-
公开(公告)号：CN109375220A
公开(公告)日：2019-02-22
申请号：CN201811632225.3
申请日：2018-12-28
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
摘要： 公开了一种安全检查系统及其数据处理方法。安全检查系统包括：超宽带信号获取设备，获取待检对象反射的超宽带反射信号；毫米波成像设备，获取待检对象的毫米波全息数据；数据处理设备，存储有超宽带数据库和毫米波图像库，并配置为：根据超宽带数据库，识别所述超宽带反射信号中被待检对象携带的概率超过预定概率的违禁品，根据毫米波全息数据重建所述待检对象的毫米波图像，并且根据毫米波图像库，识别所述毫米波图像中的感兴趣区域，以及根据所述毫米波图像库，在所述感兴趣区域中识别所述违禁品；以及显示器，显示所述毫米波图像以及与所述违禁品有关的警报消息。
-
公开(公告)号：CN109459792B
公开(公告)日：2024-05-10
申请号：CN201811626865.3
申请日：2018-12-28
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
摘要： 本公开提供了一种场景监控式毫米波扫描成像系统，包括适于定位在一安检场景中的多个毫米波扫描成像装置，所述多个毫米波扫描成像装置被布置成分别朝向不同的方位定向，以分别对该安检场景中的不同检测区域内的待检目标进行毫米波扫描成像并提供该目标的扫描数据。还提供了利用场景监控式毫米波扫描成像系统进行的安全检查方法。
-
公开(公告)号：CN114609686A
公开(公告)日：2022-06-10
申请号：CN202011429712.7
申请日：2020-12-09
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
摘要： 本发明涉及一种三维成像方法和装置、以及三维成像设备。该三维成像方法包括：三维信息获取步骤，通过深度相机拍摄包含检测对象的三维拍摄区域，生成三维图像信息；掩膜提取步骤，从所述三维图像信息提取所述检测对象的掩膜；成像区域确定步骤，根据所述检测对象的掩膜来确定关于所述检测对象的成像区域；全息数据获取步骤，通过全息数据采集装置，拍摄包含所述检测对象的全息数据采集区域，生成全息数据；以及图像重建步骤，基于所述全息数据对所述成像区域进行图像重建。
-
公开(公告)号：CN117031569A
公开(公告)日：2023-11-10
申请号：CN202310948809.6
申请日：2018-12-29
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
摘要： 一种用于对被检对象进行安全检查的毫米波太赫兹成像设备，其包括聚焦透镜，微极化片阵列、探测器阵列和图像处理装置，其中所述聚焦透镜设置在被检对象和所述微极化片阵列之间，且被构造为将被检对象自发辐射或反射回来的毫米波太赫兹波聚焦在所述探测器阵列上；所述微极化片阵列设置在所述探测器阵列的朝向所述聚焦透镜的一侧且设置为靠近所述探测器阵列；所述探测器阵列设置在所述聚焦透镜的焦平面上，且被构造为将透过所述微极化片阵列的毫米波太赫兹波转化为被检对象的极化图像；以及所述图像处理装置设置于所述探测器阵列的远离所述微极化片阵列的一侧，且被构造为处理所述极化图像以对被检对象进行识别分类。
-
公开(公告)号：CN109471195B
公开(公告)日：2023-11-10
申请号：CN201811654183.3
申请日：2018-12-29
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
摘要： 一种用于对被检对象进行安全检查的毫米波太赫兹成像设备，其包括聚焦透镜，检测器和图形处理装置，其中所述聚焦透镜设置在被检对象和所述检测器之间，且被构造为将被检对象自发辐射或反射回来的毫米波太赫兹波聚焦在所述检测器上；检测器，所述检测器包括天线阵列和探测器阵列，其中天线阵列设置在所述探测器阵列的朝向所述聚焦透镜的一侧且设置为所述探测器阵列的天线端口，所述探测器阵列设置在所述聚焦透镜的焦平面上，且被构造为将所述天线阵列接收的毫米波太赫兹波转化为被检对象的极化图像；以及所述图形处理装置设置于所述探测器阵列的远离所述天线阵列的一侧，且被构造为处理所述极化图像以对被检对象进行识别分类。
-
公开(公告)号：CN109471194B
公开(公告)日：2023-09-05
申请号：CN201811654173.X
申请日：2018-12-29
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
摘要： 一种用于对被检对象进行安全检查的毫米波太赫兹成像设备，其包括聚焦透镜，微极化片阵列、探测器阵列和图形处理装置，其中所述聚焦透镜设置在被检对象和所述微极化片阵列之间，且被构造为将被检对象自发辐射或反射回来的毫米波太赫兹波聚焦在所述探测器阵列上；所述微极化片阵列设置在所述探测器阵列的朝向所述聚焦透镜的一侧且设置为靠近所述探测器阵列；所述探测器阵列设置在所述聚焦透镜的焦平面上，且被构造为将透过所述微极化片阵列的毫米波太赫兹波转化为被检对象的极化图像；以及所述图形处理装置设置于所述探测器阵列的远离所述微极化片阵列的一侧，且被构造为处理所述极化图像以对被检对象进行识别分类。
-
公开(公告)号：CN113126176B
公开(公告)日：2022-06-10
申请号：CN201911402454.0
申请日：2019-12-30
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01V8/10
摘要： 公开了一种太赫兹波安检系统及方法，包括：信息采集装置，其包括太赫兹波成像机构和可见光成像机构，太赫兹波成像机构配置成生成被检测对象的太赫兹波图像，可见光成像机构配置成生成被检测对象的可见光图像，其中，可见光成像机构所生成的可见光图像与太赫兹波成像机构所生成的太赫兹波图像在太赫兹波成像机构的景深范围内相匹配；和数据处理装置，其与信息采集装置数据连通，并配置成获取太赫兹波成像机构提供的被检测对象的太赫兹波图像和可见光成像机构提供的可见光图像并基于太赫兹波图像和可见光图像判断被检测对象是否存在嫌疑物品，如果判断存在嫌疑物品，则数据处理装置基于可见光图像和太赫兹波图像判断嫌疑物品是否是违禁物品。
-
公开(公告)号：CN109828313A
公开(公告)日：2019-05-31
申请号：CN201811654160.2
申请日：2018-12-29
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01V8/10
摘要： 公开了一种毫米波/太赫兹波成像设备及检测方法，包括：准光学组件，其包括V形反射板和第三反射板，V形反射板包括第一反射板和第二反射板，V形反射板能够绕其摆动轴线摆动以使得第一反射板分别接收并反射来自第一被检对象位于第一视场不同位置的部分的波束，第二反射板分别接收并反射第二被检对象位于第二视场不同位置的部分的波束；斩波器被配置成在任一时刻仅来自第一反射板或第三反射板反射的来自第二反射板的波束入射到探测器阵列，斩波器绕其中心轴线转动以使来自第一反射板和第三反射板的波束交替地由探测器阵列接收。该设备能够对两个被检对象同时成像，检测效率高、探测器利用率高。
-
公开(公告)号：CN109799545A
公开(公告)日：2019-05-24
申请号：CN201811654154.7
申请日：2018-12-29
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01V8/20
摘要： 本公开的实施例公开了一种用于主动式毫米波安检成像的稀疏多发多收阵列布置、人体安检设备以及人体安检的方法。稀疏多发多收阵列布置，包括一组发射天线和一组接收天线；其中，所述一组发射天线包括在弧面内沿第一弧排列的多个发射天线，所述一组接收天线包括在弧面内沿第二弧排列的多个接收天线，所述一组发射天线平行于所述一组接收天线且间隔开，且位于同一弧面；其中，与沿第一弧排列的两个相邻的发射天线之间的间隔弧长对应的第二弧的相等弧长范围内布置至少一个接收天线。
-
公开(公告)号：CN109633770A
公开(公告)日：2019-04-16
申请号：CN201811631615.9
申请日：2018-12-28
申请人： 同方威视技术股份有限公司
摘要： 公开了一种毫米波安检设备及检查方法，该毫米波安检设备包括门装置，所述门装置包括层叠布置的第一门体和第二门体，所述第一门体和所述第二门体均由毫米波能够穿透的材料制成；毫米波收发模块，所述毫米波收发模块设置在所述第一门体和所述第二门体之间，并包括分别向所述门装置的进口侧和出口侧发送和接收毫米波信号的毫米波收发天线阵列；以及线性驱动装置，所述毫米波收发模块连接至所述线性驱动装置从而能够在所述线性驱动装置的驱动下在所述第一门体和所述第二门体之间相对于所述门装置移动。该毫米波安检设备及检查方法通过在被检对象通过过程中完成正反两个表面的扫描，且无需被检对象转换角度，因而提高了通过率，且成本较低。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
搜索结果
70 条记录 (耗时 0.045 秒)
