动的方式显示位置显示光标，以维持到达规定距离的位置时的位置显示光标与接触位置的相对位置关系，并且在探测到位置指定确定操作的情况下将此时显示有位置显示光标的位置设为指定位置。
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公开(公告)号：CN109990812A
公开(公告)日：2019-07-09
申请号：CN201811620246.3
申请日：2018-12-28
Applicant: 株式会社三丰
Inventor： J.D.托比亚森
IPC: G01D5/347
Abstract: 提供了一种用于提供位移信号的抗污染和缺陷的旋转光学编码器构造，其包括旋转标尺、照明源和光检测器构造。照明源构造为在第一照明区域处将准直光输出到标尺，该光随后在第二照明区域处输出至标尺，标尺从该第二照明区域输出形成检测器条纹图案的标尺光，该检测器条纹图案包括周期性的高强度带和低强度带，其沿旋转测量方向在相对较长的尺寸上延伸，并且沿横向于旋转测量方向的检测到的条纹运动方向相对较窄且呈周期性。随着标尺光栅沿旋转测量方向移位，高强度带和低强度带沿检测到的条纹运动方向移动。光检测器构造被构造为检测高强度带和低强度带的位移，并且提供指示该旋转标尺位移的相应的空间相位位移信号。
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