X射线分析装置
    11.
    发明公开
    X射线分析装置 审中-公开

    公开(公告)号:CN119880975A

    公开(公告)日:2025-04-25

    申请号:CN202410966461.8

    申请日:2024-07-18

    Abstract: 提供一种X射线分析装置,具有:送出部(2),其将试样(S)以恒定的送出速度连续地向下游侧送出;异物检查分析部(10),其进行被送出的试样中的异物的检查和分析;以及收卷部(7),其对通过异物检查分析部后的试样进行收卷,异物检查分析部具备:异物位置检测部(3),其检测被送出而正在进行移动的试样中的异物的位置;间歇输送部(4),其在检测到异物时使试样中的检测到异物的部分在比异物位置检测部靠下游处间歇地停止或者使其移动速度成为比送出速度慢的速度;以及X射线分析部(5),其对停止或者成为慢速的检测到异物的部分照射X射线来进行分析,间歇输送部在分析后将停止或者成为慢速的检测到异物的部分向收卷部排出。

    X射线透射检查装置
    12.
    发明授权

    公开(公告)号:CN107782750B

    公开(公告)日:2021-10-12

    申请号:CN201710717081.0

    申请日:2017-08-21

    Inventor: 高原稔幸

    Abstract: 提供X射线透射检查装置,其能够容易地进行基于标准试样的调整。该X射线透射检查装置具有:X射线源(2),其对试样S1照射X射线;试样移动机构,其在来自X射线源的X射线的照射中使试样向特定方向连续移动;X射线检测器(4),其相对于试样设置于与X射线源相反的一侧,检测透射过试样的X射线;标准试样移动机构(5),其能够使设置于不同于试样的位置的标准试样S2移动;以及配置变更机构(6),其能够使X射线源和X射线检测器与试样和标准试样相对移动,能够将X射线源和X射线检测器从与试样对置的配置状态变更到与通过标准试样移动机构移动的标准试样对置的配置状态。

    荧光X射线分析装置
    13.
    发明公开

    公开(公告)号:CN105277579A

    公开(公告)日:2016-01-27

    申请号:CN201510321618.2

    申请日:2015-06-12

    Abstract: 本发明涉及荧光X射线分析装置。提供一种能够简便地进行与测定通常的样品的情况相同的条件下的校正测定的荧光X射线分析装置。所述荧光X射线分析装置具备:X射线源;用于对将来自该X射线源的X射线作为一次X射线照射到样品的区域进行限制的照射区域限制单元;用于检测从样品产生的二次X射线的检测器;用于对包含X射线源、照射区域限制单元和检测器的装置进行校正的校正用样品;用于在作为保持该校正用样品并且从所述一次X射线的路径偏离的任意的位置的退避位置和照射从照射区域限制单元射出的X射线的一次X射线照射位置这2个位置之间移动的校正样品移动机构;以及载置样品的样品台,校正样品移动机构为与所述样品台独立的机构。

    荧光X射线薄膜厚度测量仪
    14.
    外观设计

    公开(公告)号:CN303506184S

    公开(公告)日:2015-12-16

    申请号:CN201530192884.0

    申请日:2015-06-12

    Abstract: 1.本外观设计产品的名称:荧光X射线薄膜厚度测量仪。2.本外观设计产品的用途:本外观设计产品用于通过使用设置在检测室内的X射线照射器所射出的X射线,可以检测半导体、电子产品以及印刷电路板等使用的电镀或蒸镀的金属薄膜的厚度及组成。3.本外观设计产品的设计要点:本外观设计产品的形状。4.最能表明本外观设计设计要点的图片或照片:立体图。5.在示出各部名称参考图中,B-电源按钮,C-键式开关,D-开闭盖,E-指示部,F-检测室。在示出透明部分参考图和示出各部名称参考图中,斜线部分为透明。

    荧光X射线薄膜厚度测量仪
    15.
    外观设计

    公开(公告)号:CN303622154S

    公开(公告)日:2016-03-23

    申请号:CN201530189930.1

    申请日:2015-06-11

    Abstract: 1.本外观设计产品的名称:荧光X射线薄膜厚度测量仪。2.本外观设计产品的用途:本外观设计产品用于通过使用设置在检测室内的X射线照射器所射出的X射线,可以检测半导体、电子产品以及印刷电路板等使用的电镀或蒸镀的金属薄膜的厚度及组成。3.本外观设计产品的设计要点:本外观设计产品的形状。4.最能表明本外观设计设计要点的图片或照片:立体图。5.在示出各部名称参考图中,B-电源按钮,C-键式开关,D-开闭盖,E-指示部,F-检测室。在示出透明部分参考图和示出各部名称参考图中,斜线部分为透明。

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