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公开(公告)号：CN114455286A
公开(公告)日：2022-05-10
申请号：CN202210224618.0
申请日：2022-03-07
Applicant: 厦门威芯泰科技有限公司
IPC: B65G47/22
Abstract: 本发明公开了一种运动机构及机械设备，其中运动机构包括基座、第一转动件、第一连杆、第二转动件、第二连杆和第三转动件，通过第二转动件的第一工作位和第三转动件的第二工作位均可位于第二位置，从而均能够对对应第二位置的工位进行工作；通过第一轴线与第二轴线的连线和第三轴线与第四轴线的连线平行，第一轴线与第四轴线的连线和第三轴线与第二轴线的连线平行；第四轴线与第五轴线的连线和第六轴线与第七轴线的连线平行，且第四轴线与第六轴线的连线和第五轴线与第七轴线的连线平行，从而保证第一工作位和第二工作位的呈现的形态不变化，提高工作效率。
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公开(公告)号：CN116818782A
公开(公告)日：2023-09-29
申请号：CN202310543234.X
申请日：2023-05-15
Applicant: 厦门威芯泰科技有限公司
Abstract: 本发明涉及图像检测和处理技术领域，具体涉及到一种用于检测镜头类外观缺陷的AOI检测设备。本申请的一种用于检测镜头类外观缺陷的AOI检测设备，通过在机架上安装传送机构、上料机构、视觉检测机构、下料机构，上料机构上设上料搬运机构；视觉检测机构包括正面检测机构、侧面检测机构，并在侧面检测机构上设侧面检测搬运机构；下料机构包括下料同步移载机构、下料分拣机构、下料正面面阵机构，且下料同步移载机构与侧面检测机构相对接；传送机构包括第一传送模组、第二传送模组，第一传送模组与上料机构相对接；第二传送模组与正面检测机构相对接，从而实现镜头类产品外观缺陷的自动化检测，提高检测效率，降低人工误检和漏检等风险。
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公开(公告)号：CN112986258A
公开(公告)日：2021-06-18
申请号：CN202110177653.7
申请日：2021-02-09
Applicant: 厦门威芯泰科技有限公司
Inventor： 王磊
Abstract: 本发明公开一种表面缺陷检测装置和判断表面缺陷所在表面的方法，所述装置用于检测相对其沿第一方向运动的透明待测物体上的表面缺陷，其包括两个光源和两个相机；两个光源关于待测物体表面的法平面对称且均斜射待测物体表面以在待测物体表面形成重合的照射区；两个相机均为线扫相机且均位于两个光源的暗场，其光轴分别与待测物体表面具有垂直相交和倾斜相交关系且在照射区内相交于同一交点并共同界定出垂直于所述法平面的平面；所述方法基于所述装置并根据同一表面缺陷在两个相机的合成图像中显现出的缺陷像的对应关系判断该表面缺陷所在表面，尤其适用于沿所述第一方向具有一定尺度的表面缺陷。
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公开(公告)号：CN112986258B
公开(公告)日：2023-12-22
申请号：CN202110177653.7
申请日：2021-02-09
Applicant: 厦门威芯泰科技有限公司
Inventor： 王磊
Abstract: 本发明公开一种表面缺陷检测装置和判断表面缺陷所在表面的方法，所述装置用于检测相对其沿第一方向运动的透明待测物体上的表面缺陷，其包括两个光源和两个相机；两个光源关于待测物体表面的法平面对称且均斜射待测物体表面以在待测物体表面形成重合的照射区；两个相机均为线扫相机且均位于两个光源的暗场，其光轴分别与待测物体表面具有垂直相交和倾斜相交关系且在照射区内相交于同一交点并共同界定出垂直于所述法平面的平面；所述方法基于所述装置并根据同一表面缺陷在两个相机的合成图像中显现出的缺陷像的对应关系判断该表面缺陷所在表面，尤其适用于沿所述第一方向具有一定尺度的表面缺陷。
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公开(公告)号：CN116858846A
公开(公告)日：2023-10-10
申请号：CN202310543232.0
申请日：2023-05-15
Applicant: 厦门威芯泰科技有限公司
IPC: G01N21/89 , G01N21/892 , G01N21/01 , G01N35/10 , G01N35/00 , B07C5/02 , B07C5/34 , B07C5/36 , B08B1/00 , B08B3/08
Abstract: 本发明涉及电路板检测技术领域，具体涉及到一种用于检测电路板的AOI检测装置。本申请的用于检测电路板的AOI检测装置，通过在机架上依次安装上料机构、清洁机构、AOI检测机构、下料机构，同时在上料机构与清洁机构间安装机械手机构一；在清洁结构上安装中转载台一、捞抓组件、移动模组一，在AOI检测机构上安装中转载台二、机械手机构二、若干个检测工位；在下料机构上安装中转载台三、机械手机构三、OK料置放位、NG料置放位，从而实现电路板外观缺陷的自动化检测，提升检测效率，极大地降低了人工误检和漏检等风险，避免将坏板送到装配阶段，造成批量性缺陷，导致经济损失巨大。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN116337764A
公开(公告)日：2023-06-27
申请号：CN202310321417.7
申请日：2023-03-29
Applicant: 厦门威芯泰科技有限公司
Abstract: 本发明公开了一种移载旋转装置及检测装置，移载装置包括治具和驱动装置，治具包括座体、连接件、顶块和复位件，座体适于相对基座运动，连接件与基座转动连接；连接件设有第一配合部和至少一个第二配合部；顶块滑动于第一位置和第二位置，顶块设有第三配合部和第四配合部，第四配合部在第一位置时与第二配合部止转配合，并至第二位置时远离第二配合部；复位件位于移载件与顶块间；驱动装置包括第一驱动件、第二驱动件和推块，第一驱动件驱动第二驱动件和推块运动以使第二驱动件的输出端与第一配合部止转配合并使推块通过与第三配合部配合驱动顶块运动至第二位置，第二驱动件驱动连接件带动工件转动。能实现连接件的锁定和解锁，且成本低。
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公开(公告)号：CN106353340B
公开(公告)日：2019-07-16
申请号：CN201610905045.2
申请日：2016-10-18
Applicant: 厦门威芯泰科技有限公司
IPC: G01N21/952
Abstract: 本发明提出一种棒状高反射率零件表面缺陷检测方法，涉及表面缺陷检测技术领域，检测步骤如下：1)开启主光源照明，采集得到待检零件第一图像；2)保持第一光源开启状态并同时打开第二光源，采集得到待检零件第二图像；3)对通过步骤1)采集得到的第一图像进行处理，分割提取出待检零件的棒状区域并确定检测区域；4)在通过步骤3)提取得到的棒状区域中对于通过步骤2)采集获得的第二图像进行图像处理，分析检测其表面质量。本发明能够克服棒状高反射率零件表面不均匀的反光造成的机器视觉检测障碍，算法简单，检测高效，可实现对棒状高反射率零件表面的多种不良缺陷的精确检测。
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公开(公告)号：CN106323987A
公开(公告)日：2017-01-11
申请号：CN201610870870.3
申请日：2016-09-30
Applicant: 厦门威芯泰科技有限公司
CPC classification number: G01N21/8806 , G01N21/95 , G01N2021/8816 , G01N2201/06153 , G01N2201/0631 , G01N2201/0634
Abstract: 本发明提出一种用于检测高反射表面缺陷的照明光源，涉及一种机器视觉用照明光源，包括环形照明腔和穹顶照明腔，所述穹顶照明腔设置于所述环形照明腔正上方，待检测目标放置在所述环形照明腔内，所述穹顶照明腔的腔顶部设有LED光源，所述穹顶照明腔的腔顶部及所述环形照明腔的侧壁均设有观察口，每个所述观察口外均设有半透半反镜，所述半透半反镜与漫射LED光源对应，所述漫射LED光源的光束通过所述半透半反镜反射进入所述观察口，所述LED光源和所述漫射LED光源均由多通道光源控制器控制。本发明可对任意形状的高反射表面形成均匀明亮照明，极大提高了高反射表面缺陷检测的精度和分辨率。
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公开(公告)号：CN114839191B
公开(公告)日：2025-05-02
申请号：CN202210338894.X
申请日：2022-04-01
Applicant: 厦门威芯泰科技有限公司
Abstract: 本发明公开了一种待测物载具，其包括基座和面盖，基座沿第一方向设有凸块和围绕凸块的真空槽，其还设有第一通道和第二通道，凸块设有用于承载待测物的承载面，第一通道供真空槽连通外接真空源，第二通道连通真空槽并开口于承载面；凸块和第二通道分别被配置为其在第一平面上的投影适于位于非检测区域内；真空槽被配置为第一检测区域适于位于其在第一平面上的投影内；第一通道被配置为其在第一平面上的投影位于待测物在第一平面上的投影外；面盖密封地盖设于真空槽上并与真空槽围合形成真空腔；真空槽和面盖于第一平面上投影与第一检测区域重合的部分被配置为适于供光线透射。防止面盖变形，防止待测物损坏。
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公开(公告)号：CN116263319A
公开(公告)日：2023-06-16
申请号：CN202111527124.1
申请日：2021-12-14
Applicant: 厦门威芯泰科技有限公司
IPC: G01B11/00
Abstract: 本发明公开了一种利用机器视觉测量待测物体沿特定方向尺寸的方法，其通过设置一沿第一方向布设有距离为第一基准距离的第一校正点和第二校正点的校正基准件，再依据拼接图像中第一校正点和第二校正点的第一校正距离，即可对通过拼接图像获得的待测物体在第一方向上的第一尺寸进行校正，并得到待测物体的实际尺寸。
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