公开(公告)号：CN109283238A

公开(公告)日：2019-01-29

申请号：CN201810788020.8

申请日：2018-07-18

申请人： 日本株式会社日立高新技术科学

发明人： 佐久田昌博

IPC分类号： G01N27/62

CPC分类号： G01N5/04 ,  G01N25/48 ,  G01N30/8675 ,  G01N33/0049 ,  H01J49/0027 ,  H01J49/0031 ,  G01N27/622

摘要： 提供质量分析装置和质量分析方法，能够在视觉上清晰地识别质量分析困难的副成分有无存在。一种质量分析装置(110)，其具有显示部(220)，并且对含有测定物质的试样进行分析，其中，质量分析装置(110)还具有：存储部(215)，其存储针对测定物质的质谱的区域进行计算而求取的理论峰(T)；一致度计算部(217)，其根据区域内的试样的质谱(N)与理论峰各自所具有的多个峰来计算表示一致的程度的一致度；一致度显示控制部(219a)，其使显示部显示一致度；以及重叠显示控制部(219b)，其使显示部以质荷比一致的方式将试样的质谱和理论峰重叠显示。

公开(公告)号：CN104931516A

公开(公告)日：2015-09-23

申请号：CN201410812511.3

申请日：2014-12-23

申请人： 日本株式会社日立高新技术科学

发明人： 佐久田昌博

IPC分类号： G01N23/223 ,  G01B15/02

CPC分类号： G01N23/223 ,  G01N2201/103 ,  G01N2201/125 ,  G01N2223/076 ,  G01N2223/304 ,  G01N2223/306 ,  G01N2223/408 ,  G01N2223/427 ,  G06F1/1692 ,  G06F3/017 ,  G06F3/03547 ,  G06F3/03548 ,  G06F3/0416 ,  G06F3/0484 ,  G06F3/04842 ,  G06F3/04845 ,  G06F3/04847 ,  G06F2203/04104

摘要： 本发明提供X射线分析装置，在宽大的试样工作台中能够提高用于进行精密定位的操作性，其具备：试样台；X射线源，对试样照射一次X射线；检测器，检测从试样产生的二次X射线；位置调整机构，调整试样台与一次X射线的相对位置；观察机构，对试样台上的试样观察像进行摄像；和计算机，具有在观察用画面(9a)上显示试样观察像的显示器部和能利用指针(P)输入显示器部的画面上的位置且能进行拖放操作的输入单元，计算机具有以下的功能，当利用输入单元在观察用画面的中心区域(A1)内进行拖曳操作并在保持状态下使指针(P)移动到中心区域外的任意位置时，以与任意位置相对于中心区域的方向以及距离相对应的移动方向以及移动速度使试样台进行移动。

公开(公告)号：CN103308539A

公开(公告)日：2013-09-18

申请号：CN201310077549.6

申请日：2013-03-12

申请人： 日本株式会社日立高新技术科学

发明人： 佐久田昌博

IPC分类号： G01N23/223

摘要： 荧光X射线分析装置和荧光X射线分析方法。本发明的目的是提供如下功能：关于在测定中发生了移动的试样，根据试样图像的变化而自动检测发生了移动的情况。作为解决手段，具有拍摄被测定物的试样图像的摄像部，具有临时保存测定开始时刻的试样图像并与测定中或测定后的最新的试样图像进行比较的功能，还具有如下功能：如果图像处理的结果是差分为阈值以上，则通过显示部、蜂鸣音、信号塔、向远程管理终端的通知，对测定者发出警告。