一种p-GaN HEMT中的新结构
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN114334650B

    公开(公告)日:2024-04-16

    申请号:CN202111680541.X

    申请日:2021-12-30

    Abstract: 本发明提供一种p‑GaN HEMT中的新结构,包括如下步骤:外延生长;AlGaN与p‑GaN形成结;对外延生长的AlGaN/p‑GaN/AlGaN/GaN材料进行清洗;光刻隔离区;有源区台面隔离;刻蚀AlGaN与p‑GaN的结叠层;欧姆接触;栅极制备;钝化层沉积;开孔及金属互联。本发明以p型栅为基础设的AlGaN/p‑GaN/AlGaN/GaN HEMT双结栅器件,通过在p‑GaN上面加了一层AlGaN盖帽层,形成结,提高栅极性能,抑制漏电流。该盖帽层不仅与p‑GaN层形成结,而且还作为阻挡层阻挡了载流子注入行为。由于双结栅减少了泄漏并扩大了栅极击穿电压,因此具有更好的直流特性、关态击穿电压和栅极可靠性,从而推进了制备更高可靠性GaN功率器件的进程。

    一种新型增强型GaN HEMT器件结构

    公开(公告)号:CN114023816A

    公开(公告)日:2022-02-08

    申请号:CN202111139478.9

    申请日:2021-09-28

    Abstract: 本发明的内容为提供一种新型V字形沟槽结构的GaN HEMT器件的结构及制备方法。通过V字形腰部引出的栅电极加电压控制栅电极两边AlGaN/GaN异质结形成的二维电子气(2DEG)浓度,来调控器件开关状态。其中,两侧的电流往V字形底部传输到Si衬底,通过Si衬底与最下层的背衬底漏极接触,这就实现了通过栅电极调控源、漏电极导通形成电流传输的V字形沟槽结构的GaN HEMT器件。本发明在传统垂直型结构的基础上提供一种新型V字形沟槽结构的GaN HEMT器件的想法,以克服现有结构的不足。

    GaN HEMT无金低粗糙度欧姆接触电极的制备方法

    公开(公告)号:CN111128710A

    公开(公告)日:2020-05-08

    申请号:CN202010042535.0

    申请日:2020-01-15

    Inventor: 杜瑞坤 周炳

    Abstract: 本发明涉及一种GaN HEMT无金低粗糙度欧姆接触电极的制备方法,本发明采用磁控溅射Ti/Al/Pd/W金属薄膜结构,通过后期高温N2氛围下RTA快速退火促进Ti/Al/Pd/W重新结晶,相互发生固相反应,形成欧姆接触电极。传统的Ti/Al/Ni/Au结构在合金过程中,Al处于熔融状态,会形成AlAu2或AlAu4等颗状物,增大欧姆接触电极表面粗糙度,因此合金以后会影响光刻标记识别,一般需要重新制作标记,从而加大了工艺复杂度,降低了光刻对准精度,影响最终成品率,并且粗糙的欧姆接触电极容易引起金属电迁移,影响器件可靠性。同时本发明也明显提升了欧姆接触金属电极的导电性和抗性。

    一种太阳能电池CIGS靶材的快速制备方法

    公开(公告)号:CN110373641A

    公开(公告)日:2019-10-25

    申请号:CN201910620889.6

    申请日:2019-07-10

    Abstract: 本发明涉及一种太阳能电池CIGS靶材的快速制备方法,其包括制备铜铟镓硒四元粉,硒化亚铜粉,以及硒化铜粉,然后烧结成CIGS四元靶。首先将称量好的三种原料粉研磨,然后分别放入行星球磨机内混合12-48h(公转300-500转/分,公转和自转比为1:2,球磨罐材料为氧化锆内衬,球磨介质为酒精,磨球材料为ZrO2,抽真空后向腔体内充入氩气)使之合金化,随后将粉体置于放电等离子体烧结炉中(冲入氩气等惰性气体,抑制Se的挥发)烧结制备得到铜铟镓硒四元靶。本发明工艺采用SPS烧结,简单有效,相较于传统的热压及其他烧结来说,效率更高,能够做到在较低温度、短时间内快速烧结,烧结制备的的晶粒尺寸较小,在同等条件下制备得到的靶材相对密度更高,达98%以上。

    一种p-GaN HEMT中的新结构
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114334650A

    公开(公告)日:2022-04-12

    申请号:CN202111680541.X

    申请日:2021-12-30

    Abstract: 本发明提供一种p‑GaN HEMT中的新结构,包括如下步骤:外延生长;AlGaN与p‑GaN形成结;对外延生长的AlGaN/p‑GaN/AlGaN/GaN材料进行清洗;光刻隔离区;有源区台面隔离;刻蚀AlGaN与p‑GaN的结叠层;欧姆接触;栅极制备;钝化层沉积;开孔及金属互联。本发明以p型栅为基础设的AlGaN/p‑GaN/AlGaN/GaN HEMT双结栅器件,通过在p‑GaN上面加了一层AlGaN盖帽层,形成结,提高栅极性能,抑制漏电流。该盖帽层不仅与p‑GaN层形成结,而且还作为阻挡层阻挡了载流子注入行为。由于双结栅减少了泄漏并扩大了栅极击穿电压,因此具有更好的直流特性、关态击穿电压和栅极可靠性,从而推进了制备更高可靠性GaN功率器件的进程。

    一种提高GaN HEMT界面质量的方法

    公开(公告)号:CN112993029B

    公开(公告)日:2022-04-01

    申请号:CN202110154226.7

    申请日:2021-02-04

    Inventor: 翁加付 周炳

    Abstract: 本发明提供一种提高GaN HEMT界面质量的方法,包括如下步骤:外延生长;Si基GaN外延晶片清洗;光刻及对准标记形成;台面隔离;源、漏欧姆接触;钝化层沉积;栅槽刻蚀;紫外/O2处理;栅金属沉积;保护层沉积;开孔及金属互联。本发明采用有效波长为85%254nm和15%185nm紫外热阴极低压汞蒸汽灯,加上氧气对栅金属沉积前进行预处理生成Ga2O界面介质层,不仅具有低成本无污染的优势而且还有效提高了界面质量,有利于器件的产业化应用。

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