一种基于单幅干涉条纹高精度地恢复波面的方法

    公开(公告)号:CN108955575B

    公开(公告)日:2019-09-17

    申请号:CN201810959331.6

    申请日:2018-08-22

    Applicant: 江南大学

    Abstract: 本发明公开了一种基于单幅干涉条纹高精度地恢复波面的方法,属于光学元件的面形测量领域。所述方法包括:对干涉区域内的峰值、谷值进行赋值进而转换为相位,进而对干涉条纹进行区域划分,使同一区域内干涉仪相机的像素具有相同的奇偶性,从而进行准确的相位提取实现高精度的波面恢复。本发明通过对干涉区域内的峰值、谷值进行赋值进而转换为相位,进而对干涉条纹进行区域划分,使同一区域内干涉仪相机的像素具有相同的奇偶性,从而进行准确的相位提取实现高精度的波面恢复,且该方法计算简单、有效,且不需要载频函数,不需要傅里叶变换或者希尔伯特变换。

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