公开(公告)号：CN101839709B

公开(公告)日：2012-07-18

申请号：CN201010120521.2

申请日：2010-02-22

Applicant: 夏普株式会社

Inventor： 山口阳史 ,  久保胜

IPC: G01C3/00

CPC classification number: G01S17/48 ,  G01S7/4813

Abstract: 光学式测距传感器具有：用第1透光性树脂部分密封的红外LED；用第2透光性树脂部分密封的光接收元件；接触到所述第1、第2透光性树脂部分的遮光性树脂部分；驱动红外LED的驱动电路单元；控制光接收元件的光接收元件控制单元；以及用于控制所述驱动电路单元和光接收元件控制单元的控制单元。在该控制单元的控制下，使红外LED的驱动时间和光接收元件侧的曝光时间为同一定时，而且在不驱动红外LED的期间使光接收元件曝光与所述曝光时间相同的时间。求基于驱动红外LED时的曝光的输出和基于不驱动红外LED时的曝光的输出之间的输出差，根据该输出差进行测距。

公开(公告)号：CN101655350B

公开(公告)日：2012-03-21

申请号：CN200910162934.4

申请日：2009-08-20

Applicant: 夏普株式会社

Inventor： 山口阳史 ,  久保胜 ,  福岛稔彦

IPC: G01B11/14 ,  G01C3/00

CPC classification number: G01B11/026 ,  G01C3/08 ,  G01S7/481 ,  G01S17/48

Abstract: 一种光学式测距传感器，具备：与发光元件设置在同一平面上的受光元件(2)。受光元件(2)包括：受光部(21)，其具有多个单元(21A)且把从发光元件(1)发出而由被测定物反射的光进行聚光；闪存部(25)，其记忆受光部(21)中的规定位置；信号处理电路部(22)，其根据由多个单元(21A)得到的所述光的检测结果来检测受光部(21)中所述光的聚光位置，而且根据闪存部(25)记忆的规定位置与受光部(21)中所述光的聚光位置的相对关系来计测距测定物的距离。

公开(公告)号：CN102096464A

公开(公告)日：2011-06-15

申请号：CN201010267419.5

申请日：2010-08-27

Applicant: 夏普株式会社

Inventor： 和田秀夫 ,  山口阳史 ,  久保胜

IPC: G06F3/01

CPC classification number: G06F3/011 ,  G06F3/0304

Abstract: 本发明涉及光学式检测装置及电子设备。一种光学式检测装置，具备：面传感器即发光元件(2)、将从发光元件(2)射出的光束照射到测定对象物(20)的发光透镜部(4a)、对来自测定对象物(20)的反射光进行聚光的光接收透镜部(5a)、对由光接收透镜部(5a)聚光的来自测定对象物(20)的反射光进行检测的光接收元件(3)、以及对来自光接收元件(3)的光接收信号进行处理的信号处理部(7)。上述信号处理部(7)基于来自光接收元件(3)的光接收信号，根据光接收元件(3)上的光点位置或光点形状的其中至少一项检测出xy坐标平面上的测定对象物(20)的x坐标或y坐标的其中至少一项。

公开(公告)号：CN101655350A

公开(公告)日：2010-02-24

申请号：CN200910162934.4

申请日：2009-08-20

Applicant: 夏普株式会社

Inventor： 山口阳史 ,  久保胜 ,  福岛稔彦

IPC: G01B11/14 ,  G01C3/00

CPC classification number: G01B11/026 ,  G01C3/08 ,  G01S7/481 ,  G01S17/48

Abstract: 一种光学式测距传感器，具备：与发光元件设置在同一平面上的受光元件(2)。受光元件(2)包括：受光部(21)，其具有多个单元(21A)且把从发光元件(1)发出而由被测定物反射的光进行聚光；闪存部(25)，其记忆受光部(21)中的规定位置；信号处理电路部(22)，其根据由多个单元(21A)得到的所述光的检测结果来检测受光部(21)中所述光的聚光位置，而且根据闪存部(25)记忆的规定位置与受光部(21)中所述光的聚光位置的相对关系来计测距测定物的距离。

公开(公告)号：CN100350214C

公开(公告)日：2007-11-21

申请号：CN200510118168.3

申请日：2005-10-26

Applicant: 夏普株式会社

Inventor： 山口阳史

IPC: G01B11/00 ,  G01V8/00

CPC classification number: G01C3/08 ,  G01S7/4813 ,  G01S7/4815 ,  G01S7/491 ,  G01S7/4911 ,  G01S17/42 ,  G01S17/48

Abstract: 一种光学式测距传感器，具有：基板(10)；多个发光元件(1)，其安装于上述基板(10)上；多个发光侧透镜(2)，其与上述发光元件(1)对应配置；一个位置检测光接收元件(3)，其安装于上述基板(10)上；一个光接受侧环形透镜(4)，其与上述位置检测光接收元件(3)对应配置；控制部(6)，其安装于上述基板(10)上。该控制部(6)以规定的定时驱动上述各发光元件(1)，同时，处理从上述位置检测光接收元件(3)输出的信号。

公开(公告)号：CN100335979C

公开(公告)日：2007-09-05

申请号：CN200310109769.9

申请日：2003-12-03

Applicant: 夏普株式会社

Inventor： 山口阳史 ,  椙山尚和

IPC: G03G15/00 ,  G03G21/00 ,  G01N21/89

CPC classification number: B41J11/0095 ,  B41J11/009 ,  G01B11/303 ,  G01N21/55 ,  G01N21/86

Abstract: 本发明公开了一种光学记录介质识别设备，其有光发射端光学系统(23)、光接收端光学系统(26)和信号处理部分(29)。光发射端光学系统(23)将来自光发射装置(21)的光经由物透镜(22)照射到移动的目标记录介质(27)上，例如打印纸张。光接收端光学系统(26)通过光接收装置(25)经由物透镜(24)来自接收目标记录介质的反射光，并输出具有与目标记录介质(27)的表面凸起和凹陷相对应的波形的输出信号。信号处理部分(29)通过至少一种信号处理方法对输出信号进行信号处理，以识别目标记录介质。

公开(公告)号：CN1854682A

公开(公告)日：2006-11-01

申请号：CN200610080119.X

申请日：2006-04-28

Applicant: 夏普株式会社

Inventor： 山口阳史

IPC: G01B11/00 ,  G01C3/02 ,  G01S17/08

CPC classification number: G01C3/08

Abstract: 本发明提供了多光束光学距离传感器和具有该传感器的自推进清洁器和空调器。所述多光束光学距离传感器中，因为衍射光栅(4)将光发射元件(2)的输出光分裂成多个光束(a－e)，所以即使利用一个光发射元件(2)，也能够从衍射光栅(4)输出多个光束(a－e)。因此，根据这种多光束光学距离传感器，与现有技术的相比较，能够减少光发射元件(2)和光发射侧透镜(3)的数量，减小光发射侧的空间，并且减小传感器的尺寸。此外，根据这种距离传感器，不需要扫描多个光发射元件，从而能够缩短检测时间。