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公开(公告)号：CN115690051A
公开(公告)日：2023-02-03
申请号：CN202211358784.6
申请日：2022-11-01
申请人： 深圳思谋信息科技有限公司
摘要： 本申请提供了一种PCB缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质，涉及缺陷检测技术领域，该方法包括：根据印刷电路板的设计图像对标准印刷电路板的图像进行第一对齐处理，得到第一图像，该第一图像与标准印刷电路板的图像对应；获取待检测印刷电路板的图像；根据第一图像对待检测印刷电路板的图像进行第二对齐处理，得到第二图像，该第二图像与待检测印刷电路板的图像对应；基于第一图像和第二图像，对待检测印刷电路板进行缺陷检测，得到缺陷检测结果。采用本申请实施例能够提升PCB缺陷检测的效率与准确性。
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公开(公告)号：CN115620013A
公开(公告)日：2023-01-17
申请号：CN202211600812.0
申请日：2022-12-14
申请人： 深圳思谋信息科技有限公司
IPC分类号： G06V10/26 , G06V10/40 , G06V10/764 , G06V10/77
摘要： 本申请涉及一种语义分割方法、装置、计算机设备及存储介质。方法包括：确定首个语义增强层为当前层，通过当前层对目标图像的编码特征进行特征提取得到当前层的语义特征并确定当前层的注意力数据；根据当前层的语义特征和注意力数据，确定当前层对应的语义遮罩数据；通过下一语义增强层对语义遮罩数据和编码特征进行特征提取得到下一语义增强层的语义特征并确定下一语义增强层的注意力数据；将下一语义增强层作为当前层，返回根据当前层的语义特征和注意力数据，确定当前层对应的语义遮罩数据的步骤循环执行，直至得到最后一语义增强层的目标语义特征；根据目标语义特征和编码特征对目标图像进行语义分割。采用本方法能够提高语义分割的准确性。
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公开(公告)号：CN115600619A
公开(公告)日：2023-01-13
申请号：CN202211593196.0
申请日：2022-12-13
申请人： 深圳思谋信息科技有限公司(CN)
IPC分类号： G06K7/14
摘要： 本申请涉及一种点阵二维码识别方法、装置、电子设备及存储介质。方法包括：从获取的原始点阵二维码图像开始，基于像素值选取局部极值进行逐层降采样，生成原始点阵二维码图像对应的局部极值金字塔；局部极值金字塔，是将逐层降采样所得到的各层的点阵二维码图像按照像素点从少到多的顺序进行从上到下排布得到的；从局部极值金字塔的最上层开始逐层向下遍历，对每次遍历至的当前层的点阵二维码图像进行定位图形检测，直至从其中一层的点阵二维码图像中检测到符合预设数量的定位图形；根据检测到的符合预设数量的定位图形，确定原始点阵二维码图像的识别结果。采用本方法，能够提高点阵二维码识别的准确性。
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公开(公告)号：CN114529652A
公开(公告)日：2022-05-24
申请号：CN202210433453.8
申请日：2022-04-24
申请人： 深圳思谋信息科技有限公司 , 北京思谋智能科技有限公司
摘要： 本申请涉及智能制造技术领域，提供了一种点云补偿方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。本申请能够实现提高对目标对象的点云进行补偿处理的准确性。该方法包括：针对用于放置目标对象的平台区域，采集点云，点云包括目标对象对应的第一点云及平台区域中无对象重叠区域对应的第二点云，根据第二点云，得到平台区域的曲面模型和平面模型，根据曲面模型和平面模型，得到第一点云的补偿信息，根据补偿信息，对第一点云进行补偿处理。
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公开(公告)号：CN113505797A
公开(公告)日：2021-10-15
申请号：CN202111052839.6
申请日：2021-09-09
申请人： 深圳思谋信息科技有限公司 , 上海思谋科技有限公司
摘要： 本申请涉及一种模型训练方法、装置、计算机设备和存储介质，包括：获取已训练的教师模型以及待训练的学生模型；教师模型和学生模型均包括特征提取器、主分类器以及从分类器；从分类器根据特征提取器输出的每一张样本图像的图像特征分别创建得到；将样本图像输入教师模型，得到通过教师模型的主分类器输出的第一主分类结果，以及从分类器输出的第一从分类结果和第一类别信息；将样本图像输入待训练的学生模型，得到通过待训练的学生模型的主分类器输出的第二主分类结果，从分类器输出的第二从分类结果和第二类别信息，构建得到学生模型的目标损失函数；根据目标损失函数对待训练的学生模型进行迭代训练；本申请提高了学生模型的性能。
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公开(公告)号：CN118898574A
公开(公告)日：2024-11-05
申请号：CN202410801677.9
申请日：2024-06-20
申请人： 深圳思谋信息科技有限公司
摘要： 本申请实施例公开了一种缺陷生成模型训练、产品表面缺陷生成方法、装置、存储介质及电子设备。其中，缺陷生成模型训练方法包括：在目标产品的缺陷样本图像中，确定实际出现在目标产品表面上的目标缺陷；分别确定目标缺陷的缺陷特征和目标产品的产品特征；基于缺陷特征，在缺陷样本图像中确定特征学习区域和特征保持区域；基于缺陷样本图像、缺陷特征和产品特征对预先构建的缺陷生成模型进行训练，以控制缺陷生成模型在缺陷仿真图像中的特征学习区域基于缺陷特征生成仿真缺陷，在缺陷仿真图像中的特征保持区域保持产品特征；其中，缺陷仿真图像为缺陷生成模型的输出。采用本申请能够提高缺陷生成的可控性，保证缺陷生成的准确性。
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公开(公告)号：CN118799248A
公开(公告)日：2024-10-18
申请号：CN202310413458.9
申请日：2023-04-11
申请人： 深圳思谋信息科技有限公司
IPC分类号： G06T7/00 , G06T7/60 , G06T3/04 , G06T7/13 , G06V10/764 , G06V10/82 , G06N3/0464 , G06N3/08
摘要： 本申请涉及一种缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质。方法包括：确定目标对象图中待检测的区域的区域表征向量；在基于注意力机制对区域表征向量进行编码的过程中，对区域表征向量进行特征提取，得到查询编码数据；对区域表征向量进行多粒度的降采样处理，得到各粒度的降采样编码数据，并对各粒度的降采样编码数据进行特征映射处理，得到各粒度的键编码数据以及值编码数据；对查询编码数据、各粒度的键编码数据以及值编码数据进行注意力计算，得到多粒度特征数据；基于多粒度特征数据对待检测的区域进行缺陷检测，得到缺陷检测结果。采用本申请，能够提高缺陷检测的准确性。
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公开(公告)号：CN118378725B
公开(公告)日：2024-10-01
申请号：CN202410825543.0
申请日：2024-06-25
申请人： 深圳思谋信息科技有限公司
摘要： 本申请涉及一种模型优化方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质。方法包括：获取待优化模型和模型配置参数；基于模型训练框架标识信息对应的模型训练框架对待优化模型进行训练，得到待量化模型；基于模型量化要求对待量化模型推理，得到模型量化参数；基于模型量化参数，确定待量化模型对应的目标量化模型；获取输入资源量范围中至少两类资源量对应的输入数据信息，基于各类资源量对应的输入数据信息对目标量化模型进行推理，得到各类资源量对应的模型性能指标；基于各类资源量对应的模型性能指标的比对结果，确定目标输入资源量；基于目标输入资源量和目标量化模型，确定目标优化模型。采用本申请，能够实现提高优化模型的性能。
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公开(公告)号：CN118446998A
公开(公告)日：2024-08-06
申请号：CN202410607037.4
申请日：2024-05-15
申请人： 深圳思谋信息科技有限公司 , 北京思谋智能科技有限公司
IPC分类号： G06T7/00 , G06V10/764 , G06V10/82 , G06N3/0464 , G06N3/045
摘要： 本申请涉及一种工业缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质。方法包括：通过根据获取的检测数据样本，确定稀缺数据样本；通过数据扩充模型对稀缺数据样本进行数据扩充，得到扩充稀缺数据样本；根据检测数据样本和扩充稀缺数据样本对原始缺陷检测模型进行模型优化，得到候选缺陷检测模型；根据参数优化策略对候选缺陷检测模型进行参数配置优化，得到目标缺陷检测模型；根据目标缺陷检测模型对待测图像进行缺陷检测，得到缺陷检测结果。采用本方法能够在缺乏大量缺陷数据的情况下，实现了在复杂场景下的高精度缺陷检测。
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公开(公告)号：CN118378725A
公开(公告)日：2024-07-23
申请号：CN202410825543.0
申请日：2024-06-25
申请人： 深圳思谋信息科技有限公司
摘要： 本申请涉及一种模型优化方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质。方法包括：获取待优化模型和模型配置参数；基于模型训练框架标识信息对应的模型训练框架对待优化模型进行训练，得到待量化模型；基于模型量化要求对待量化模型推理，得到模型量化参数；基于模型量化参数，确定待量化模型对应的目标量化模型；获取输入资源量范围中至少两类资源量对应的输入数据信息，基于各类资源量对应的输入数据信息对目标量化模型进行推理，得到各类资源量对应的模型性能指标；基于各类资源量对应的模型性能指标的比对结果，确定目标输入资源量；基于目标输入资源量和目标量化模型，确定目标优化模型。采用本申请，能够实现提高优化模型的性能。
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