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公开(公告)号:CN110207405A
公开(公告)日:2019-09-06
申请号:CN201910390715.5
申请日:2019-05-10
Applicant: 哈尔滨工业大学 , 北京锐驰恒业仪器科技有限公司 , 江苏锐精光电有限公司
Abstract: 本发明公开了一种集光器用集光孔阵列板,包括:集光器;集光器上具有透镜阵列板、导光槽和侧向集光器,自然光照射面为平面,平面的相对面均匀排布透镜;在透镜阵列板和导光槽之间设置有集光孔阵列板,集光孔阵列板包括:主体板、集光孔、多面反射体和反射膜;集光孔开设在主体板上,且集光孔与透镜相匹配;多面反射体固定于主体板远离透镜的一侧,且多面反射体设置有主反射面,集光孔内的自然光通过主反射面进行反射,通过主反射面的自然光照射到侧向集光器;主体板远离透镜的一侧镀有反射膜;多面反射体除与主体板接触面均镀有反射膜。本发明提供了一种集光器用集光孔阵列板,不仅具有薄型化的优点,而且能够大大增加太阳光的收集效能。
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公开(公告)号:CN108020174B
公开(公告)日:2019-06-11
申请号:CN201711242382.9
申请日:2017-11-30
Applicant: 哈尔滨工业大学 , 北京锐驰恒业仪器科技有限公司
IPC: G01B11/25
Abstract: 基于结构光照明的面形测量装置和方法,属于光学显微成像与测量技术领域。本发明专利的技术特点是:装置包括:结构光照明模块、轴向扫描模块和探测模块。本发明在常规结构光照明显微系统中增加由偏振分光镜、低孔径物镜、管镜和平面反射镜等组成的轴向扫描装置,实现结构光照明条纹在被观测样品空间的高速轴向移动,并且利用窗口傅里叶变换对不同z向位置条纹投影下拍摄的图片进行处理,计算每个子区域图像在投影条纹频率处的相关系数,获取每个横向位置清晰度轴向响应曲线,曲线的峰值位置即为样品该横向位置的相对高度,最终获取样品表面面形。该发明具有装调简单,轴向扫描速度快,测量结果受样品表面反射率差异影响小和信噪比高的优点。
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公开(公告)号:CN109596063A
公开(公告)日:2019-04-09
申请号:CN201811496695.1
申请日:2018-12-07
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01B11/24
Abstract: 多波长高分辨力立体视觉测量系统与方法光学非接触三维测量领域,具体涉及一种利用立体视觉与扫描放大测量系统联用测量大尺度三维物体形貌、形变、位移等的系统和方法;该系统有多个多波长高分辨力立体视觉单目测量装置组成,每一个多波长高分辨力立体视觉单目测量装置包括激光照明模块、视觉摄像模块、扫描放大测量模块;该方法首先将待测物体放置在本装置视场范围及清晰成像范围内;其次,利用扫描放大测量模块通过摄像模块逐点扫描整个物体;利用视觉三维成像原理对采集到的图片进行处理得到高分辨力的物体三维形貌;本发明可以显著提高大尺度视觉系统的测量分辨力。
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公开(公告)号:CN106970461B
公开(公告)日:2019-04-05
申请号:CN201710408790.0
申请日:2017-06-02
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G02B21/08
Abstract: 本发明基于椭球面反射镜的全内反射荧光显微成像装置属于光学显微照明领域;该装置采用了由遮光片调制的环形光,经过照明物镜聚焦后发散,通过椭球面反射镜反射后,光线聚焦在椭球面反射镜第二焦点处,产生了在椭球面第一焦点处的聚焦的大顶角空心锥光束,进而实现了全内反射荧光成像现象;在照明光能量一定的情况下,该装置能够大幅度提高能量利用率,提高照明强度,并且椭球反射镜能够对任意照明方向光线进行反射,产生照明方向0°~360°的照明光线,实现了无阴影照明,并且能够弱化相干光的干涉条纹、增加图像信噪比,使得成像质量得到提高。
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公开(公告)号:CN109470711A
公开(公告)日:2019-03-15
申请号:CN201811497522.1
申请日:2018-12-07
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N21/88
Abstract: 本发明提供一种遮挡式暗场共焦亚表面无损检测装置和方法,属于光学精密测量技术领域。点光源发出的光依次经过准直镜、遮挡式环形光发生器、分光棱镜和物镜,物镜将激光汇聚至待测样品,载有待测样品信息的反射光和散射光依次经过物镜和分光棱镜,入射至探测互补光阑,反射光被探测互补光阑遮挡,散射光依次经过探测互补光阑、收集透镜和探测针孔,最终入射至光电探测器,从而完成对亚表面的检测。本发明采用遮挡式环形光发生器生成环形光,采用环形光束照明样品,结合探测互补光阑实现暗场共焦,解决了普通共焦显微技术检测亚表面损伤信噪比低的问题,装置简单易于实现,适用于亚表面无损检测。
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公开(公告)号:CN109458950A
公开(公告)日:2019-03-12
申请号:CN201811494394.5
申请日:2018-12-07
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种基于中介层散射的针孔随动共焦显微装置和方法,属于光学精密测量技术领域,为了解决共焦显微技术测量大口径高陡度光学元件测量效率低的问题。激光器发出的照明激光光通过耦合光纤输出,依次经过准直镜、物镜,物镜将激光汇聚至镀有荧光膜的待测样品,样品激发的荧光依次经过物镜、准直镜,耦合光纤、滤光片,最终入射至光电探测器,高速微位移执行器带动耦合光纤扫描,从而完成对被测点的测量。本发明适用于测量大口径高陡度光学元件表面轮廓。
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公开(公告)号:CN108088653A
公开(公告)日:2018-05-29
申请号:CN201711242335.4
申请日:2017-11-30
Applicant: 哈尔滨工业大学 , 北京锐驰恒业仪器科技有限公司
Abstract: 共焦显微镜模式像差矫正方法,属于自适应光学和共焦显微成像技术领域,本发明为了解决现有光学系统的装配误差和光学元件的面形偏差会造成像差,导致焦斑歪曲和分辨率降低的问题。该方法依次加载不同幅值第4-11阶Zernike项偏置像差,计算相应图像灰度方差函数值,以此利用质心法计算相应像差系数,比较得到像差系数小于0.7rad清零,其余项预先矫正,再重新线性计算像差系数,最后利用两次系数之和进行像差矫正。本发明共焦显微镜模式像差矫正方法,通过空间光调制器反向补偿由光学系统的装配误差与光学元件的面形偏差引起的波前畸变,有效克服共焦显微系统的像差影响,提升其成像质量与分辨率。
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公开(公告)号:CN107991235A
公开(公告)日:2018-05-04
申请号:CN201711238228.4
申请日:2017-11-30
Applicant: 哈尔滨工业大学 , 北京锐驰恒业仪器科技有限公司
Abstract: 共焦显微镜模式像差矫正装置,属于自适应光学和共焦显微成像技术领域,本发明为了解决现有现有像差矫正装置过于复杂、操作不便且样品预处理步骤复杂的问题。激光器发出的激光经双面45°反光镜的一侧反光镜面反射后途经分束镜到达半波片,经半波片调制后射入至空间光调制器,再经空间光调制器调制后射回至分束镜,再经分束镜反射至反射镜,然后经光阑滤除高阶衍射杂光后射到双面45°反光镜的另一侧反光镜面,经双面45°反光镜再次反射后经过偏振分束镜射至XY扫描振镜上。本发明的共焦显微镜模式像差矫正装置可在不增加样品操作以及成像装置最简化的情况下达到图像幅值增加百分之44和成像质量提升百分之17的效果。
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公开(公告)号:CN106970461A
公开(公告)日:2017-07-21
申请号:CN201710408790.0
申请日:2017-06-02
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G02B21/08
CPC classification number: G02B21/08
Abstract: 本发明基于椭球面反射镜的全内反射荧光显微成像装置属于光学显微照明领域;该装置采用了由遮光片调制的环形光,经过照明物镜聚焦后发散,通过椭球面反射镜反射后,光线聚焦在椭球面反射镜第二焦点处,产生了在椭球面第一焦点处的聚焦的大顶角空心锥光束,进而实现了全内反射荧光成像现象;在照明光能量一定的情况下,该装置能够大幅度提高能量利用率,提高照明强度,并且椭球反射镜能够对任意照明方向光线进行反射,产生照明方向0°~360°的照明光线,实现了无阴影照明,并且能够弱化相干光的干涉条纹、增加图像信噪比,使得成像质量得到提高。
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公开(公告)号:CN104296685B
公开(公告)日:2016-09-28
申请号:CN201410617212.4
申请日:2014-11-05
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01B11/24
Abstract: 基于差动STED测量光滑自由曲面样品的装置和方法属于光学显微测量领域。本发明在光滑自由曲面样品表面镀上一层荧光膜,利用荧光膜在激光照射下向各个方向辐射荧光的特性,避免光束在光滑自由曲面发生镜面反射导致信号光难以收集的问题;同时,采用STED显微术原理,将两束不同波长脉冲激光光束会聚成的光斑重合,位于光斑中心区域的样品上的荧光膜激发出荧光,位于光斑内但不在光斑中心区域中的荧光膜发生退激发,不发出荧光,从而实现对样品的超分辨成像;采用差动探测结构,将收集到的两路信号进行差分运算得到差动响应曲线,通过差动响应曲线零点来确定样品表面位置,最终解决高精度测量具有较大斜率的光滑自由曲面样品形貌的问题。
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