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公开(公告)号：CN112735981A
公开(公告)日：2021-04-30
申请号：CN202011601793.4
申请日：2020-12-29
申请人： 北京振兴计量测试研究所
IPC分类号： H01L21/67
摘要： 本发明公开了一种芯片注塑封装的金属陶瓷封装晶体振荡器的开封方法，属于电子元器件开封技术领域，解决了现有技术中无法保证内部结构完整、开封效率低等问题。一种芯片注塑封装的金属陶瓷封装晶体振荡器的开封方法，其特征在于，所述晶体振荡器包括芯片腔体和晶片腔体，所述晶片腔体设置在芯片腔体上，并通过焊点连接；所述晶片腔体包括金属盖板和下腔体，所述晶片设置在金属盖板与下腔体形成的空间内；芯片和键合丝通过注塑封装设置在芯片腔体内；所述芯片腔体开封时，先使用酒精灯外焰对芯片腔体注塑区域进行加热，然后采用腐蚀剂进行化学开封。本发明适用于晶体振荡器的开封。
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公开(公告)号：CN111813616A
公开(公告)日：2020-10-23
申请号：CN202010642041.6
申请日：2020-07-06
申请人： 北京振兴计量测试研究所
IPC分类号： G06F11/26
摘要： 本发明涉及一种基于测试台的多端口UART通用功能测试方法，属于电子元器件检测技术领域，解决了现有技术难以实现准确、简单的UART通用功能测试的问题。该方法包括如下步骤：连接待测UART芯片与所述测试台，并进行连接测试，若连接测试通过，则利用所述测试台初始化所述待测UART芯片；利用所述测试台对初始化后的待测UART芯片进行功能测试，其中，所述功能测试包括自动硬件流量控制功能测试；以及所述功能测试还包括数据接收功能测试、数据发送功能测试和回环功能测试中的一个或多个。
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公开(公告)号：CN111641544A
公开(公告)日：2020-09-08
申请号：CN202010575475.9
申请日：2020-06-22
申请人： 北京振兴计量测试研究所
摘要： 本发明涉及一种CAN总线控制器并行测试系统，属于电子元器件检测技术领域，解决了现有CAN总线控制器测试无法实现真实工作状态考量、调试和编写测试PATTERN繁琐、难度大的问题。系统包括：测试机台、多个CAN节点、通道控制组件；每个CAN节点均包括一个CAN总线控制器和一个CAN总线收发器，多个CAN总线收发器的CANL和CANH分别相连形成CAN总线；测试机台基于不同的测试模式配置多个CAN总线控制器，并监控其状态，得到测试结果；CAN总线控制器的配置端口与测试机台的数字通道相连；通道控制组件基于不同的测试模式控制第一通道和第二通道的切换；第一通道中CAN总线控制器的TX、RX端口与CAN总线收发器相连；第二通道中CAN总线控制器的TX、RX端口与测试机台的数字通道相连。
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公开(公告)号：CN221485536U
公开(公告)日：2024-08-06
申请号：CN202322922330.3
申请日：2023-10-30
申请人： 北京振兴计量测试研究所
IPC分类号： G01R31/00
摘要： 本发明提供一种单通道光耦的板卡级应用验证装置，包括测试板卡、输入单元、外围设备和控制单元，测试板卡包括电源表输入/输出信号接口和外围应用电路，待验证元器件安装在测试板卡上，电源表为测试板卡上的器件供电，外围应用电路将输出信号接口一端与待验证元器件连接另一端与对应的外围设置连接，将输入单元与输入信号接口连接；外围设备获取需要验证的技术指标，控制单元与外围设备和输入单元连接，通过NI库识别外围设备和输入单元的物理地址，实现控制单元、外围设备和输入单元的网络连接。本实用新型提高测试效率的同时，减少了人为操作引入的误差。
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