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公开(公告)号：CN110658169B
公开(公告)日：2021-05-14
申请号：CN201910975428.0
申请日：2019-10-14
申请人： 厦门大学
摘要： 基于高光谱的荧光粉发光特性透射式测试装置和方法，涉及发光器件领域，包括LED激发光源、荧光粉片、三维控制台、恒流源、控温模块、显微镜、高光谱仪和计算机；LED激发光源设于三维控制台上；恒流源连接LED激发光源；控温模块设于三维控制台上；荧光粉片置于LED激发光源的正上方；显微镜设于荧光粉片的上方；高光谱仪设于显微镜的上方，高光谱仪用于收集和处理显微镜透过的光并得到高光谱数据；计算机连接高光谱仪，计算机用于将接收的高光谱数据进行计算得到二维几何空间的荧光粉光学参数。可精确得到荧光粉像素级别的发光图像以及获得相应像素点上的光谱数据，从而精确地得到荧光粉微米尺度空间上发光特性。
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公开(公告)号：CN110057466B
公开(公告)日：2020-03-20
申请号：CN201910367131.6
申请日：2019-05-05
申请人： 厦门大学
IPC分类号： G01K11/32
摘要： 一种基于LED荧光发射光谱的表面温度测量方法，涉及发光二极管表面温度的测量方法领域，包括以下步骤：(1)将荧光材料归一化后的发射光谱先进行区域划分再对各区域积分，所得到的荧光材料发射功率记为Pe；(2)测试各积分区域发射功率Pe受电流影响的程度，选取受电流影响程度最小的积分区域为检测区域；(3)以额定电流值的1％～3％为小电流为LED样品供电，并用光谱仪采集荧光材料的发射光谱，建立检测区域的发射功率Pe与荧光材料温度T的线性关系；(4)在LED样品的实际工作状态下，将检测区域的发射功率Pe值带入到Pe与T的关系式中，即可得到荧光材料的表面温度。本发明采用非接触式方法测量荧光材料的表面温度，不受LED器件封装的影响，可靠性高。
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公开(公告)号：CN109186946B
公开(公告)日：2019-11-08
申请号：CN201811119101.5
申请日：2018-09-25
申请人： 厦门大学
IPC分类号： G01M11/00
摘要： 发光器件微区光度和色度学参数的测量方法及其测量装置，涉及发光器件光度和色度学参数测量领域。发光器件微区光度和色度学参数的测量装置包括辐亮度光源校准系统和显微高光谱成像测试系统，辐亮度光源校准系统包括光谱仪、光谱辐亮度探头、积分球和卤钨灯光源；所述显微高光谱成像测试系统包括高光谱成像仪、显微镜、控温电源和驱动电源；首先获取均匀发光平面的光谱辐亮度分布校准文件，然后校准显微高光谱成像测试系统，最后测试并计算待测样品的光度和色度参数；本发明可解决发光器件或微显示阵列的二维表面光度、色度学及均匀性测量分析问题，快速全面检测器件发光质量。
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公开(公告)号：CN106199371B
公开(公告)日：2019-07-26
申请号：CN201610884239.9
申请日：2016-10-11
申请人： 厦门大学
摘要： 利用交流脉冲测量AC‑LED热阻和结温的方法及装置，涉及交流发光二极管热阻和结温测试。利用交流脉冲测量AC‑LED热阻和结温的装置设有信号发生器、电压/电流放大器、示波器、控温台、电流/电压探头、积分球、光谱仪；信号发生器的输出端接电压/电流放大器的输入端，电压/电流放大器的输出端接待测AC‑LED，待测AC‑LED固定在控温台上，电流/电压探头接控温台，电流/电压探头的信号输出端接示波器，积分球与待测AC‑LED连接，积分球的光功率输出端接光谱仪。利用正负窄脉冲对结温几乎不影响，对比相同幅值的方波信号，调整热沉温度使两者幅值相等，确定热沉与PN结温差及热阻。
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公开(公告)号：CN109186946A
公开(公告)日：2019-01-11
申请号：CN201811119101.5
申请日：2018-09-25
申请人： 厦门大学
IPC分类号： G01M11/00
摘要： 发光器件微区光度和色度学参数的测量方法及其测量装置，涉及发光器件光度和色度学参数测量领域。发光器件微区光度和色度学参数的测量装置包括辐亮度光源校准系统和显微高光谱成像测试系统，辐亮度光源校准系统包括光谱仪、光谱辐亮度探头、积分球和卤钨灯光源；所述显微高光谱成像测试系统包括高光谱成像仪、显微镜、控温电源和驱动电源；首先获取均匀发光平面的光谱辐亮度分布校准文件，然后校准显微高光谱成像测试系统，最后测试并计算待测样品的光度和色度参数；本发明可解决发光器件或微显示阵列的二维表面光度、色度学及均匀性测量分析问题，快速全面检测器件发光质量。
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公开(公告)号：CN106770988A
公开(公告)日：2017-05-31
申请号：CN201710154357.9
申请日：2017-03-15
申请人： 厦门大学
IPC分类号： G01N33/00
CPC分类号： G01N33/00
摘要： 基于量子点的强极性溶剂快速检测装置，涉及传感器。设有量子点复合膜和承载板，量子点复合膜为包覆量子点的高分子聚合物薄膜，量子点具有钙钛矿结构，其化学式为ABX(m)Y(3‑m)(A＝CH3NH3+，HC(NH2)2+；B＝Pb2+，Sn2+；X，Y＝Br─，Cl─，I─，0≤m≤3)，量子点复合膜贴合于承载板的上表面，承载板包括金属反光层、壳体和控温模块，金属发光层设置于贴合量子点复合膜的壳体外表面，控温模块包括工作介质模块和控制模块，工作介质模块设置于壳体内部，控制模块设置于壳体外部，所述壳体具有良好的导热能力以便通过操作控温模块工作介质模块能够改变量子点复合膜的温度。
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公开(公告)号：CN109951948B
公开(公告)日：2024-07-05
申请号：CN201910217412.3
申请日：2019-03-21
申请人： 厦门大学
IPC分类号： H05K1/02
摘要： 本发明提供了一种板级安规绝缘方案，包括PCB板，所述PCB板上设置有一次侧高压电路功能模块、安全特低电压电路功能模块及接地系统；所述接地系统设置于所述一次侧高压电路功能模块与安全特低电压电路功能模块之间；所述一次侧高压电路功能模块与安全特低电压电路功能模块之间设置为加强绝缘处理，所述一次侧高压电路功能模块与接地系统之间做基本绝缘处理，所述安全特低电压电路功能模块与接地系统之间做功能绝缘处理。应用本技术方案可实现给电路组件提供一个良好的安规绝缘距离效果。
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公开(公告)号：CN118071691A
公开(公告)日：2024-05-24
申请号：CN202410126788.4
申请日：2024-01-30
申请人： 厦门大学
摘要： 本发明公开了一种基于边缘检测技术的喷墨打印图像处理方法及系统，方法包括以下步骤：采用显微镜对喷墨打印图像进行观测和捕获，并利用Open CV图像技术对显微镜采集图像进行识别，获取待处理图像；对待处理图像进行预处理，获得预处理图像；采用边缘检测算子提取预处理图像的图像边缘；利用Hough算法对图像边缘进行图形识别，得到图案尺寸信息；对显微镜采集图像的像素坐标和喷墨打印图像的实际尺寸进行校准和比例换算，将图案尺寸信息的像素单位转换为尺寸单位。本发明提出了一种基于边缘检测技术的喷墨打印图像处理系统与方法，具有快速、准确、直观等优势，能够很好的应用于喷墨打印领域，弥补该领域在系统快速检测和评估喷墨打印效果上的空白。
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公开(公告)号：CN115763518A
公开(公告)日：2023-03-07
申请号：CN202211444320.7
申请日：2022-11-18
申请人： 厦门大学
摘要： 本发明公开了一种基于微流控技术的高品质Micro‑LED全彩显示器件及制备方法，于透明基底上形成图案化金属层，图案化金属层具有阵列排布的透光开口，利用阵列化透光的金属层作为量子点沉积区域，并通过微流控芯片技术对不同的阵列填充红色和绿色量子点，作为红色和绿色子像素色转换层，再与蓝光Micro‑LED键合制备Micro‑LED全彩显示器件，子像素点之间的金属层为不透光材质，子像素点之间的红、绿、蓝光只能从预设的阵列区域透射出来，降低相同颜色和不同颜色子像素点发射的光之间的窜扰，提升Micro‑LED器件的光品质。
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公开(公告)号：CN113551797A
公开(公告)日：2021-10-26
申请号：CN202110860649.0
申请日：2021-07-28
申请人： 厦门大学
IPC分类号： G01K11/12
摘要： 一种LED荧光粉表面二维温度分布的测试方法，包括以下步骤：1)将荧光粉涂敷型LED放置在控温台上，控制控温台的温度至少取3个温度点，同时给样品通以小电流点亮；2)通过高倍数显微镜对测试样品进行聚焦，通过光纤光谱仪结合高倍显微镜收集每个像素点的光谱，并计算每个像素点可见光波长[λ1,λ2]范围内的归一化荧光粉光谱，获取每个像素点归一化光功率；3)通过对多组温度下的多个光谱图像分别进行每个像素点位置的最小二乘法线性处理，获得校准系数和截距；4)以额定电流点亮样品，重复步骤2)，根据归一化光功率和斜率求得荧光粉表面温度矩阵；最后，进行降噪处理及修复异常点，最终获取准确的荧光粉表面二维温度分布。
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