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公开(公告)号：CN103472036A
公开(公告)日：2013-12-25
申请号：CN201310455615.9
申请日：2013-09-29
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于脉冲激光辐照的半透明介质辐射特性测量方法，本发明涉及基于脉冲激光辐照的半透明介质辐射特性测量方法。它为了解决现有的基于透射、反射辐射信号测量的半透明介质辐射参数测量方法中测量方法复杂、速度慢、准确性差的问题。本发明通过将激光光源照射在待测半透明介质制的一侧表面，待测半透明介质制两侧均匀涂敷黑体涂层，均涂敷有黑体涂层的半透明介质的一侧表面，采用热电偶测温仪测量并记录介质两表面温度随时间的变化。根据两表面随时间变化的温度，通过逆问题算法获得待测半透明介质的吸收系数和散射系数。本发明适用于航空航天、军事、能源、化工、生物医疗及大气科学等多个领域。
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公开(公告)号：CN103091252A
公开(公告)日：2013-05-08
申请号：CN201310047855.5
申请日：2013-02-06
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于红外测温仪的材料发射率测量方法，属于高温不透明材料热物性测量技术领域；本发明是为了解决现有材料发射率测量方法的测量结果精确度差、使用复杂和测量速度慢的问题；本发明首先使用红外测温仪对黑体炉的温度进行测量，并通过计算得到红外测温仪接收的杂散辐射能，然后使用热电偶测温仪对待测材料所制成的试件表面温度进行测量，得到了试件表面的真实温度；本发明设计实现了在五种设定红外测温仪发射率条件下使用测量试件表面温度，得到五个测量温度值，利用五个设定发射率和五个测量温度值代入计算公式得到五个材料发射率，并取其平均值获得待测材料发射率，本发明主要应用在高温不透明材料发射率测量技术领域。
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公开(公告)号：CN102279049A
公开(公告)日：2011-12-14
申请号：CN201110197454.9
申请日：2011-07-14
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01J3/28
Abstract: 高温粒子红外光谱辐射特性的测量装置及测量方法，涉及一种弥散颗粒红外光谱辐射特性的测量装置及测量方法，它解决了现有技术无法测量高温连续光谱范围内自然状态粒子辐射特性的问题。本发明采用环境补偿算法，实现了对自然状态下高温粒子光谱等效透射比的测量，确定了对连续光谱范围内高温粒子辐射特性测量的适用性，并为进一步反演高温粒子复折射率的研究提供可靠的实验数据和实验装置，本发明的测量不确定度小于2％。本发明可以广泛应用于化工、冶金、动力、建筑、医药、生物、食品、航天、军事及大气科学等领域。
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公开(公告)号：CN105571741B
公开(公告)日：2018-06-12
申请号：CN201510889096.6
申请日：2015-12-04
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01K11/00
Abstract: 基于微透镜阵列与连续激光的火焰温度泛尺度光场探测方法，涉及高温热辐射测量技术领域。本发明是为了适应火焰光场探测中对于泛尺度分析的需求。本发明所述的基于微透镜阵列与连续激光的火焰温度泛尺度光场探测方法利用具有微透镜阵列的光场相机获取高温火焰不同方向上的辐射强度信息，通过将连续激光照射到火焰上，由探测器接收到的介质边界上的出射光谱辐射强度通过逆问题求解得到介质的光谱辐射特性参数，结合火焰自身的出射辐射强度重建出高温火焰的三维温度场。通过本发明能够实现对高温火焰的辐射特性参数和温度场的重建，并为光场相机的标定、测量等工作提供理论基础。
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公开(公告)号：CN105547469B
公开(公告)日：2018-01-30
申请号：CN201510889073.5
申请日：2015-12-04
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01J1/42
Abstract: 基于微透镜阵列与脉冲激光的火焰温度泛尺度光场探测方法，涉及高温热辐射测量技术领域。本发明是为了适应火焰光场探测中对于泛尺度分析的需求。本发明所述的基于微透镜阵列与脉冲激光的火焰温度泛尺度光场探测方法，利用具有微透镜阵列的光场相机获取高温火焰不同方向上的辐射强度信息，通过将脉冲激光照射到火焰上，由探测器接收到的介质边界上的出射光谱辐射强度通过逆问题求解得到介质的光谱辐射特性参数，结合火焰自身的出射辐射强度重建出高温火焰的三维温度场。通过本发明的仿真计算，可实现对高温火焰的辐射特性参数和温度场的重建，并为光场相机的标定、测量等工作提供理论基础。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104634705B
公开(公告)日：2017-06-23
申请号：CN201510104613.4
申请日：2015-03-11
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种基于连续激光的球形颗粒光谱复折射率与颗粒系粒径分布的获得方法，属于颗粒光学特性测量技术领域。它为了解决常规的球形颗粒光谱复折射率与颗粒系粒径分布获得方法不能直接测量以及测量结果不准确的问题。本发明通过建立球形颗粒系反射信号、透射信号和准直透射信号测量的正问题和逆问题求解模型，同时反演得到球形颗粒的光谱复折射率以及颗粒系粒径分布情况。本发明采用连续激光，该激光器价格低且模型简单，便于理论求解；采用Mie理论模型，能够精确的反应出颗粒的电磁散射特性；采用量子微粒群优化算法，具有简单、高效和灵敏度高等优点。本发明适用于颗粒光学特性的测量。
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公开(公告)号：CN106383072A
公开(公告)日：2017-02-08
申请号：CN201610907546.4
申请日：2016-10-17
Applicant: 哈尔滨工业大学
CPC classification number: G01N15/0205 , G01N15/0211 , G01N21/41 , G01N21/51 , G01N21/59
Abstract: 基于多角度光散射-透射法的球形颗粒光学常数与粒径分布同时测量方法，涉及参与性介质辐射物性测量技术领域。本发明为了解决基于逆问题求解的参与性介质辐射参数测量中，实验测量值误差大、测量信号较弱的问题。本发明是利用连续稳态激光照射颗粒系统样品表面，通过在不同散射角度位置布置光学探测器，然后测量不同角度的稳态激光的散射光学信号强度以及半球透射信号，然后结合这些信号并通过逆问题求解技术获得球形颗粒光学常数与颗粒系粒径分布。本发明适用于基于多角度光散射-透射法的球形颗粒光学常数与粒径分布同时测量。
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公开(公告)号：CN103528978B
公开(公告)日：2016-04-20
申请号：CN201310533554.3
申请日：2013-11-01
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 利用脉冲激光加热产生的瞬态光热信号测量半透明材料热物性参数的方法，本发明涉及一种测量半透明材料热物性参数的方法。其步骤为：激光照射半透明材料的一侧表面，利用热电偶测温仪测量并记录材料两表面温度随时间的变化，同步使用激光功率计分别测量试件激光入射侧的半球反射辐射信号和激光出射侧的半球透射辐射信号。根据激光透射辐射信号、反射辐射信号以及两表面随时间变化的温度，通过逆问题求解技术获得半透明材料的吸收系数、散射系数和导热系数。本发明通过建立测量半透明材料吸收系数、散射系数和导热系数的正、逆问题模型，能简单、快速、准确的利用逆问题求解技术同时测量半透明材料吸收系数、散射系数和导热系数。
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公开(公告)号：CN103674888B
公开(公告)日：2015-11-11
申请号：CN201310721986.7
申请日：2013-12-24
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N21/3563
Abstract: 高温半透明材料光谱方向表观发射率逆推测量装置及方法，属于高温材料热物性测量技术领域。本发明是为了解决目前半透明材料光谱方向表观发射率测量精度低、温度上限低、测量波段窄并且存在测量死角的问题。本发明利用傅里叶红外光谱仪分别对半透明材料的高温法向透射率和高温法向发射率进行测量，继而根据辐射传输逆问题求解方法计算得到半透明材料的光谱折射率和光谱吸收系数，最终由材料的光谱折射率和光谱吸收系数计算得到半透明材料高温光谱方向表观发射率。本发明提供了一种可靠的可对半透明材料高温光谱方向表观发射率进行准确测量的测量方法，可以广泛应用于航空航天、军事、能源、化工、以及大气科学等诸多领域。
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公开(公告)号：CN103630567B
公开(公告)日：2015-09-09
申请号：CN201310716967.5
申请日：2013-12-23
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 用于测量半透明材料试样发射率的抗背景噪声的试样加热系统，它涉及一种加热系统，属于半透明材料加热技术领域。本发明为了解决现有半透明材料发射率测量装置中的材料试样加热系统体积庞大、结构复杂、试样背景辐射特性复杂、成本高的技术问题。本发明包括加热器和PID温度控制器，加热器包括加热器壳体、方形弹簧固定片、加热片电源引线、圆形平板电阻加热片、温度传感器探头、加热器保温层和温度传感器引线。本发明在加热片的半透明材料试样侧涂有黑体涂层，使得试样加热过程中背景辐射特性简单，有利于半透明材料发射率测量中背景辐射的扣除；本发明采用电阻加热片直接加热的方式，具有体积小、结构简单、加热快、成本低、耗能低的优点。
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