一种非接触式局部放电超声传感器校验系统及测试方法

    公开(公告)号:CN107884736A

    公开(公告)日:2018-04-06

    申请号:CN201711092812.3

    申请日:2017-11-08

    IPC分类号: G01R35/00

    摘要: 本发明公开了一种非接触式局部放电超声传感器校验系统及测试方法,校验系统包括信号发生器、第一双轴位移平台、声源、十字激光器、待测传感器、参考传感器和数据采集单元;信号发生器的信号输出端与声源的信号输入端相连接;声源和十字激光器固定设置在第一双轴位移平台上;待测传感器和参考传感器的信号输出端分别与数据采集单元的信号输入端相连接,待测传感器和参考传感器的接收面相对声源的出声口布置,待测传感器和参考传感器的接收面与声源的出声口之间的距离均大于17cm。本发明的非接触式局部放电超声传感器校验系统可准直定位。本发明的测试方法用于校验系统的测试,可提高校验的精确度。

    一种非接触式局部放电超声传感器校验系统及测试方法

    公开(公告)号:CN107884736B

    公开(公告)日:2019-12-17

    申请号:CN201711092812.3

    申请日:2017-11-08

    IPC分类号: G01R35/00

    摘要: 本发明公开了一种非接触式局部放电超声传感器校验系统及测试方法,校验系统包括信号发生器、第一双轴位移平台、声源、十字激光器、待测传感器、参考传感器和数据采集单元;信号发生器的信号输出端与声源的信号输入端相连接;声源和十字激光器固定设置在第一双轴位移平台上;待测传感器和参考传感器的信号输出端分别与数据采集单元的信号输入端相连接,待测传感器和参考传感器的接收面相对声源的出声口布置,待测传感器和参考传感器的接收面与声源的出声口之间的距离均大于17cm。本发明的非接触式局部放电超声传感器校验系统可准直定位。本发明的测试方法用于校验系统的测试,可提高校验的精确度。

    一种GIS模拟装置颗粒放电缺陷模型

    公开(公告)号:CN207965032U

    公开(公告)日:2018-10-12

    申请号:CN201721488871.8

    申请日:2017-11-09

    IPC分类号: G01R31/12

    摘要: 本实用新型公开了一种用于GIS模拟装置的颗粒放电缺陷模型,现模型存在起始放电电压高,放电特征不明显,不单一等缺陷。本实用新型包括连接螺柱、绝缘支撑杆、金属柱、高压金属电极、绝缘筒。连接螺柱一端与GIS模拟装置的模型调节杆下端连接,另一端与绝缘支撑棒一端螺纹连接;绝缘支撑棒另一端与金属柱一端螺纹连接;金属柱另一端与高压金属电极螺纹连接。所述的绝缘筒套在金属柱外侧面。金属柱上侧面开有螺丝孔与绝缘支撑杆下端配合;绝缘筒中间开有环形槽。本实用新型除颗粒与金属柱间在加压下产生颗粒放电,其它结构采用无局放设计。该结构可靠耐用,放电特征明显,且更换方便,能模拟不同形状、大小及数量的颗粒缺陷放电特性。