光电角度传感器和确定围绕轴的转动角度的方法

    公开(公告)号:CN101506621B

    公开(公告)日:2010-12-15

    申请号:CN200780030656.6

    申请日:2007-08-16

    IPC分类号: G01D5/347

    CPC分类号: G01D5/34776 G01D5/3473

    摘要: 本发明涉及用于确定围绕轴(6)的转动角度的光电角度传感器(1a),该光电角度传感器包括:能够围绕所述轴转动的圆盘(2a)。所述圆盘包括:基本上覆盖整个表面的编码;平面光敏探测器(3a);用于在所述探测器上生成所述编码的可评估图像的装置;用于确定转动角度的存储和评估部件(4a)。在所述探测器上生成所述编码的基本上完整,尤其是整个图像。通过应用参数变化的统计学比较法,根据参数化的电子参考图案和所述图像来确定转动角度,其中,所述参数化的电子参考图案是由所述存储和评估部件提供的。

    光电角度传感器和确定围绕轴的转动角度的方法

    公开(公告)号:CN101506621A

    公开(公告)日:2009-08-12

    申请号:CN200780030656.6

    申请日:2007-08-16

    IPC分类号: G01D5/347

    CPC分类号: G01D5/34776 G01D5/3473

    摘要: 本发明涉及用于确定围绕轴(6)的转动角度的光电角度传感器(1a),该光电角度传感器包括:能够围绕所述轴转动的圆盘(2a)。所述圆盘包括:基本上覆盖整个表面的编码;平面光敏探测器(3a);用于在所述探测器上生成所述编码的可评估图像的装置;用于确定转动角度的存储和评估部件(4a)。在所述探测器上生成所述编码的基本上完整,尤其是整个图像。通过应用参数变化的统计学比较法,根据参数化的电子参考图案和所述图像来确定转动角度,其中,所述参数化的电子参考图案是由所述存储和评估部件提供的。

    用于确定手持测量仪的空间位置的方法和系统

    公开(公告)号:CN1856693A

    公开(公告)日:2006-11-01

    申请号:CN200480027480.5

    申请日:2004-09-21

    IPC分类号: G01C15/00

    CPC分类号: G01C15/002 G01S17/06

    摘要: 本发明的目的是确定测量仪(4b)的实际位置和/或实际方位。为此,检测位于由激光束扫描的空间段(5′)上的至少两个基准点(2b′),并测量两者之间的距离及其倾角。可以从以可检测的方式排列的所述基准点(2b′)的已知位置以及相关的该基准点的距离和倾角中推导测量仪(4b)的实际位置。由测量仪(4b)以自动的方式来执行对基准点的检测、监控和测量,所述测量仪(4b)和与基准点(2b′)相关的具体实现的元件形成本地位置和/或方位测量系统。即使在其他测量系统无法到达的区域内,执行本发明方法及对应的设备也可以使测量毫无问题地且以自动的方式进行。

    光学测斜仪
    17.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1809726A

    公开(公告)日:2006-07-26

    申请号:CN200480017565.5

    申请日:2004-06-01

    IPC分类号: G01C9/20 G01C9/06 G02B26/06

    摘要: 本发明涉及一种光学测斜仪。根据本发明,诸如液体表面的取决于倾斜度的介质(6)定位在光学子系统的光瞳中,可检测的波前通过所述介质(6)在检测器(3’)上成像。所述介质(6)引起从辐射源(11)发射的辐射(S)的相移;辐射(S)与介质(6)进行反射或透射相互作用。可以通过波前探测器来分析介质(6)引起的波前的偏差并通过评估单元(9’)或检测器(3’)对其进行补偿。在各子孔径之前形成有衍射结构的波前探测器是紧凑的,并且提高了测斜仪的分辨率和可检测角度范围。