用于确定手持测量仪的空间位置的方法和系统

    公开(公告)号:CN100580373C

    公开(公告)日:2010-01-13

    申请号:CN200480027480.5

    申请日:2004-09-21

    IPC分类号: G01C15/00

    CPC分类号: G01C15/002 G01S17/06

    摘要: 本发明的目的是确定测量仪(4b)的实际位置和/或实际方位。为此,检测位于由激光束扫描的空间段(5′)上的至少两个基准点(2b′),并测量两者之间的距离及其倾角。可以从以可检测的方式排列的所述基准点(2b′)的已知位置以及相关的该基准点的距离和倾角中推导测量仪(4b)的实际位置。由测量仪(4b)以自动的方式来执行对基准点的检测、监控和测量,所述测量仪(4b)和与基准点(2b′)相关的具体实现的元件形成本地位置和/或方位测量系统。即使在其他测量系统无法到达的区域内,执行本发明方法及对应的设备也可以使测量毫无问题地且以自动的方式进行。

    具有谱和空间选择性特征的电子测距仪

    公开(公告)号:CN1942780B

    公开(公告)日:2012-07-04

    申请号:CN200580012021.4

    申请日:2005-04-01

    IPC分类号: G01S7/481

    CPC分类号: G01S7/4818 G01S7/4812

    摘要: 本发明提供一种具有谱和空间选择性特征的电子测距仪。本发明公开了一种测距仪,特别地用于对表面进行测量的支持陆地或支持航天应用的望远镜阵列。所述测距仪至少包括:辐射源,用于向待勘测目标发射特别是激光的电磁辐射(ES);具有传感器(11)的接收器单元,所述接收器单元用于接收由所述目标反射的辐射(S)并用于导出距离信息;以及第一谱滤光器组件(4)。根据本发明,对所述反射的辐射(S)的接收的角度范围通过至少一个空间滤光器组件(6、6’),特别是作为辐射源和接收器组件的光纤激光器而受限。

    光学测斜仪
    8.
    发明授权

    公开(公告)号:CN100520295C

    公开(公告)日:2009-07-29

    申请号:CN200480017565.5

    申请日:2004-06-01

    IPC分类号: G01C9/20 G01C9/06 G02B26/06

    摘要: 本发明涉及一种光学测斜仪。根据本发明,诸如液体表面的取决于倾斜度的介质(6)定位在光学子系统的光瞳中,可检测的波前通过所述介质(6)在检测器(3’)上成像。所述介质(6)引起从辐射源(11)发射的辐射(S)的相移;辐射(S)与介质(6)进行反射或透射相互作用。可以通过波前探测器来分析介质(6)引起的波前的偏差并通过评估单元(9’)或检测器(3’)对其进行补偿。在各子孔径之前形成有衍射结构的波前探测器是紧凑的,并且提高了测斜仪的分辨率和可检测角度范围。

    具有谱和空间选择性特征的电子测距仪

    公开(公告)号:CN1942780A

    公开(公告)日:2007-04-04

    申请号:CN200580012021.4

    申请日:2005-04-01

    IPC分类号: G01S7/481

    CPC分类号: G01S7/4818 G01S7/4812

    摘要: 本发明提供一种具有谱和空间选择性特征的电子测距仪。本发明公开了一种测距仪,特别地用于对表面进行测量的支持陆地或支持航天应用的望远镜阵列。所述测距仪至少包括:辐射源,用于向待勘测目标发射特别是激光的电磁辐射(ES);具有传感器(11)的接收器单元,所述接收器单元用于接收由所述目标反射的辐射(S)并用于导出距离信息;以及第一谱滤光器组件(4)。根据本发明,对所述反射的辐射(S)的接收的角度范围通过至少一个空间滤光器组件(6、6’),特别是作为辐射源和接收器组件的光纤激光器而受限。