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公开(公告)号：CN111307063A
公开(公告)日：2020-06-19
申请号：CN202010215864.0
申请日：2020-03-25
Applicant: 江南大学
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明公开了一种消除单幅干涉条纹波面恢复中的符号模糊问题的方法，属于光学元件的面形测量领域。所述方法在常规的干涉光学系统中引入光阑和光点测量的相机等，利用局部波前的光点成像，标定波前倾斜的方向，解决了波前恢复中符号模糊问题。在本发明中，对引入的这种标定光学系统进行了具体光学设计，操作方法简单，形成了稳定的消除单幅干涉条纹波前恢复中符号模糊问题的光学设计方法，且该方法计算简单、有效，且不需要载频函数和复杂的光路。
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公开(公告)号：CN108955575B
公开(公告)日：2019-09-17
申请号：CN201810959331.6
申请日：2018-08-22
Applicant: 江南大学
IPC: G01B11/25
Abstract: 本发明公开了一种基于单幅干涉条纹高精度地恢复波面的方法，属于光学元件的面形测量领域。所述方法包括：对干涉区域内的峰值、谷值进行赋值进而转换为相位，进而对干涉条纹进行区域划分，使同一区域内干涉仪相机的像素具有相同的奇偶性，从而进行准确的相位提取实现高精度的波面恢复。本发明通过对干涉区域内的峰值、谷值进行赋值进而转换为相位，进而对干涉条纹进行区域划分，使同一区域内干涉仪相机的像素具有相同的奇偶性，从而进行准确的相位提取实现高精度的波面恢复，且该方法计算简单、有效，且不需要载频函数，不需要傅里叶变换或者希尔伯特变换。
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公开(公告)号：CN109001904A
公开(公告)日：2018-12-14
申请号：CN201810840167.7
申请日：2018-07-27
Applicant: 江南大学
Abstract: 本发明公开了一种基于动态LUT液晶波前校正器的校正方法，属于液晶波前校正领域。本发明方法通过搭建光路，构建LUT数据模型提供一种能克服温度起伏影响的、高精度的LUT计算方法，对各个温度下的相位调制特性进行测量，利用最小二乘拟合建立LUT数据模型，当环境温度变化后，通过当前空间光调制器工作的温度，代入LUT数据模型，得出合理的LUT数据。达到了对入射光进行波前校正的效果，克服了环境温度起伏导致液晶波前校正器相位调制精度降低的影响。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111307063B
公开(公告)日：2021-08-24
申请号：CN202010215864.0
申请日：2020-03-25
Applicant: 江南大学
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明公开了一种消除单幅干涉条纹波面恢复中的符号模糊问题的方法，属于光学元件的面形测量领域。所述方法在常规的干涉光学系统中引入光阑和光点测量的相机等，利用局部波前的光点成像，标定波前倾斜的方向，解决了波前恢复中符号模糊问题。在本发明中，对引入的这种标定光学系统进行了具体光学设计，操作方法简单，形成了稳定的消除单幅干涉条纹波前恢复中符号模糊问题的光学设计方法，且该方法计算简单、有效，且不需要载频函数和复杂的光路。
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公开(公告)号：CN109001904B
公开(公告)日：2020-04-07
申请号：CN201810840167.7
申请日：2018-07-27
Applicant: 江南大学
Abstract: 本发明公开了一种基于动态LUT液晶波前校正器的校正方法，属于液晶波前校正领域。本发明方法通过搭建光路，构建LUT数据模型提供一种能克服温度起伏影响的、高精度的LUT计算方法，对各个温度下的相位调制特性进行测量，利用最小二乘拟合建立LUT数据模型，当环境温度变化后，通过当前空间光调制器工作的温度，代入LUT数据模型，得出合理的LUT数据。达到了对入射光进行波前校正的效果，克服了环境温度起伏导致液晶波前校正器相位调制精度降低的影响。
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公开(公告)号：CN107478174B
公开(公告)日：2019-10-08
申请号：CN201710566436.0
申请日：2017-07-12
Applicant: 江南大学
Abstract: 本发明公开了一种针对暗弱信号的夏克哈特曼探测器质心探测方法，属于自适应光学和光学元件面形检测技术领域。本发明公开了一种观测暗弱目标或加工过程中光学元件面形检测时，夏克哈特曼探测器光斑质心计算方法，利用此方法可计算出光斑质心，并且可以降低质心探测误差。
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公开(公告)号：CN108955575A
公开(公告)日：2018-12-07
申请号：CN201810959331.6
申请日：2018-08-22
Applicant: 江南大学
IPC: G01B11/25
Abstract: 本发明公开了一种基于单幅干涉条纹高精度地恢复波面的方法，属于光学元件的面形测量领域。所述方法包括：对干涉区域内的峰值、谷值进行赋值进而转换为相位，进而对干涉条纹进行区域划分，使同一区域内干涉仪相机的像素具有相同的奇偶性，从而进行准确的相位提取实现高精度的波面恢复。本发明通过对干涉区域内的峰值、谷值进行赋值进而转换为相位，进而对干涉条纹进行区域划分，使同一区域内干涉仪相机的像素具有相同的奇偶性，从而进行准确的相位提取实现高精度的波面恢复，且该方法计算简单、有效，且不需要载频函数，不需要傅里叶变换或者希尔伯特变换。
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公开(公告)号：CN107478174A
公开(公告)日：2017-12-15
申请号：CN201710566436.0
申请日：2017-07-12
Applicant: 江南大学
Abstract: 本发明公开了一种针对暗弱信号的夏克哈特曼探测器质心探测方法，属于自适应光学和光学元件面形检测技术领域。本发明公开了一种观测暗弱目标或加工过程中光学元件面形检测时，夏克哈特曼探测器光斑质心计算方法，利用此方法可计算出光斑质心，并且可以降低质心探测误差。
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