提取刀具参数的系统和方法

    公开(公告)号:CN101246506A

    公开(公告)日:2008-08-20

    申请号:CN200710087996.4

    申请日:2007-02-16

    Abstract: 提供一种用于提取刀具参数的方法。该方法包括获得具有与刀具表面相应的点云的测量数据集并且在预定截面上虚拟分割该点云以获得预定的截面上的点集。该方法还包括通过该点集生成多条曲线并且优化该多条曲线以生成优化的拟合曲线并且从该优化的拟合曲线中提取刀具的参数。此外,基于本旋转角度投影技术,可以提取刀具的多个参数。

    用于检查物体的方法和设备

    公开(公告)号:CN1963381A

    公开(公告)日:2007-05-16

    申请号:CN200610164125.3

    申请日:2006-10-24

    Inventor: K·G·哈丁

    CPC classification number: G01B11/2509

    Abstract: 一种利用结构光测量系统(10)来检查物体(12)的方法(34),该结构光测量系统包括光源(22)和成像传感器(24)。所述方法包括:从光源发射(36)光;在不同的偏振角处使从光源发射的多个不同波长中的每个波长的光偏振(38);将从光源发射的光投射(40)到物体的表面上;利用成像传感器接收(42)从物体表面反射的光;以及分析(46)由成像传感器所接收的光以便于检查物体的至少一部分。

    用于检查物体的方法和设备

    公开(公告)号:CN1963381B

    公开(公告)日:2012-07-04

    申请号:CN200610164125.3

    申请日:2006-10-24

    Inventor: K·G·哈丁

    CPC classification number: G01B11/2509

    Abstract: 一种利用结构光测量系统(10)来检查物体(12)的方法(34),该结构光测量系统包括光源(22)和成像传感器(24)。所述方法包括:从光源发射(36)光;在不同的偏振角处使从光源发射的多个不同波长中的每个波长的光偏振(38);将从光源发射的光投射(40)到物体的表面上;利用成像传感器接收(42)从物体表面反射的光;以及分析(46)由成像传感器所接收的光以便于检查物体的至少一部分。

    用于刻划多层面板的方法和系统

    公开(公告)号:CN102447007A

    公开(公告)日:2012-05-09

    申请号:CN201110309925.0

    申请日:2011-09-28

    CPC classification number: B23K26/032 B23K2103/50 H01L31/0463 Y02E10/50

    Abstract: 本发明名称为“用于刻划多层面板的方法和系统”。本发明提供一种刻划多层面板的方法。该方法包括(a)提供包括衬底层、布置在其上的透明传导层、布置在透明传导层上的第一半导体层的多层面板;(b)相对于激光加工装置来配置多层面板,加工装置包括激光头和光传感器;(c)引导激光头相对于多层面板的运动,使得激光束沿跨面板的横越线而接触面板,入射在面板上的激光束具有烧蚀激光束照射的区域内多层面板的一个或多个层的足够能量以提供刻划的面板;(d)同时用第一光源来照射刻划的面板;以及(e)在光传感器实时地检测从刻划的面板显现的光。还提供了一种用于刻划多层面板的系统。

    测量物体形状的方法和装置

    公开(公告)号:CN100520287C

    公开(公告)日:2009-07-29

    申请号:CN200510108755.4

    申请日:2005-09-30

    Inventor: Q·胡 K·G·哈丁

    CPC classification number: G01B11/2527 G06T7/521

    Abstract: 按照本发明的一个方面,提供测量物体(12)形状的系统(10)。所述系统包括投影系统(14),用于将具有干涉条纹参考标记的干涉条纹图投影到物体(12)上。所述系统还包括图像处理系统(26),用于捕获由物体(12)所调制的干涉条纹图的图像(20)。图像处理系统(26)还可用于识别干涉条纹图的图像中的参考标记,根据参考标记来构建物体的形状。

    侧面照明的三维边缘定位方法

    公开(公告)号:CN100419375C

    公开(公告)日:2008-09-17

    申请号:CN03107988.1

    申请日:2003-03-28

    Inventor: K·G·哈丁

    CPC classification number: G01B11/2433

    Abstract: 用于定位部件的边缘以便对部件进行验收测试的设备和方法。白光源(12)照亮了安装在支承件(14)上并相对于光源转动的部件。由部件反射的光沿着部件的边缘产生了部件的轮廓。通过照相机(16)来观察该部件以便获得包括其边缘的部件的图像。处理器(18)分析该图像以便在三维空间中定位部件的边缘。图像的分析包括:在部件相对于光源转动时,在部件的边缘处确定包括所观察到的图像的像素的数量。该部件具有一个以上的边缘,并且每个边缘利用该方法定位。部件的边缘的位置现在用于一坐标系中以便定位部件的其他表面结构。

    光学边折测量仪
    19.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101029819A

    公开(公告)日:2007-09-05

    申请号:CN200610064202.8

    申请日:2006-11-15

    CPC classification number: G01B11/2513

    Abstract: 一种投射装置,将结构化光图案沿着第一光轴投射到表面。附于该投射装置的观察器接收该结构化光图案从该表面沿着第二光轴的反射,并数字化二维快照。这些光轴不平行,并且它们在该投射装置和该观察器的公共视场中相遇。连接到该观察器的计算机接收数字化快照,并分析它以便为表面建立数学模型,供显示和探查。该投射装置和附连的观察器设计成具有手柄和触发快照的触发按钮的手持单元。位于该单元上的引导端部在两个光轴旁边延伸至公共视场以定位该手持单元。

    用于检查物体的方法和设备

    公开(公告)号:CN1955723A

    公开(公告)日:2007-05-02

    申请号:CN200610143649.4

    申请日:2006-10-24

    CPC classification number: G01B11/2513 F01D5/005 G01B5/205 G06T7/521

    Abstract: 一种用于生成与光测量系统(10)一起使用的光罩(50、52)的方法(72),光测量系统(10)包括用于将光投射到物体(12)上的光源(22),和用于接收从物体反射的光的成像传感器(24)。该方法包括确定(74)要检查的物体的轮廓(56),并且基于所确定的物体轮廓生成(86)电子光罩。电子光罩具有电子开口(62、68),电子开口(62、68)具有定义为从光源和成像传感器其中之一的视角来看基本上与所确定的物体轮廓匹配的轮廓(64、70)。

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