一种低宏弯损耗的单模耦合光纤

    公开(公告)号:CN109358391A

    公开(公告)日:2019-02-19

    申请号:CN201810571462.7

    申请日:2018-06-06

    IPC分类号: G02B6/036 G02B6/02

    摘要: 本发明公开了一种低宏弯损耗的单模耦合光纤,自内至外依次包括:内芯层、外芯层、内包层、过渡包层、以及外包层;所述外芯层,其折射率剖面为阶梯状从内芯层光纤折射率过渡到内包层光纤折射率;所述过渡包层其折射率剖面为阶梯状从内包层过渡到外包层。本发明光纤的芯层折射率为阶梯状结构,使从芯层到包层的光纤材料由高浓度锗掺杂线性减小,芯层中的掺杂呈线性变化而不是突变。内包层和外包层直径引入过渡包层,使光纤材料由较多的氟掺杂平缓过渡到纯石英材料,减小光纤在热处理过程中由于材料组分突变带来的高附加损耗。

    一种光纤微弯工装、微弯测试系统及方法

    公开(公告)号:CN117347009A

    公开(公告)日:2024-01-05

    申请号:CN202311292885.2

    申请日:2023-09-28

    摘要: 本发明提供一种光纤微弯工装、微弯测试系统及方法,包括桶体、粘附层以及底部光纤,所述粘附层设置在所述桶体的外表面,所述底部光纤粘贴在所述粘附层上,所述底部光纤包括多种不同外径光纤,且每所述不同外径光纤均呈一定的绕线角度和绕线间隔缠绕在所述桶体外侧,且多种所述不同外径光纤均呈一定的宽度粘贴在所述桶体表面形成不同微弯区域。本发明不仅可以提高光纤微弯测试结果的准确性,并且在需要评估光纤多种微弯尺寸的情况时,还可以有效避免多次测试、耗时费力的情况,同时还能改善测试重复性带来的误差较大导致测试结果不准的情况。

    一种多模光纤差分模时延和带宽的测量装置、测量方法

    公开(公告)号:CN115801638A

    公开(公告)日:2023-03-14

    申请号:CN202211510052.4

    申请日:2022-11-29

    IPC分类号: H04L43/0852 H04L43/0888

    摘要: 本发明属于光纤测试技术领域,公开了一种多模光纤差分模时延和带宽的测量装置、测量方法。本发明提供的测量装置主要包括测试光源单元、成像单元、位移调节单元、信号检测单元和光路切换单元,本发明利用光路切换单元进行光学功能的灵活切换,能够根据测试步骤的需要与其他功能单元灵活构成多种光路,进而完成整个测量过程,能够极大地减小整个装置的体积。本发明给出了具体的测量装置和测量步骤,能够为本领域技术人员实现多模光纤差分模时延和带宽的测量提供具体的技术参考。

    一种PCVD工艺制备光纤预制棒的方法

    公开(公告)号:CN109608031A

    公开(公告)日:2019-04-12

    申请号:CN201910126325.7

    申请日:2019-02-20

    IPC分类号: C03B37/018

    摘要: 本发明涉及一种PCVD工艺制备光纤预制棒的方法,用纯石英玻璃衬管为基管,经清洗干燥后,装夹于PCVD沉积机床上,基管穿过微波谐振腔并置于保温炉内,两端由旋转夹头装夹,保温炉提供800~1200℃的沉积环境温度,谐振腔产生高频功率沿基管轴向往复移动进行PCVD沉积,参与沉积的混合气体持续从基管的一端进入管内,基管的另一端为出气端,出气端通过管道连接真空泵,沉积完成后,将沉积完衬管进行熔缩得到实心预制棒,其特征在于所述的沉积前的基管内孔全部或部分为锥孔段。本发明实施简便,实用性强,能弥补管内沉积物质分布差异导致的PCVD沉积不均匀,提高光纤预制棒轴向参数均匀性,从而提升光纤性能。

    一种用于测量光纤静态疲劳参数的穿纤装置

    公开(公告)号:CN218885588U

    公开(公告)日:2023-04-18

    申请号:CN202222997563.5

    申请日:2022-11-10

    摘要: 本实用新型属于光纤检测技术领域,公开了一种用于测量光纤静态疲劳参数的穿纤装置,包括底座、安装在底座上的玻璃管、导引管、切割机构和推进机构,玻璃管沿第一方向布设,导引管沿第二方向布设,第一方向与第二方向垂直,光纤样品穿入导引管中,导引管上沿第一方向开设有缺口,切割机构的刀口与缺口的两侧相配合,切割机构用于对光纤样品进行切割得到光纤样品段,推进机构的推进端能够在缺口内沿第一方向往复移动,推动光纤样品段至玻璃管内。利用本实用新型提供的装置能够实现高效、高质量的穿纤。