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公开(公告)号：CN116112005A
公开(公告)日：2023-05-12
申请号：CN202211724743.4
申请日：2022-12-30
申请人： 成都电科星拓科技有限公司
摘要： 本发明提供了一种DTC延迟单元的延迟测量方法、设备及存储介质，采用使能信号控制是否对DTC延迟单元的延迟进行测量，在确认进行测量时，通过步进扫描的方式生成信号完成DTC中延迟单元延迟的测量。本发明提出的延迟测量方法能够有效且准确的测量DTC的单元延迟，在传统全数字锁相环电路中，并没有出现该种测量方式。
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公开(公告)号：CN116225372B
公开(公告)日：2024-09-13
申请号：CN202310180153.8
申请日：2023-02-28
申请人： 成都电科星拓科技有限公司
IPC分类号： G06F7/58
摘要： 本发明提供了一种均匀分布的抖动伪随机数生成方法，在至少两种PRBS结构产生的伪随机数中，选取N个比特值，将N个比特重新组合为一个N比特数，以N比特数的取值范围建立查找表，实现所需分布的伪随机数的均匀分布；其中，查找表中每一N比特数取值对应有抖动输出值。本发明利用多个PRBS产生伪随机数，并采用重组的形式重新生成伪随机数，满足抖动所需的0均值，且输出的相同正负值均匀分布的要求。
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公开(公告)号：CN117792387B
公开(公告)日：2024-04-30
申请号：CN202410207578.8
申请日：2024-02-26
申请人： 成都电科星拓科技有限公司
摘要： 本发明公开了一种锁相装置。为解决芯片间的差异性和温度覆盖范围窄的技术问题，本发明锁相装置包括全数字锁相环、仿真值查找表和温度传感器，所述温度传感器包括环形振荡器；所述全数字锁相环包括捕获电容阵列；当锁相装置上电时，从所述仿真值查找表中查找校正变量，并根据所述校正变量对所述温度传感器校正；当所述温度传感器完成校正后，根据温度传感器输出的对参考时钟的计数，获得与温度成正比的计数值，并根据该计数值设定捕获电容阵列控制字为初值。本发明通过上电时自动校正温度传感器并设定捕获电容阵列控制字初值，解决了芯片差异性和温度覆盖范围窄的技术问题，最大化了锁相装置温度覆盖范围。
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公开(公告)号：CN116094518B
公开(公告)日：2024-04-05
申请号：CN202211724759.5
申请日：2022-12-30
申请人： 成都电科星拓科技有限公司
摘要： 本发明提供了一种高精度全数字锁相环环路的复位方法，采用异步复位、分步释放的方式对高精度全数字锁相环环路中各模块进行复位控制，先完成开环模块的复位解除，由状态机进入开环流程，完成校正增益，之后再完成闭环模块的复位状态解除。本发明提出的复位方法能够保证高精度全数字锁相环的各阶段保证该阶段的相位刚好对齐，不会产生不必要毛刺。
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公开(公告)号：CN117792387A
公开(公告)日：2024-03-29
申请号：CN202410207578.8
申请日：2024-02-26
申请人： 成都电科星拓科技有限公司
摘要： 本发明公开了一种锁相装置。为解决芯片间的差异性和温度覆盖范围窄的技术问题，本发明锁相装置包括全数字锁相环、仿真值查找表和温度传感器，所述温度传感器包括环形振荡器；所述全数字锁相环包括捕获电容阵列；当锁相装置上电时，从所述仿真值查找表中查找校正变量，并根据所述校正变量对所述温度传感器校正；当所述温度传感器完成校正后，根据温度传感器输出的对参考时钟的计数，获得与温度成正比的计数值，并根据该计数值设定捕获电容阵列控制字为初值。本发明通过上电时自动校正温度传感器并设定捕获电容阵列控制字初值，解决了芯片差异性和温度覆盖范围窄的技术问题，最大化了锁相装置温度覆盖范围。
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公开(公告)号：CN116112005B
公开(公告)日：2024-02-13
申请号：CN202211724743.4
申请日：2022-12-30
申请人： 成都电科星拓科技有限公司
摘要： 本发明提供了一种DTC延迟单元的延迟测量方法、设备及存储介质，采用使能信号控制是否对DTC延迟单元的延迟进行测量，在确认进行测量时，通过步进扫描的方式生成信号完成DTC中延迟单元延迟的测量。本发明提出的延迟测量方法能够有效且准确的测量DTC的单元延迟，在传统全数字锁相环电路中，并没有出现该种测量方式。
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公开(公告)号：CN117811580A
公开(公告)日：2024-04-02
申请号：CN202410207500.6
申请日：2024-02-26
申请人： 成都电科星拓科技有限公司
摘要： 本发明公开了一种设置全数字锁相环中捕获电容阵列控制字初值的方法。为解决现有技术中全数字锁相环无法覆盖较大温度范围的技术问题，本发明通过温度传感器对参考时钟计数，所获得的计数值与温度成正比；根据所获得的计数值，将捕获电容阵列控制字初值设置为初值C；启动全数字锁相环；初值C是满足(C‑CL)/(CH‑CL)与(T‑TL)/(TH‑TL)之间差值最接近0的捕获电容阵列控制字，CL和CH分别为捕获电容阵列的最小控制字和最大控制字，T为所获得的计数值所对应的温度，TL和TH分别为额定最低工作温度和最高工作温度。本发明通过动态捕捉环境温度并据此设置最佳初值C，解决了全数字锁相环覆盖温度范围窄的技术问题，使得芯片可适应更宽温度覆盖范围。
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公开(公告)号：CN117278034A
公开(公告)日：2023-12-22
申请号：CN202311534693.8
申请日：2023-11-17
申请人： 成都电科星拓科技有限公司
摘要： 本发明涉及时间数字转换器技术领域，公开了一种时间数字转换器步长的测量方法及系统，该方法为：扫描全数字锁相环路的时间数字转换器，基于数字编码值及其对应的出现次数、转换系数值计算得到所有测量到的数字编码值对应的步长；其中，转换系数值指时间数字转换器的时间与相位转换系数的值。本发明解决了现有技术存在的难以测量步长、影响芯片全数字锁相环时钟生成芯片的准确性等问题。
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公开(公告)号：CN117169593A
公开(公告)日：2023-12-05
申请号：CN202311444728.9
申请日：2023-11-02
申请人： 成都电科星拓科技有限公司
摘要： 本发明公开了一种时间数字转换器步长间接测量方法、系统、设备及介质，其中方法包括以下步骤：S1.通过频率控制字设置锁相环中压控振荡器的目标输出频率，当锁相环锁定到对应频率即压控振荡器的实际输出频率后，将锁相环开环并停止更新；S2.通过时间数字转换器进行计时并记录码值出现次数，再结合时间数字转换器的有效量程、所述频率控制字和参考时钟周期计算出时间数字转换器的步长。本发明基于时间数字转换器的码值出现次数及有效量程，结合频率控制字和参考时钟周期计算出时间数字转换器的步长，可以在不使用示波器等测量仪器的情况下，较为准确地测量时间数字转换器的步长，依赖条件少，不需要额外的资源、功耗、设备等。
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公开(公告)号：CN116094518A
公开(公告)日：2023-05-09
申请号：CN202211724759.5
申请日：2022-12-30
申请人： 成都电科星拓科技有限公司
摘要： 本发明提供了一种高精度全数字锁相环环路的复位方法，采用异步复位、分步释放的方式对高精度全数字锁相环环路中各模块进行复位控制，先完成开环模块的复位解除，由状态机进入开环流程，完成校正增益，之后再完成闭环模块的复位状态解除。本发明提出的复位方法能够保证高精度全数字锁相环的各阶段保证该阶段的相位刚好对齐，不会产生不必要毛刺。
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