表面检查装置、表面检查方法、缺陷自动修理系统以及程序

    公开(公告)号:CN118414540A

    公开(公告)日:2024-07-30

    申请号:CN202280083390.6

    申请日:2022-12-09

    Inventor: 相马祥人

    Abstract: 表面检查装置(3)具备:图像取得单元(31),取得在使对工件(100)的涂装表面的被检查部位进行照明的照明装置(1)的明暗图案相对于工件(100)相对地移动的状态下由摄像装置(2)摄像的关于被检查部位的多个图像;运算单元(32),关于取得的多个图像,计算表示表面缺陷的特征量;推测单元(33),利用计算的特征量的变化,推测成为表面缺陷的原因的异物从涂装表面起的深度。

    布帛用处理剂、印染用油墨组、印染方法以及印染布帛

    公开(公告)号:CN115613376B

    公开(公告)日:2024-07-12

    申请号:CN202210811518.8

    申请日:2022-07-11

    Inventor: 加藤舞 仁藤谦

    Abstract: 本发明的布帛用处理剂是基于升华色材的印染中使用的布帛用处理剂,所述布帛用处理剂含有色材捕捉化合物,所述色材捕捉化合物通过基于下述条件的纸色谱法求得的Rf值为0.7以下。〔纸色谱法的条件〕步骤1:使所述色材捕捉化合物的10%溶液含浸至纤维素滤纸中后,使其干燥,制作担体。步骤2:将所述升华色材的四氢呋喃0.1%溶液点加至所述担体后,使其干燥,制作展开样品。步骤3:在25℃下,以乙腈使所述展开样品展开3分钟。步骤4:根据下述式求出Rf值。式:Rf值=所述升华色材的展开距离/乙腈的展开距离。

    制造方法、信息处理装置、信息处理系统、记录介质、膜

    公开(公告)号:CN118163394A

    公开(公告)日:2024-06-11

    申请号:CN202311680116.X

    申请日:2023-12-07

    Abstract: 本发明提供膜的制造方法、信息处理装置、信息处理系统、储存有信息处理程序的计算机能够读取的记录介质以及膜,其能够一边维持生产性,一边高品质地制造膜。本发明提供一种包含环烯烃树脂的膜的制造方法,该膜的制造方法包括:获取工序,获取与针对上述膜以及上述膜的制造装置中的至少一方在1300nm以上且1600nm以下的波长区域的至少一部分中测定出的光谱相关的光谱信息;以及输出工序,基于所获取的上述光谱信息,输出规定的信息。

    测光装置以及测光方法
    26.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118111672A

    公开(公告)日:2024-05-31

    申请号:CN202311580776.0

    申请日:2023-11-24

    Abstract: 提供一种测光装置以及测光方法,无需准备针对每个开口角设计的光学系统,而能够抑制由于开口角的差异引起的测定值的误差。测光装置(100)具备:聚光单元(110),由将来自被测定物(200)的光进行聚光而射出光束(302)的远心光学系统构成;以及光圈(120),配置于聚光单元(110)的后方,并且具有能够变更尺寸的开口部(121),通过开口部(121)的尺寸变更而使从聚光单元(110)射出的光束(302)受限地通过。

    叠层体的制造方法
    28.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118043205A

    公开(公告)日:2024-05-14

    申请号:CN202280060814.7

    申请日:2022-06-28

    Abstract: 本发明涉及一种叠层体的制造方法,其为具有支撑体和可剥离地配置在所述支撑体上的透光性树脂层的叠层体的制造方法,其中,所述制造方法包含:在支撑体上涂布用于形成透光性树脂层的树脂溶液,使得涂布厚度a(μm)与所述支撑体的厚度b(μm)之比a/b为0.5~5.8的工序;对树脂溶液的涂膜进行加热而使其干燥的工序;维持在比加热时的温度低的温度,将具有涂膜的支撑体的宽度方向端部的卷曲量调节为5~50mm的工序;以及对卷曲量经过调节的具有涂膜的支撑体进行加热处理的工序。

    图像形成装置及记录介质
    29.
    发明授权

    公开(公告)号:CN112445094B

    公开(公告)日:2024-05-14

    申请号:CN202010855949.5

    申请日:2020-08-24

    Abstract: 课题在于,提供用于以对用户而言优选的方式显示纸张的种类的检测结果的图像形成装置及记录介质。解决手段在于,图像形成装置依照从第1显示模式及第2显示模式之中选择的模式,对片材保持部件上载放的片材的种类进行显示,第1显示模式是从第1数量的种类之中选择片材保持部件上载放的片材的种类的模式,第2显示模式是从比第1数量少的第2数量的种类中选择片材保持部件上载放的片材的种类的模式。

    相位差膜的取向不均缺陷检测方法以及取向不均缺陷检测装置

    公开(公告)号:CN114096833B

    公开(公告)日:2024-05-10

    申请号:CN202080050402.6

    申请日:2020-06-30

    Abstract: 本发明的课题在于提供通过基于光学系统的定量评价来进行相位差膜的取向不均缺陷的检测和评价、从而能够提高评价再现性的相位差膜的取向不均缺陷检测方法以及取向不均缺陷检测装置。本发明的相位差膜的取向不均缺陷检测方法具有下述步骤(1)~(5)。(1)在正交尼科耳配置的2张偏光板之间以所述相位差膜的迟相轴相对于偏光板的吸收轴倾斜‑10°~10°的方式旋转地配置。(2)经由一方的偏光板对所述相位差膜照射检查光。(3)经由另一方的偏光板对相位差膜进行摄影而得到亮度图像。(4)相对于所述相位差膜的迟相轴在倾斜方向上对摄影到的亮度图像进行微分(差分)处理而强调边缘部分。(5)利用预定的阈值对边缘强调后的亮度图像进行二值化,得到亮像素或者暗像素,从该像素检测取向不均。

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