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公开(公告)号：CN108955575B
公开(公告)日：2019-09-17
申请号：CN201810959331.6
申请日：2018-08-22
Applicant: 江南大学
IPC: G01B11/25
Abstract: 本发明公开了一种基于单幅干涉条纹高精度地恢复波面的方法，属于光学元件的面形测量领域。所述方法包括：对干涉区域内的峰值、谷值进行赋值进而转换为相位，进而对干涉条纹进行区域划分，使同一区域内干涉仪相机的像素具有相同的奇偶性，从而进行准确的相位提取实现高精度的波面恢复。本发明通过对干涉区域内的峰值、谷值进行赋值进而转换为相位，进而对干涉条纹进行区域划分，使同一区域内干涉仪相机的像素具有相同的奇偶性，从而进行准确的相位提取实现高精度的波面恢复，且该方法计算简单、有效，且不需要载频函数，不需要傅里叶变换或者希尔伯特变换。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109001904A
公开(公告)日：2018-12-14
申请号：CN201810840167.7
申请日：2018-07-27
Applicant: 江南大学
Abstract: 本发明公开了一种基于动态LUT液晶波前校正器的校正方法，属于液晶波前校正领域。本发明方法通过搭建光路，构建LUT数据模型提供一种能克服温度起伏影响的、高精度的LUT计算方法，对各个温度下的相位调制特性进行测量，利用最小二乘拟合建立LUT数据模型，当环境温度变化后，通过当前空间光调制器工作的温度，代入LUT数据模型，得出合理的LUT数据。达到了对入射光进行波前校正的效果，克服了环境温度起伏导致液晶波前校正器相位调制精度降低的影响。
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公开(公告)号：CN109001904B
公开(公告)日：2020-04-07
申请号：CN201810840167.7
申请日：2018-07-27
Applicant: 江南大学
Abstract: 本发明公开了一种基于动态LUT液晶波前校正器的校正方法，属于液晶波前校正领域。本发明方法通过搭建光路，构建LUT数据模型提供一种能克服温度起伏影响的、高精度的LUT计算方法，对各个温度下的相位调制特性进行测量，利用最小二乘拟合建立LUT数据模型，当环境温度变化后，通过当前空间光调制器工作的温度，代入LUT数据模型，得出合理的LUT数据。达到了对入射光进行波前校正的效果，克服了环境温度起伏导致液晶波前校正器相位调制精度降低的影响。
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公开(公告)号：CN107478174B
公开(公告)日：2019-10-08
申请号：CN201710566436.0
申请日：2017-07-12
Applicant: 江南大学
Abstract: 本发明公开了一种针对暗弱信号的夏克哈特曼探测器质心探测方法，属于自适应光学和光学元件面形检测技术领域。本发明公开了一种观测暗弱目标或加工过程中光学元件面形检测时，夏克哈特曼探测器光斑质心计算方法，利用此方法可计算出光斑质心，并且可以降低质心探测误差。
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公开(公告)号：CN108955575A
公开(公告)日：2018-12-07
申请号：CN201810959331.6
申请日：2018-08-22
Applicant: 江南大学
IPC: G01B11/25
Abstract: 本发明公开了一种基于单幅干涉条纹高精度地恢复波面的方法，属于光学元件的面形测量领域。所述方法包括：对干涉区域内的峰值、谷值进行赋值进而转换为相位，进而对干涉条纹进行区域划分，使同一区域内干涉仪相机的像素具有相同的奇偶性，从而进行准确的相位提取实现高精度的波面恢复。本发明通过对干涉区域内的峰值、谷值进行赋值进而转换为相位，进而对干涉条纹进行区域划分，使同一区域内干涉仪相机的像素具有相同的奇偶性，从而进行准确的相位提取实现高精度的波面恢复，且该方法计算简单、有效，且不需要载频函数，不需要傅里叶变换或者希尔伯特变换。
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公开(公告)号：CN107478174A
公开(公告)日：2017-12-15
申请号：CN201710566436.0
申请日：2017-07-12
Applicant: 江南大学
Abstract: 本发明公开了一种针对暗弱信号的夏克哈特曼探测器质心探测方法，属于自适应光学和光学元件面形检测技术领域。本发明公开了一种观测暗弱目标或加工过程中光学元件面形检测时，夏克哈特曼探测器光斑质心计算方法，利用此方法可计算出光斑质心，并且可以降低质心探测误差。
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