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公开(公告)号：CN118209139A
公开(公告)日：2024-06-18
申请号：CN202311719538.3
申请日：2023-12-14
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01D5/243 , B23K26/362 , H01B13/00
Abstract: 一种标尺包括：衬底；多个标尺图案，所述多个标尺图案沿着测量方向以恒定周期布置在所述衬底的表面上并且由导体制成；以及多个虚设图案，所述多个虚设图案设置在所述衬底的所述表面上的未设置所述多个标尺图案的区域的至少一部分上，并且由与所述多个标尺图案相同的导体制成。可以形成在以多个虚设图案中的每个虚设图案中的点为中心的多个虚设图案中的每个虚设图案中的最大圆的直径是多个标尺图案的周期的1/4或更小。
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公开(公告)号：CN110857988B
公开(公告)日：2024-06-14
申请号：CN201910772277.9
申请日：2019-08-21
Applicant: 株式会社三丰
Inventor： 小松崎晋路
Abstract: 一种测量装置100，包括：激光装置110，其具有激光谐振器并输出具有多个模式的调频激光束；分支部件120，其将调频激光束分支成参考光和测量光；差拍信号生成部件150，其通过混合将测量光照射到待测量物体10而反射的反射光来生成差拍信号；和检测部件160，其对通过以第一频率采样差拍信号而生成的第一采样数据和通过以第二频率采样差拍信号而生成的第二采样数据进行频率分析，其中第一频率是等于激光谐振器的谐振频率的频率或者是等于或大于谐振频率的两倍的频率，第二频率是通过将激光谐振器的谐振频率除以正整数而获得，并提供了一种测量方法。
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公开(公告)号：CN112461120B
公开(公告)日：2024-05-24
申请号：CN202010906081.7
申请日：2020-09-01
Applicant: 株式会社三丰
Inventor： 和泉直树
IPC: G01B7/34
Abstract: 本发明提供了粗糙度测试仪，其提高了测量效率和粗糙度测量精度。粗糙度测试仪包括：触针单元，其包括触针和触针位移检测单元，触针以从滑动部的通孔突出和缩回到通孔中的方式设置并且沿着工件的表面进行扫描运动，触针位移检测单元被构造为检测触针的位移；以及驱动单元，其使触针单元在驱动轴线方向上前后移动。粗糙度测试仪还包括高度检测器，其以面向主体容纳部的前端面且使滑动部介于高度检测器与前端面之间的方式设置，并且该高度检测器检测物体在与测量轴线平行的方向上的高度。当高度检测器检测到在测量轴线方向上物体的高度与主体支撑脚的高度相同时，驱动单元自动开始驱动，从而使触针单元对工件表面进行扫描测量。
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公开(公告)号：CN118043631A
公开(公告)日：2024-05-14
申请号：CN202280066490.8
申请日：2022-09-29
Applicant: 株式会社三丰
Abstract: 一种多自由度位移测量设备包括：旋转刻度盘，其具有刻度图案，所述刻度图案包括多个图案，所述多个图案围绕第一旋转轴线布置并且沿所述旋转刻度盘的圆周方向排列；检测头组，其包括多个检测头，所述多个检测头中的每一个围绕所述第一旋转轴线设置、并布置在面向所述旋转刻度盘的安装面上、并且被配置为从所述刻度图案检测所述多个图案中的每一个；以及计算器，其被配置为：基于由所述多个检测头获取的检测值，计算围绕所述第一旋转轴线的相对旋转角度；以及计算在沿所述第一旋转轴线的方向上的相对移动量和在沿与所述第一旋转轴线正交的第二旋转轴线的方向上的相对移动量中的至少一个。
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公开(公告)号：CN111716308B
公开(公告)日：2024-05-10
申请号：CN202010194851.X
申请日：2020-03-19
Applicant: 株式会社三丰
Inventor： 安野顺介
Abstract: 提供旋转工作台以及圆度测定机。旋转工作台(10)具有载物台(11)、被绕旋转中心轴线(C)驱动而旋转的旋转基座(21)、设置于旋转基座(21)且支承载物台(11)的支承机构、进行载物台(11)的定水平调整的定水平调整机构和将旋转基座(21)的旋转力向载物台(11)传递的传递机构(94)，传递机构(94)具有能够向内侧插入所述支承机构的环状的传递部件(63)、将传递部件(63)与旋转基座(21)连结且能够绕第一轴线(A1)转动的第一连结机构(61)和将传递部件(63)与载物台(11)连结且能够绕与第一轴线(A1)为交叉方向的第二轴线(A2)转动的第二连结机构(62)。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117990030A
公开(公告)日：2024-05-07
申请号：CN202311364129.6
申请日：2023-10-20
Applicant: 株式会社三丰
Abstract: 一种自动内径测量设备。自动测量设备包括测量工件内径的内径测量单元、机器臂部和控制单元。在末端侧朝上的状态下安装内径测量单元。在内径测量单元的末端处设置有锥状引导锥。工件止动件附接到内径测量单元的外侧。用作放置工件的放置面的支撑面由弹簧支撑，并且支撑面的倾斜度和位置跟随工件的姿势和位置的改变而改变。
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公开(公告)号：CN112925051B
公开(公告)日：2024-05-03
申请号：CN202011344591.6
申请日：2020-11-26
Applicant: 株式会社三丰
Abstract: 本发明涉及焦距可变透镜装置以及焦距可变透镜控制方法。焦距可变透镜装置(1)具备：液体谐振式的透镜系统(3)，折射率根据输入的驱动信号(Cf)而变化；温度传感器(8)，获取透镜系统(3)的温度信息；以及驱动控制部(61)，控制透镜系统(3)。驱动控制部(61)具有：谐振频率估计部，基于温度信息来计算透镜系统(3)的谐振频率的估计值；以及开始频率设定部，基于谐振频率的估计值来设定透镜系统(3)的开始频率。
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公开(公告)号：CN117949446A
公开(公告)日：2024-04-30
申请号：CN202311396969.0
申请日：2023-10-26
Applicant: 株式会社三丰
Abstract: 提供一种能够以维持测定精度的状态提高测定吞吐量的图像测定系统、图像测定方法以及程序。本发明的一个实施方式的图像测定系统包括载置部、摄像部、移动控制部和摄像控制部。在所述载置部载置有测定对象。所述摄像部构成为能够相对于所述载置部相对移动。所述移动控制部能够相互切换高速移动模式以及低速移动模式，使所述摄像部相对于所述载置部相对移动。所述摄像控制部与切换至所述低速移动模式相对应，执行通过所述摄像部的瞬间图像信息的取入。
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公开(公告)号：CN117824720A
公开(公告)日：2024-04-05
申请号：CN202311189483.X
申请日：2023-09-14
Applicant: 株式会社三丰
Inventor： 木村彰秀
Abstract: 一种光学编码器，其能够以稳定的方式减少不想要的衍射光的影响。光学编码器1包括标尺2和检测头3。检测头3包括光源4和具有光接收表面60的光接收装置6。光接收表面60具有元件排7，元件排7具有沿着测量方向以与干涉条纹的周期相同的周期排列的多个光接收元件70。包含在从干涉条纹产生的检测信号中的误差将被称为由元件数量引起的误差，而预定的容许误差将被称为容许误差。元件排7中的光接收元件70的数量被设置为使得由元件数量引起的误差小于容许误差的数量。当光接收元件70的总数为奇数且这样的奇数个光接收元件70起作用时，或当光接收元件70的总数为偶数但比这样的偶数个光接收元件70少一个的光接收元件70起作用时，会引起这种由元件数量引起的误差。
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公开(公告)号：CN117613597A
公开(公告)日：2024-02-27
申请号：CN202311371915.9
申请日：2017-10-20
Applicant: 株式会社三丰
Abstract: 本发明提供了一种用于连接外部设备至测量设备的连接单元。连接单元600和700各自包括平板形连接单元主体部件610；用于测量设备的连接器端子651，其设置在连接单元主体部件610处，并且连接至对应于测量设备100至400的每一个的信号输入/输出连接器端口100或200；用于外部设备的连接器端子660，其设置在连接单元主体部件610处，并且连接至外部设备510至540中的每一个的信号输入/输出连接端口511。连接单元主体部件610还设置有手动可操作开关。
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