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公开(公告)号：CN104516010A
公开(公告)日：2015-04-15
申请号：CN201410851366.X
申请日：2014-12-31
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
摘要： 本发明公开了一种X射线束流强度监控装置和X射线检查系统。X射线束流强度监控装置包括强度探测模块和数据处理模块，强度探测模块用于接受X射线束流的照射并发出探测信号，数据处理模块与强度探测模块耦合以接收探测信号并输出X射线束流强度监控信号，其中，X射线束流强度监控信号包括X射线束流的剂量监控信号和X射线束流的亮度校正信号。该X射线束流强度监控装置可以同时进行剂量监控和亮度监控，提升了X射线束流强度监控装置的使用效率。
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公开(公告)号：CN104515781A
公开(公告)日：2015-04-15
申请号：CN201410851416.4
申请日：2014-12-31
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01N23/02
摘要： 本发明公开了一种X射线检查系统，包括X射线发射装置、探测器阵列和X射线束流强度监控装置，X射线发射装置发出的X射线束流包括照射于探测器阵列上的工作束流和照射于探测器阵列之外的冗余束流，X射线束流强度监控装置包括强度探测模块和数据处理模块，强度探测模块设置于X射线发射装置和探测器阵列之间以接受冗余束流的照射并发出探测信号，数据处理模块与强度探测模块耦合以接收探测信号并输出X射线束流强度监控信号。该X射线检查系统的强度探测模块利用的是X射线束流的冗余束流，强度探测模块基本不受X射线发射装置和被检物体的影响，从而可使X射线束流强度的监控结果更加准确可靠。
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公开(公告)号：CN1964593A
公开(公告)日：2007-05-16
申请号：CN200510086817.6
申请日：2005-11-09
申请人： 清华大学 , 清华同方威视技术股份有限公司
摘要： 本发明涉及辐射检测技术领域，具体涉及一种利用数据获取和控制模块电路控制辐射成像中探测器的系统。本发明公开的一种辐射成像用数据获取和控制的系统，包括图像检查分系统，加速器，数字化探测器模块电路，以太网，数据获取和控制模块电路，其中，数据获取和控制模块电路包括：数据和控制信号差分电路，数据和控制信号缓冲电路，数据存储和控制时序产生电路，数据存储电路，网络单片机，加速器同步脉冲隔离驱动电路，加速器束流强度信息处理电路，稳压电源电路。
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公开(公告)号：CN116183639A
公开(公告)日：2023-05-30
申请号：CN202111422301.X
申请日：2021-11-26
申请人： 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01N23/046
摘要： 本公开提出一种面阵探测器、探测方法及相应的集装箱/车辆检查系统，涉及射线扫描领域。用于集装箱/车辆检查系统的面阵探测器包括：稀疏排列的多个探测器组件，其中的第一探测器组件与其他的第二探测器组件不同；底板，用于承载和安装所述多个探测器组件。从而，实现支持多种扫描模式的面阵探测器。
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公开(公告)号：CN113031044A
公开(公告)日：2021-06-25
申请号：CN201911363127.9
申请日：2019-12-25
申请人： 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01T1/20
摘要： 本申请提供了一种用于辐射检查的探测器，包括：灵敏介质，被配置为与入射到探测器的入射光进行反应，从而产生高能辐射光和低能辐射光；高能光电转换器件，可以被配置为设置在所述灵敏介质的远离所述入射光的一端处，用于探测所述高能辐射光；以及，低能光电转换器件，可以被配置为设置在所述灵敏介质的靠近所述入射光的一端处，用于探测所述低能辐射光。
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公开(公告)号：CN105403908B
公开(公告)日：2018-11-30
申请号：CN201511018469.9
申请日：2015-12-29
申请人： 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01T7/00
摘要： 本申请涉及测量闪烁体灵敏度的方法、系统及设备，属于测量技术领域。该方法包括：将多个闪烁体单元排成闪烁体阵列，每个闪烁体单元具有窗口；用射线源从入射面照射所述闪烁体阵列从而使闪烁光从所述多个闪烁体单元的窗口发出；用成像装置对发出闪烁光的所述闪烁体阵列进行拍照，得到灰度图像，所述灰度图像的各个灰度值对应闪烁光强度，所述成像装置包括多个像素；根据所述多个闪烁体单元在所述灰度图像中的相应位置及所述相应位置处的灰度值的分别得到所述多个闪烁体单元的灵敏度。本公开采用相机批量测试多个闪烁体单元，能够提高生产效率和控制产品质量，且具备通用性。
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公开(公告)号：CN105510363B
公开(公告)日：2019-05-07
申请号：CN201511017642.3
申请日：2015-12-29
申请人： 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01N23/04
摘要： 本申请涉及双能探测装置、系统及方法，属于辐射检查领域。该装置包括：靠近射线源一侧的第一像素探测器阵列，用于探测相对低能的射线源光子；远离射线源一侧的第二像素探测器阵列，用于探测相对高能的射线源光子；其中第一像素探测器阵列包括多排第一像素探测器，其包括第一灵敏介质、第一光敏器件、用于射线源入射的第一入射面及与第一光敏器件耦合的第一窗口，第一入射面朝向射线源；第二像素探测器阵列包括单排第二像素探测器，其包括第二灵敏介质、第二光敏器件、第二入射面及与第二光敏器件耦合的第二窗口；每个第二像素探测器与其相应的多个第一像素探测器的像素面积相同。本公开能够同时兼顾物质有效原子序数的识别、提升空间分辨能力和增强对射线的有效探测。
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公开(公告)号：CN113031044B
公开(公告)日：2024-01-19
申请号：CN201911363127.9
申请日：2019-12-25
申请人： 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01T1/20
摘要： 本申请提供了一种用于辐射检查的探测器，包括：灵敏介质，被配置为与入射到探测器的入射光进行反应，从而产生高能辐射光和低能辐射光；高能光电转换器件，可以被配置为设置在所述灵敏介质的远离所述入射光的一端处，用于探测所述高能辐射光；以及，低能光电转换器件，可以被配置为设置在所述灵敏介质的靠近所述入射光的一端处，用于探测所述低能辐射光。
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公开(公告)号：CN110333252B
公开(公告)日：2021-12-17
申请号：CN201810262091.4
申请日：2018-03-28
申请人： 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01N23/04 , G01N23/087 , G01B15/02
摘要： 本公开提供一种双能探测方法与装置。双能探测方法装置包括：X射线源，用于向被测物体发送X射线束；闪烁探测器，工作于积分模式，用于接收穿过所述被测物体的所述X射线束以生成第一电信号；切伦科夫探测器，位于所述闪烁探测器后方，工作于计数模式，用于接收穿过所述被测物体的所述X射线束以生成第二电信号；处理器，用于根据所述第一电信号以及所述第二电信号输出所述被测物体的图像、体积以及材质信息本公开提供的双能探测方法可以获得更清晰并包含更多信息的被测物体图像。
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公开(公告)号：CN113552640A
公开(公告)日：2021-10-26
申请号：CN202010253098.7
申请日：2020-04-02
申请人： 同方威视技术股份有限公司
摘要： 本公开涉及一种射线检查系统及散射校正方法。射线检查系统包括：射线源(1)，被配置为产生射线束流(10)；第一探测器阵列(2)，至少部分位于所述射线束流(10)的覆盖范围内；第二探测器阵列(3)，与所述第一探测器阵列(2)位于所述射线检查系统的检查对象(4)的同侧，且位于所述射线束流(10)的覆盖范围外，所述第二探测器阵列(3)被配置为接收所述射线束流(10)在透过所述检查对象(4)的过程中的散射信号；和处理器(5)，与所述第一探测器阵列(2)和所述第二探测器阵列(3)信号连接，被配置为根据所述散射信号对所述第一探测器阵列(2)的接收信号进行散射校正。
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