采用多频调制激光加热与光热信息重建技术的半透明材料辐射特性测量方法

    公开(公告)号:CN103528963B

    公开(公告)日:2016-02-17

    申请号:CN201310533552.4

    申请日:2013-11-01

    Abstract: 采用多频调制激光加热与光热信息重建技术的半透明材料辐射特性测量方法,涉及一种测量半透明材料辐射特性参数的方法。其步骤为:分别采用不同频率的激光照射半透明材料的一侧表面,使用光电探测器分别测量在该入射激光频率下材料激光入射侧的频域半球反射辐射信号和激光出射侧的频域半球透射辐射信号,同时利用热电偶测温仪测量并记录材料两表面温度随时间的变化。根据频域半球反射辐射信号、频域半球透射辐射信号以及两表面随时间变化的温度,通过逆问题求解技术获得半透明材料的衰减系数和反照率。本发明通过建立测量半透明材料衰减系数和反照率的正、逆问题模型,能简单、快速、准确的利用逆问题求解技术同时测量半透明材料衰减系数和反照率。

    水中悬浮颗粒物上痕量吡哌酸萃取富集和定量的方法

    公开(公告)号:CN104133033B

    公开(公告)日:2016-01-06

    申请号:CN201410416629.4

    申请日:2014-08-22

    Abstract: 本发明公开了一种水中悬浮颗粒物上痕量吡哌酸萃取富集和定量的方法,将目标水样用微孔纤维膜过滤,收集过滤后的滤膜,将滤膜晾干后剪成碎片置于三角瓶中,加入萃取剂密封、振荡、超声波萃取;用有机滤膜过滤萃取液,同时将过滤后的萃取液转移至K-D浓缩瓶中;加入脱水干燥剂到萃取过滤液,吸干水份后,将K-D浓缩瓶放入旋转蒸发器进行浓缩;将浓缩后的液体用氮气吹扫至体积为1ml以下;将浓缩液萃取过滤液定容至1mL后转移到安捷伦专用瓶中;采用内标法,用高效液相色谱串联三级质谱联用仪器进行检测;对色谱质谱分析图进行分析,即完成检测。本方法补充了水环境中悬浮颗粒物上吸附的吡哌酸的含量,补充了抗生素检测的空白。

    基于单频激光辐照的双层参与性介质光谱辐射特性测量方法

    公开(公告)号:CN103439283B

    公开(公告)日:2015-09-09

    申请号:CN201310412796.7

    申请日:2013-09-11

    Abstract: 基于单频激光辐照的双层参与性介质光谱辐射特性测量方法,属于参与性介质光学参数测量技术领域。本发明为了解决现有双层参与性介质光谱辐射特性的测量成本高及测量结果不准确的问题。它利用单频激光先后从两侧辐照双层参与性介质表面,利用探测器获得样品表面的频域复半球反射信号和复半球透射信号,最后利用反演的方法获得双层参与性介质的光谱吸收系数和光谱散射系数。本发明用于测量双层参与性介质光谱辐射特性。

    基于傅立叶变换红外光谱分析仪的半透明材料吸收系数测量方法

    公开(公告)号:CN103344601B

    公开(公告)日:2015-08-19

    申请号:CN201310271945.2

    申请日:2013-07-02

    Abstract: 基于傅立叶变换红外光谱分析仪的半透明材料吸收系数测量方法,本发明涉及材料热物性测量领域,具体涉及一种半透明材料吸收系数测量方法。本发明为了解决现有的半透明材料吸收系数测量方法存在操作复杂,测量速度慢的问题。本发明是基于傅立叶变换红外光谱分析仪实现的,本发明利用试件的光谱透过率τλ与该试件材料的反射率ρλ,根据贝尔定律计算获得该试件材料的光谱吸收系数kaλ,利用该试件材料的光谱吸收系数kaλ,对全光谱进行积分,获得普朗克平均吸收系数kap和罗斯兰德平均吸收系数kaR,并作为半透明材料吸收系数的测量结果,完成基于傅立叶变换红外光谱分析仪的半透明材料吸收系数测量。本发明适用于半透明材料吸收系数测量。

    用于测量半透明材料试样发射率的抗背景噪声的试样加热系统

    公开(公告)号:CN103630567A

    公开(公告)日:2014-03-12

    申请号:CN201310716967.5

    申请日:2013-12-23

    Abstract: 用于测量半透明材料试样发射率的抗背景噪声的试样加热系统,它涉及一种加热系统,属于半透明材料加热技术领域。本发明为了解决现有半透明材料发射率测量装置中的材料试样加热系统体积庞大、结构复杂、试样背景辐射特性复杂、成本高的技术问题。本发明包括加热器和PID温度控制器,加热器包括加热器壳体、方形弹簧固定片、加热片电源引线、圆形平板电阻加热片、温度传感器探头、加热器保温层和温度传感器引线。本发明在加热片的半透明材料试样侧涂有黑体涂层,使得试样加热过程中背景辐射特性简单,有利于半透明材料发射率测量中背景辐射的扣除;本发明采用电阻加热片直接加热的方式,具有体积小、结构简单、加热快、成本低、耗能低的优点。

    基于脉冲激光辐照的半透明介质辐射特性测量方法

    公开(公告)号:CN103472036A

    公开(公告)日:2013-12-25

    申请号:CN201310455615.9

    申请日:2013-09-29

    Abstract: 基于脉冲激光辐照的半透明介质辐射特性测量方法,本发明涉及基于脉冲激光辐照的半透明介质辐射特性测量方法。它为了解决现有的基于透射、反射辐射信号测量的半透明介质辐射参数测量方法中测量方法复杂、速度慢、准确性差的问题。本发明通过将激光光源照射在待测半透明介质制的一侧表面,待测半透明介质制两侧均匀涂敷黑体涂层,均涂敷有黑体涂层的半透明介质的一侧表面,采用热电偶测温仪测量并记录介质两表面温度随时间的变化。根据两表面随时间变化的温度,通过逆问题算法获得待测半透明介质的吸收系数和散射系数。本发明适用于航空航天、军事、能源、化工、生物医疗及大气科学等多个领域。

    基于红外测温仪的材料发射率测量方法

    公开(公告)号:CN103091252A

    公开(公告)日:2013-05-08

    申请号:CN201310047855.5

    申请日:2013-02-06

    Abstract: 基于红外测温仪的材料发射率测量方法,属于高温不透明材料热物性测量技术领域;本发明是为了解决现有材料发射率测量方法的测量结果精确度差、使用复杂和测量速度慢的问题;本发明首先使用红外测温仪对黑体炉的温度进行测量,并通过计算得到红外测温仪接收的杂散辐射能,然后使用热电偶测温仪对待测材料所制成的试件表面温度进行测量,得到了试件表面的真实温度;本发明设计实现了在五种设定红外测温仪发射率条件下使用测量试件表面温度,得到五个测量温度值,利用五个设定发射率和五个测量温度值代入计算公式得到五个材料发射率,并取其平均值获得待测材料发射率,本发明主要应用在高温不透明材料发射率测量技术领域。

    高温粒子红外光谱辐射特性的测量装置及测量方法

    公开(公告)号:CN102279049A

    公开(公告)日:2011-12-14

    申请号:CN201110197454.9

    申请日:2011-07-14

    Abstract: 高温粒子红外光谱辐射特性的测量装置及测量方法,涉及一种弥散颗粒红外光谱辐射特性的测量装置及测量方法,它解决了现有技术无法测量高温连续光谱范围内自然状态粒子辐射特性的问题。本发明采用环境补偿算法,实现了对自然状态下高温粒子光谱等效透射比的测量,确定了对连续光谱范围内高温粒子辐射特性测量的适用性,并为进一步反演高温粒子复折射率的研究提供可靠的实验数据和实验装置,本发明的测量不确定度小于2%。本发明可以广泛应用于化工、冶金、动力、建筑、医药、生物、食品、航天、军事及大气科学等领域。

    一种基于左、右旋偏振调制的Fe3O4纳米颗粒显微成像检测方法

    公开(公告)号:CN119619014A

    公开(公告)日:2025-03-14

    申请号:CN202411731050.7

    申请日:2024-11-29

    Abstract: 本发明提出了一种基于左、右旋偏振调制的Fe3O4纳米颗粒显微成像检测方法,属于光热科学与探测及信号处理技术领域,解决了目前纳米单颗粒难以观测、物理化学特性获取难度大的问题,具体包括:明确待检测样品,制备玻片样品;开启计算机、数据采集卡、锁相放大器、振镜控制器和函数发生器;开启激发光、探测光激光器电源以及制冷器;设置检测参数,设置激光功率/电流参数,设置调制参数,对检测样件进行扫描检测;加载磁场;计算机从数据采集卡中读取信号得到光热检测结果图像;改变不同的激光参数和磁场大小,重复上述步骤,获得圆二色、磁圆二色检测结果,进行磁化曲线测量以及对单纳米颗粒磁矩翻转过程监测。

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