-
公开(公告)号:CN109824519A
公开(公告)日:2019-05-31
申请号:CN201910157988.5
申请日:2019-03-02
Applicant: 桂林理工大学
IPC: C07C211/10 , C07C209/74 , C07C209/00 , C30B29/12 , C30B7/10
Abstract: 本发明公开了一种通过掺杂工程来调节碘铋乙二胺杂化材料形貌、带隙和稳定性的方法。本发明的目的在于对杂化材料(NH3CH2CH2NH3)Bi2I10进行金属元素掺杂来调节其形貌、光学带隙以及稳定性的方法研究,最终获得不同带隙值的杂化材料,进而可应用在有机-无机杂化钙钛矿太阳能电池以及半导体材料领域。本发明是针对之前制备的窄带隙有机-无机低维杂化材料(NH3CH2CH2NH3)Bi2I10的带隙进行一定范围的调节。本发明具有合成工艺简单、反应条件温和、成本低廉、重复性好、光学带隙比较宽的范围内连续可调、稳定性高等优点,具有较好的产业化前景。
-
公开(公告)号:CN112968059B
公开(公告)日:2022-04-19
申请号:CN202110154220.X
申请日:2021-02-04
Applicant: 宁波海特创电控有限公司 , 桂林理工大学
IPC: H01L29/778 , H01L29/423 , H01L21/335
Abstract: 本发明提供一种新型增强型GaN HEMT器件结构,由如下步骤制备而成:外延生长;PN结栅叠层生长;Si基GaN外延晶片清洗;光刻及对准标记形成;台面隔离;刻蚀PN结叠层;源、漏欧姆接触;钝化层沉积;栅槽刻蚀;栅金属沉积;保护层沉积;开孔及金属互联。本发明以p型栅为基础设计了PN结栅型GaN HEMT,通过在p‑GaN上面加了一层n‑GaN,形成PN结,利用PN结在栅加电压时,PN结反向偏置,增大栅极击穿电压Vg,具有大的栅压摆幅,非常适合于功率开关的应用,可以获得更大的栅极驱动偏置以确保安全操作。
-
公开(公告)号:CN112993029A
公开(公告)日:2021-06-18
申请号:CN202110154226.7
申请日:2021-02-04
Applicant: 宁波海特创电控有限公司 , 桂林理工大学
IPC: H01L29/778 , H01L21/335 , H01L29/423
Abstract: 本发明提供一种提高GaN HEMT界面质量的方法,包括如下步骤:外延生长;Si基GaN外延晶片清洗;光刻及对准标记形成;台面隔离;源、漏欧姆接触;钝化层沉积;栅槽刻蚀;紫外/O2处理;栅金属沉积;保护层沉积;开孔及金属互联。本发明采用有效波长为85%254nm和15%185nm紫外热阴极低压汞蒸汽灯,加上氧气对栅金属沉积前进行预处理生成Ga2O界面介质层,不仅具有低成本无污染的优势而且还有效提高了界面质量,有利于器件的产业化应用。
-
公开(公告)号:CN109371470A
公开(公告)日:2019-02-22
申请号:CN201811281294.4
申请日:2018-10-30
Applicant: 桂林理工大学
Abstract: 本发明公开了一种窄带隙有机-无机低维杂化材料及其合成方法。具体实验步骤如下:量取10.00~15.00mL乙二胺溶液于三口烧瓶中,在冰水浴条件下边搅拌边缓慢滴加45.00~60.00mL的浓度为45%氢碘酸溶液,磁力搅拌2~5小时,将混合溶液放入培养皿中60~80℃干燥20~30小时,得到白色晶体,将此白色晶体用30.00~60.00mL乙醚洗涤2~4次,然后60~80℃条件下真空干燥20~30小时,得到白色粉末A。称取5.0~5.5mmol Bi2O3加入样品瓶中,加入5~10mL的浓度为45%氢碘酸溶液得到澄清溶液,随后加入10.0~11.00mmol上述白色粉末A,将得到的反应液放入水热反应釜中,在90℃条件下保温10h;冷却至室温,在反应釜底部会生成晶体,即为(NH3CH2CH2NH3)Bi2I10晶体。其带隙约为1.89eV,并且其稳定性可达310℃,可以在空气中稳定存放15天左右。
-
-
-