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公开(公告)号：CN2736785Y
公开(公告)日：2005-10-26
申请号：CN200420009318.8
申请日：2004-09-14
申请人： 清华大学 , 清华同方威视技术股份有限公司
摘要： 用于X射线源剂量率监控的小尺寸穿透电离室，涉及辐射检测技术领域。本实用新型由电离室体、绝缘套管和接线盒组成。接线盒位于绝缘套管的一端，电离室体固定在绝缘套管内。电离室体和绝缘套管的沿着射线方向的两个面上都刻有开槽。电离室体内形成密闭的灵敏区，两根电极管固定在灵敏区内。电极管与充气管相连。充气管穿过同轴的后陶瓷管和前陶瓷管伸入灵敏区，它的另一端置于接线盒内。通过软线分别将从保护环上引出的镍丝和螺钉、充气管连接到第一插座和第二插座用于输入高压和输出测量信号。本实用新型在环境适应性好、测量精度高的基础上，可以使穿透电离室的尺寸大大减小，从而可以安装在加速器的钨屏蔽体中，减小散射。
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公开(公告)号：CN2862022Y
公开(公告)日：2007-01-24
申请号：CN200520114599.8
申请日：2005-11-03
申请人： 清华大学 , 清华同方威视技术股份有限公司
摘要： 用于辐射成像系统中的固体探测器阵列结构，属于辐射检测技术领域。它包括多个闪烁晶体和与之耦合的光电二极管。其结构特点是各闪烁晶体和光电二极管粘接固化并涂有反射层形成单个探测器。各探测器依次排列用隔板相互隔离并固化。各光电二极管的底部套装绝缘子。各隔板、绝缘子嵌接在金属槽上形成探测器阵列。探测器阵列上铺设有铅板及海绵橡胶层，由金属外罩将其包容并固定在金属槽板上。本实用新型与现有技术相比，不仅具备避光、防潮、防振、电磁抗干扰能力强、安装维修方便的优点，同时提高了射线抗散射和抗窜扰能力，可大大提高成像的清晰度。
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公开(公告)号：CN2826418Y
公开(公告)日：2006-10-11
申请号：CN200520022999.6
申请日：2005-06-01
申请人： 清华同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01N23/04 , G01N23/083 , H05K7/18 , H05K5/00
摘要： 用于辐射成像的双阵列探测器模块结构，属于辐射检测技术领域。本实用新型的壳体内置有支架将两个电子线路板固定，壳体的前端面置有与两个电子线路板输出端连接的各插座，壳体的底端与底板固定。底板上置有由安装框架形成的属于印刷电路板性质的上层板和下层板，安装框架内置有上下排均布的探测器阵列并分别与安装框架的上层板和下层板固定。各排探测器阵列之间和各排探测器阵列的各探测器之间置有起减少串扰作用的重金属片，各排探测器阵列的外围与安装框架之间置有起减少散射作用的铅皮。各排探测器阵列的信号输出端分别与两个电子线路板的输入端连接。本实用新型仅增加较小投入及结构改进，便可获得较大的经济效益。具有结构简单、安装使用维修方便的特点。
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公开(公告)号：CN105093255B
公开(公告)日：2019-01-15
申请号：CN201510568491.4
申请日：2015-09-09
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC分类号： G01T1/20
摘要： 本发明提出一种射线探测方法、装置、探测器组件和射线探测器，涉及辐射成像领域。其中，本发明的射线探测方法包括：获取探测器组件中各个转换层的基本探测数据，其中，探测器组件包括多个层叠排列的转换层，每个转换层用于探测预定探测范围的能量；基于多个转换层的基本探测数据的组合获取预定探测等级的射线探测数据。通过这样的方法，能够根据探测等级的需要，基于多个转换层的基本探测数据，根据符合预定探测等级的转换层的基本探测数据获取预定探测等级的射线探测数据，从而实现了根据探测的需要灵活探测不同能量等级的能量。
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公开(公告)号：CN104516010B
公开(公告)日：2018-12-11
申请号：CN201410851366.X
申请日：2014-12-31
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
摘要： 本发明公开了一种X射线束流强度监控装置和X射线检查系统。X射线束流强度监控装置包括强度探测模块和数据处理模块，强度探测模块用于接受X射线束流的照射并发出探测信号，数据处理模块与强度探测模块耦合以接收探测信号并输出X射线束流强度监控信号，其中，X射线束流强度监控信号包括X射线束流的剂量监控信号和X射线束流的亮度校正信号。该X射线束流强度监控装置可以同时进行剂量监控和亮度监控，提升了X射线束流强度监控装置的使用效率。
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公开(公告)号：CN106596597A
公开(公告)日：2017-04-26
申请号：CN201611143083.5
申请日：2016-12-08
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC分类号： G01N23/04
摘要： 本发明提出一种辐射探测装置、方法以及数据处理方法和处理器，涉及辐射探测技术领域。其中，本发明的一种辐射探测装置包括：射线探测器；与射线探测器相连接的高速模数转化器ADC；和与高速ADC连接的数据处理器；其中，射线探测器把透射X射线与闪烁体作用后产生的光信号转化为电信号；高速ADC通过电信号波形采样获取波形数据；数据处理器根据波形数据确定单光子信号个数，进而确定采用积分信号和/或计数信号进行成像。这样的装置能够利用探测器的单光子探测能力根据波形数据确定单光子信号个数，进而判断采用波形数据的积分信号和/或计数信号进行成像，从而提高被测物体的辐射探测成像质量，提升系统的穿透力指标和物质分辨能力。
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公开(公告)号：CN103185734B
公开(公告)日：2015-11-25
申请号：CN201110457151.6
申请日：2011-12-30
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC分类号： G01N23/087
CPC分类号： G01N23/087 , G01N2223/402 , G01N2223/507 , G01T1/22
摘要： 公开了一种测量物体的有效原子序数的方法和设备。该设备包括：射线源，产生第一能量的第一X射线束和第二能量的第二X射线束；切伦科夫探测器，接收透射被检查物体的第一X射线束和第二X射线束，产生第一探测值和第二探测值；数据处理装置，基于第一探测值和第二探测值得到被检查物体的有效原子序数。由于切伦科夫探测器能够消除特定阈值下的X射线束的影响，所以提高了物质识别的准确度。
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公开(公告)号：CN104516010A
公开(公告)日：2015-04-15
申请号：CN201410851366.X
申请日：2014-12-31
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
摘要： 本发明公开了一种X射线束流强度监控装置和X射线检查系统。X射线束流强度监控装置包括强度探测模块和数据处理模块，强度探测模块用于接受X射线束流的照射并发出探测信号，数据处理模块与强度探测模块耦合以接收探测信号并输出X射线束流强度监控信号，其中，X射线束流强度监控信号包括X射线束流的剂量监控信号和X射线束流的亮度校正信号。该X射线束流强度监控装置可以同时进行剂量监控和亮度监控，提升了X射线束流强度监控装置的使用效率。
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公开(公告)号：CN104515781A
公开(公告)日：2015-04-15
申请号：CN201410851416.4
申请日：2014-12-31
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01N23/02
摘要： 本发明公开了一种X射线检查系统，包括X射线发射装置、探测器阵列和X射线束流强度监控装置，X射线发射装置发出的X射线束流包括照射于探测器阵列上的工作束流和照射于探测器阵列之外的冗余束流，X射线束流强度监控装置包括强度探测模块和数据处理模块，强度探测模块设置于X射线发射装置和探测器阵列之间以接受冗余束流的照射并发出探测信号，数据处理模块与强度探测模块耦合以接收探测信号并输出X射线束流强度监控信号。该X射线检查系统的强度探测模块利用的是X射线束流的冗余束流，强度探测模块基本不受X射线发射装置和被检物体的影响，从而可使X射线束流强度的监控结果更加准确可靠。
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公开(公告)号：CN104345334A
公开(公告)日：2015-02-11
申请号：CN201310341234.8
申请日：2013-08-07
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC分类号： G01T3/00
摘要： 本发明涉及阳极丝对中性能改善的中子探测管和中子探测设备。具体地，提供了一种中子探测管，其包括：阴极管，所述阴极管内限定有轴向延伸的管腔，且管腔内壁具有中子敏感材料；阳极丝，所述阳极丝在所述阴极管的管腔中轴向延伸；绝缘套，所述绝缘套的一部分气密密封地沿轴向插入所述阴极管中的一端，而且所述绝缘套内限定有通向所述阴极管的管腔的第一中央内孔；以及同心装置，其被置于所述绝缘套的第一中央内孔中，且被配置成使得所述阳极丝至少在轴向向内穿过所述同心装置后被居中于所述阴极管的中心轴线。本发明还提供了一种中子探测设备，其包括至少一只所述中子探测管；以及用于组合所述中子探测管的阵列组合装置。
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