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公开(公告)号：CN102914374A
公开(公告)日：2013-02-06
申请号：CN201210269373.X
申请日：2012-07-31
Applicant: 佳能株式会社
Inventor： 近藤刚史
CPC classification number: G01B11/14 , G01N23/046 , G01N23/083 , G21K1/02 , G21K2207/005
Abstract: 本发明公开了波前测量装置和波前测量方法。一种波前测量装置，包括：由光形成周期模式的光学元件，具有用于检测光的像素的检测器，以及基于检测器的检测结果来计算透过样本或被样本反射的光的波前中的多个位置处的波前信息的计算机。检测器检测由光形成的第一周期模式以及由光形成的并且在相位上从第一周期模式进行了偏移的第二周期模式。计算机通过使用在检测到第一周期模式时在像素中的第一像素中检测到的结果、在检测到第一周期模式时在像素中的第二像素中检测到的结果以及在检测到第二周期模式时在第一像素中检测到的结果来计算多个位置中的一个位置处的波前信息，其中，第二像素位于离第一像素在三个像素以内的位置处。
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公开(公告)号：CN102829883A
公开(公告)日：2012-12-19
申请号：CN201210307087.8
申请日：2012-08-27
Applicant: 中国计量学院
Abstract: 本发明公开了一种偏振激光波长计。现有的波长计存在结构复杂或成本较高等问题。本发明中的参考激光和被测激光分别通过第一机械快门和第二机械快门入射至激光偏振干涉仪镜组，并分别构成各自的激光偏振干涉仪，激光偏振干涉仪测量固定于压电陶瓷上的移动镜的位移并输出线性偏振激光束；线性偏振激光束被发送至偏振计，偏振计内的两个信号经过滤波整形电路后成为同频率的TTL信号，这两个TTL信号发送至相位计测量相位，该相位计与PC机通过GPIB线连接。本发明有效地减小了环境机械振动对测量结果的影响，可用于工作环境较为复杂的场所，同时本发明结构简单、体积小，所用的偏振干涉仪光路设置简洁，光学调节和光路对准操作简单。
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公开(公告)号：CN85102287B
公开(公告)日：1987-05-20
申请号：CN85102287
申请日：1985-04-01
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械研究所
Inventor： 徐炳德
IPC: G01J9/04
Abstract: 一种微小光程差测量系统属于物理学领域中一种光学计量测试装置［Ｇ０１Ｊ９／００］，它是利用光拍相位变化来测量微小光程差的一种光电系统。本发明采用含有电光移相器的双臂可调程平行光路作为二不同频率光的非共程光路，选用了具有较佳性能参数的双频激光，因而使系统可测量１～一个光波长范围的微小位移；也可测量具有微小折射率变化或微小变形的透明体在１～一个光波长范围的微小光程变化，并可给出程差变化过程或其分布。
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公开(公告)号：CN117073990A
公开(公告)日：2023-11-17
申请号：CN202311330782.0
申请日：2023-10-16
Applicant: 常州灵动芯光科技有限公司
Abstract: 本发明公开了光电技术领域的一种窄线宽激光器的线宽测试系统及测试方法，包括光源和两组并联的短时延延时差拍信道，所述短时延延时差拍信道用于将待测激光光波相噪转化为参考源频率上的相噪，并采用GPU后进行实时互相关计算后以抑制系统中噪声的影响，本发明的有益效果是：本方案中通过采用两组短时延延时差拍信道的结构设置，通过两路光相位到电参考频率通道，分别为上支路和下支路的两组短时延光纤差拍单元，在这个系统中，除了输入待测光波和超低相噪参考源外，其它光电器件均是相互独立的，可以通过互相关频谱计算来抑制非相关噪声，从而大大提高了测试系统的灵敏度。
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公开(公告)号：CN116222764A
公开(公告)日：2023-06-06
申请号：CN202211695781.1
申请日：2022-12-28
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本发明公开了一种瞬时宽带与相位调制光源信号的检测装置与方法，属于激光信号处理领域。该检测装置包括保偏传输光纤、波导型幅度调制器、高速光电探测器和信号频率检测器。本发明提供的检测装置为全光纤化结构，检测结果高效准确，简化了对信号发生器的指标要求，同时易于解调相位调制脉冲携带的频率间隔周期信号，整体可靠性好；其次能够对同一时刻两分支臂的信号进行拍频，降低了光电探测器件响应带宽的需求，也避免了对时域信号的积分，可以通过普通光电探测手段直观分辨出注入信号在特定时间切片上是宽带还是单频信号的特点；本发明还提供了分析判别光源信号的计算过程和判断依据，能够在获取注入光源信号的调制参数后自动快速判断该光源信号瞬时宽带光源信号还是相位调制光源信号，实现全流程的信号所属类别的自动分析和判断。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109506789A
公开(公告)日：2019-03-22
申请号：CN201811577098.1
申请日：2018-12-24
Applicant: 西安应用光学研究所
IPC: G01J9/04
Abstract: 本发明出太赫兹源波长测量仪校准装置及方法，针对傅立叶变换型太赫兹源波长测量仪和除傅立叶变换型太赫兹源波长测量仪之外的其它类型的波长测量仪，采用相应的校准装置及方法进行校准，实现不同测量原理太赫兹源波长测量仪的校准。对应除傅立叶变换型太赫兹源波长测量仪之外其它类型的太赫兹源波长测量仪，采用太赫兹标准频率源法对其进行校准；对应傅立叶变换型类型的太赫兹源波长测量仪，采用太赫兹特征波长标准器法对其进行校准；该校准方法解决了(0.1～5)THz波段范围内太赫兹源波长测量仪的校准难题，具有广阔的应用前景。
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公开(公告)号：CN107024285B
公开(公告)日：2018-12-18
申请号：CN201710292302.4
申请日：2017-04-28
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: G01J9/04
Abstract: 本发明公开的一种全光纤激光频率测量装置及方法，属于飞秒激光精密测量领域。装置包括待测激光器、光纤飞秒激光频率梳、微波原子钟、光纤分束器、光纤合束器、光纤环路器、可调谐光纤光栅、光纤输入式雪崩光电探测器、光纤输入式波长计、频率计数器。方法实施步骤为：待测激光与频率梳激光经过光纤传输，在光纤合束器上拍频，调谐光纤光栅，选取出产生拍频的频段，通过光纤环路器进入光纤输入式雪崩光电探测器上获得拍频频率；利用重复频率、载波包络偏移频率、拍频频率和波长计粗测频率，获得待测激光频率精确值。本发明能够避免空间光路调节、提高信噪比、易于集成，无需反复更换元件和调整光路，还具有结构简单、操作方便、测量范围宽等优点。
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公开(公告)号：CN105675151B
公开(公告)日：2018-10-23
申请号：CN201610002587.9
申请日：2016-01-06
Applicant: 上海大学
IPC: G01J9/04
Abstract: 本发明涉及一种基于光强传输方程相位恢复应用装置。本装置利用分光片、反射镜和空间光调制器将成像光束分为三束子光束，并通过调节空间光调制器上的角谱传递函数使CCD同时获得一副聚焦强度图像和两幅具有相等离焦距离的正、负离焦强度图像，然后将采集到的图像应用于光强传输方程相位恢复技术来重建出物体的相位。由于采集过程不需要任何机械移动与调整，且仅需要单个相机单次曝光，所以本系统可以非常稳定、高速地恢复出定量相位图像，并将传统光强传输相位成像拓展到可相对快速移动的动态物体进行测量。
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公开(公告)号：CN108362388A
公开(公告)日：2018-08-03
申请号：CN201810160288.7
申请日：2018-02-26
Applicant: 肖世涛
Inventor： 肖世涛
IPC: G01J9/04
Abstract: 本发明涉及一种双通道激光器相位噪声的测量方法，主要解决现有激光器相位噪声测量系统稳定性不高，和系统低频噪声对测量精度的影响较大的问题。本发明采用一种双通道差分激光器相位噪声的测量装置，其硬件平台包括：待测激光器、可调光衰减器、DPSK电光调制器、两个光电探测器、两个低噪放、数据采集电路、计算机、DPSK调制器控制电路，利用成熟稳定的电光调制器代替光纤干涉仪来实现激光器相位噪声测量，并采用双通道差分接收信号，不仅提高了测量系统的稳定性，且消除了系统的本底噪声对测量结果的部分影响。
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公开(公告)号：CN108344515A
公开(公告)日：2018-07-31
申请号：CN201810160287.2
申请日：2018-02-26
Applicant: 肖世涛
Inventor： 肖世涛
IPC: G01J9/04
Abstract: 本发明涉及一种双通道差分激光器相位噪声的测量装置，主要解决现有激光器相位噪声测量系统稳定性不高，和系统低频噪声对测量精度的影响较大的问题。本测量装置包括：待测激光器、可调光衰减器、DPSK电光调制器、两个光电探测器、两个低噪放、数据采集电路、计算机、DPSK调制器控制电路，利用成熟稳定的电光调制器代替光纤干涉仪来实现激光器相位噪声测量，并采用双通道差分接收信号，不仅提高了测量系统的稳定性，且消除了系统的本底噪声对测量结果的部分影响。
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