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公开(公告)号：CN106124542A
公开(公告)日：2016-11-16
申请号：CN201610580470.9
申请日：2016-07-22
申请人： 东北大学
IPC分类号： G01N23/207 , G01N23/20
CPC分类号： G01N23/207 , G01N23/20025 , G01N2223/056 , G01N2223/1016 , G01N2223/306 , G01N2223/309 , G01N2223/505 , G01N2223/604 , G01N2223/646
摘要： 一种多功能X射线定向仪及方法，属于单晶材料加工领域；多功能X射线定向仪包括：工作台、防辐射保护罩、X射线发生系统、衍射线接收系统、晶体样品旋转台和计算机控制系统；晶体样品旋转台中的样品放置台可通过拆卸螺栓进行更换；方法包括：利用多功能X射线定向仪进行晶体缺陷识别、不同晶体特征测定、手动定向测定和获取角度误差的方法；本发明集多种单晶体用X射线定向仪测量系统于一体，降低了设备成本，保证了产品一致性；对各单晶材料检测的数据进行融合整理，智能得到单晶材料的缺陷类型，提高了已有数据的利用效率；使用闪烁探测器作为X射线探测器，稳定度较高，抗干扰能力强，弥补了盖革管的不足。
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公开(公告)号：CN107822649A
公开(公告)日：2018-03-23
申请号：CN201710826815.9
申请日：2017-09-14
申请人： 佳能株式会社
发明人： 饭岛忠彦
CPC分类号： A61B6/54 , A61B6/563 , A61B6/44 , A61B6/40 , A61B6/566 , G01N23/04 , G01N2223/03 , G01N2223/306
摘要： 公开了放射线成像装置、放射线成像系统、控制方法及存储介质。放射线成像系统包括中继器、放射线成像装置和控制装置。中继器被配置成控制从放射线源发射放射线的定时。放射线成像装置包括被配置成以第一通信模式和第二通信模式与外部设备进行无线通信的通信电路，在第二通信模式下的功耗比第一通信模式下的功耗低。控制装置被配置成控制放射线成像装置。放射线成像装置还包括被配置成以如下方式控制通信电路的通信控制单元：当从控制装置接收到开始准备成像的指示时，通信电路以第一通信模式操作，直到从中继器接收到对于发射放射线的许可信号为止。
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公开(公告)号：CN107727674A
公开(公告)日：2018-02-23
申请号：CN201711262903.7
申请日：2017-12-04
申请人： 上海航天精密机械研究所
CPC分类号： G01N23/04 , G01N23/05 , G01N2223/03 , G01N2223/306
摘要： 本发明提供的一种基于数字射线与物联网技术的智能化检测系统，包括：曝光室；自动检测单元，所述自动检测单元设置在所述曝光室内；运输工具，所述运输工具设置在所述曝光室外；控制单元，所述控制单元分别与所述自动检测单元及所述运输工具通信。与现有技术相比，本发明的有益效果如下：采用数字射线检测技术，可以直接获取射线检测结果的数字图像，相比较传统胶片照相检测技术，具有无材料消耗、存储方便、检测效率高、图像质量高、后续处理能力强大等优势；多自由度工业机器人的使用可以根据产品的检测要求实现全方位的检测，且具有极高的通用性，适用于多种类产品的检测。
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公开(公告)号：CN103239245A
公开(公告)日：2013-08-14
申请号：CN201310038619.7
申请日：2013-01-31
申请人： 富士胶片株式会社
发明人： 辻哲矢
IPC分类号： A61B6/00
CPC分类号： H05G1/44 , A61B6/4233 , A61B6/4283 , A61B6/52 , A61B6/542 , A61B6/548 , A61B2560/0214 , A61B2560/0266 , A61N5/1071 , G01N2223/306 , G01T1/02 , H01L27/144 , H01L27/146 , H01L27/14605 , H01L27/14812 , H05G1/38 , H05G1/56
摘要： 一种FPD检测被摄体的X射线图像。该FPD包括被布置在它的图像捕获领域中的多个像素。各个像素接收从X射线源发射的X射线，并且根据被施加于此的X射线剂量输出像素值。像素确定器基于像素的像素值从像素确定最小值像素。最小值像素是其像素值最低的像素。像素确定器将最小值像素设置作为曝光控制像素。比较器比较第一积分值与预定的第一阈值，所述第一积分值是最小值像素的像素值的积分值。比较器执行X射线发射控制，从而当第一积分值已经达到第一阈值时，X射线源停止发射X射线。
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公开(公告)号：CN103239245B
公开(公告)日：2016-09-14
申请号：CN201310038619.7
申请日：2013-01-31
申请人： 富士胶片株式会社
发明人： 辻哲矢
IPC分类号： A61B6/00
CPC分类号： H05G1/44 , A61B6/4233 , A61B6/4283 , A61B6/52 , A61B6/542 , A61B6/548 , A61B2560/0214 , A61B2560/0266 , A61N5/1071 , G01N2223/306 , G01T1/02 , H01L27/144 , H01L27/146 , H01L27/14605 , H01L27/14812 , H05G1/38 , H05G1/56
摘要： 一种FPD检测被摄体的X射线图像。该FPD包括被布置在它的图像捕获领域中的多个像素。各个像素接收从X射线源发射的X射线，并且根据被施加于此的X射线剂量输出像素值。像素确定器基于像素的像素值从像素确定最小值像素。最小值像素是其像素值最低的像素。像素确定器将最小值像素设置作为曝光控制像素。比较器比较第一积分值与预定的第一阈值，所述第一积分值是最小值像素的像素值的积分值。比较器执行X射线发射控制，从而当第一积分值已经达到第一阈值时，X射线源停止发射X射线。
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公开(公告)号：CN104931516A
公开(公告)日：2015-09-23
申请号：CN201410812511.3
申请日：2014-12-23
申请人： 日本株式会社日立高新技术科学
发明人： 佐久田昌博
IPC分类号： G01N23/223 , G01B15/02
CPC分类号： G01N23/223 , G01N2201/103 , G01N2201/125 , G01N2223/076 , G01N2223/304 , G01N2223/306 , G01N2223/408 , G01N2223/427 , G06F1/1692 , G06F3/017 , G06F3/03547 , G06F3/03548 , G06F3/0416 , G06F3/0484 , G06F3/04842 , G06F3/04845 , G06F3/04847 , G06F2203/04104
摘要： 本发明提供X射线分析装置，在宽大的试样工作台中能够提高用于进行精密定位的操作性，其具备：试样台；X射线源，对试样照射一次X射线；检测器，检测从试样产生的二次X射线；位置调整机构，调整试样台与一次X射线的相对位置；观察机构，对试样台上的试样观察像进行摄像；和计算机，具有在观察用画面(9a)上显示试样观察像的显示器部和能利用指针(P)输入显示器部的画面上的位置且能进行拖放操作的输入单元，计算机具有以下的功能，当利用输入单元在观察用画面的中心区域(A1)内进行拖曳操作并在保持状态下使指针(P)移动到中心区域外的任意位置时，以与任意位置相对于中心区域的方向以及距离相对应的移动方向以及移动速度使试样台进行移动。
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公开(公告)号：CN104040326A
公开(公告)日：2014-09-10
申请号：CN201380005382.0
申请日：2013-01-18
申请人： 株式会社尼康
发明人： 青木贵史
IPC分类号： G01N23/04
CPC分类号： G01N23/083 , G01N23/087 , G01N2223/306 , G01N2223/401 , G01N2223/402 , G01N2223/615 , G01N2223/623 , G01N2223/645 , G05B15/02
摘要： 提供一种可抑制与包含多种物质的物体内部有关的检测不良的X线装置、方法、及构造物的制造方法。一种X线装置，对测定物照射X线，而检测透过该测定物的透过X线，具备信息处理部(100)，根据该测定物中所含的第1物质与第2物质的比率，而根据借由该检测所获得的第1检测信息生成第2检测信息。该信息处理部是根据该第1物质与该第2物质的比率，并且根据与该X线的照射方向正交的平面的每单位面积中该X线透过该第1物质及该第2物质的比率，而自该第1检测信息生成该第2检测信息。
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公开(公告)号：CN109752402A
公开(公告)日：2019-05-14
申请号：CN201811312657.6
申请日：2018-11-06
申请人： 布鲁克纳米有限责任公司
发明人： U.瓦尔德施莱格 , R.A.塔格莱贝尔丹
IPC分类号： G01N23/223
CPC分类号： G01N23/223 , A61B6/06 , A61B6/485 , A61B6/54 , G01N2223/076 , G01N2223/1016 , G01N2223/204 , G01N2223/306 , G01N2223/316 , G01N2223/32 , G01N2223/3301 , G01N2223/6113 , G21K1/04 , G21K1/067
摘要： 本发明涉及用于测量由目标（7）发射的X射线荧光的X射线荧光XRF光度计（10），其中XRF光度计（10）包括具有发射发散的X射线波束（3a）的阳极（2）的X射线管（1）、被配置成将发散的X射线波束（3a）聚焦在目标（7）上的毛细管透镜（6）、定位在X射线管（1）的阳极（2）与毛细管透镜（6）之间并且包括至少一个针孔（9a，9b）的孔径系统（4），以及被配置用于检测由目标（7）发射的X射线荧光辐射的检测器（8），其中至少一个针孔（9a，9b）被配置用于插入到发散的X射线波束（3a）中并且用于减小阳极（2）与毛细管透镜（6）之间的发散的X射线波束（3a）的波束截面（5a）。本发明还涉及用于光度计（10）的孔径系统（4）、用于调节光度计（10）的焦深的孔径系统（4）的用途以及用于调节光度计（10）的焦深的方法。
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公开(公告)号：CN104427937B
公开(公告)日：2018-01-09
申请号：CN201380034811.7
申请日：2013-05-24
申请人： 富士胶片株式会社
发明人： 冈田美广
IPC分类号： A61B6/00
CPC分类号： A61B6/542 , A61B6/4283 , A61B6/54 , A61B2560/0204 , A61B2560/0266 , A61N5/1071 , G01N23/04 , G01N2223/306 , G01T1/026 , G01T1/15 , H04N5/32 , H05G1/32 , H05G1/34 , H05G1/38 , H05G1/42 , H05G1/44 , H05G1/56
摘要： 在预测累积剂量而进行自动曝光控制的情况下，以短时间进行累积剂量达到目标剂量的预测时刻的计算。在检测面板(30)设有检测X射线的检测像素(38b)。信号处理电路(45)基于检测像素(38b)的输出而对表示X射线的每单位时间的剂量的剂量信号进行采样。照射开始判定部(52)基于剂量信号与照射开始阈值的比较结果，判定X射线的照射是否开始。AEC部(53)基于剂量信号，测定从X射线的照射开始了的开始时刻(T0)到经过了预定时间的测定时刻(T1)的累积剂量。基于所测定到的测定剂量，算出预测为累积剂量达到预先设定的目标剂量的预测时刻(TP)。在成为了预测时刻(TP)时，向射线源控制装置(11)发送照射停止信号，使X射线的照射停止。
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公开(公告)号：CN104040326B
公开(公告)日：2017-03-01
申请号：CN201380005382.0
申请日：2013-01-18
申请人： 株式会社尼康
发明人： 青木贵史
IPC分类号： G01N23/04
CPC分类号： G01N23/083 , G01N23/087 , G01N2223/306 , G01N2223/401 , G01N2223/402 , G01N2223/615 , G01N2223/623 , G01N2223/645 , G05B15/02
摘要： 提供一种可抑制与包含多种物质的物体内部有关的检测不良的X线装置、方法、及构造物的制造方法。一种X线装置，对测定物照射X线，而检测透过该测定物的透过X线，具备信息处理部质的比率，而根据借由该检测所获得的第1检测信息生成第2检测信息。该信息处理部是根据该第1物质与该第2物质的比率，并且根据与该X线的照射方向正交的平面的每单位面积中该X线透过该第1物质及该第2物质的比率，而自该第1检测信息生成该第2检测信息。(100)，根据该测定物中所含的第1物质与第2物
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