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公开(公告)号：CN111428802B
公开(公告)日：2023-02-07
申请号：CN202010242973.1
申请日：2020-03-31
申请人： 上海市计量测试技术研究院 , 中国计量大学
IPC分类号： G06V40/20 , G06V10/774 , G06V10/764 , G06F40/30 , G06F3/01
摘要： 本发明为一种基于支持向量机的手语翻译方法，其特征在于：包括以下：1、利用STM32开发板通过可穿戴数据手套采集手势电压信号；2、利用信号筛选程序将每一组手势电压信号对应的手语词语和常用手语句子制成手语语句库；3、编写包括支持向量机分类模块、数据传输模块和储存模块的支持向量机程序，所述的支持向量机分类模块是基于支持向量机二分类算法，采用有向无环方案构成的多分类模型；4、将每次收到的手势电压信号通过支持向量机分类模块转换为手语词语；5、将步骤4在一段时间内获得的手语词语转换为手语词语组，将手语词语组与手语语句库进行匹配并联想填充成句输出结果。本发明结合支持向量机及传感技术实现手语自动实时翻译识别。
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公开(公告)号：CN113237446A
公开(公告)日：2021-08-10
申请号：CN202110414926.5
申请日：2021-04-17
申请人： 上海市计量测试技术研究院 , 中国计量大学
摘要： 本发明为一种复合型纳米膜厚标准样板及其循迹方法，其特征在于：所述的标准样板包括分设于基底上的第一测量工作区域和第二测量工作区域两个工作区域，所述的第一测量工作区域为几何薄膜结构测量工作区域，所述的第二测量工作区域为物性薄膜结构测量工作区域，两测量工作区域厚度参数相同，所述的第一测量工作区域设有几何结构工作框，所述的工作框四边外周设有一级循迹标识，在工作框内部设有二级循迹标识，工作框中部则设有中心几何薄膜结构，所述的第二测量工作区域设有物性薄膜结构中心圆，其外周布置有带箭头循迹标识，所述物性薄膜结构中心圆的外周还顺序设有第一外环、第二外环和第三外环。
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公开(公告)号：CN111967100A
公开(公告)日：2020-11-20
申请号：CN202010725389.1
申请日：2020-07-24
申请人： 上海市计量测试技术研究院 , 中国计量大学
摘要： 本发明为一种基于改进蚁群算法拟合螺纹中轴线的方法，其特征在于：步骤1：由光学扫描或螺纹测量仪器获得螺纹表面点云的三维坐标数据作为改进蚁群算法的输入样本；步骤2：根据螺纹表面三维坐标点到中轴线的距离方差最小的原则建立立体几何数学模型，根据两点确定一条直线的原则确定螺纹内部区域内两点共6个坐标值；步骤3：将采集的螺纹三维数据投影到二维面上，估算出中轴线上两点坐标共六个参数的初始区间；步骤4：建立改进蚁群算法框架，算法框架由设置初始状态，信息素更新，设定选择概率，选定转移方法，贪婪处理以及结束原则六部分组成。步骤5：通过拟合程序将上述步骤过程及获得的数据整合后输出螺纹中轴线的两点式。
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公开(公告)号：CN111336935A
公开(公告)日：2020-06-26
申请号：CN202010242951.5
申请日：2020-03-31
申请人： 上海市计量测试技术研究院 , 中国计量大学
摘要： 本发明为一种基于改进混合优化算法的纳米薄膜参数反演计算方法，其特征在于：所述的纳米薄膜是在基底层上镀介质薄膜后形成的顺序由基底层、中间层和介质薄膜层组成的三层结构纳米薄膜，所述的混合优化算法是利用爬山算法对全连接神经网络的权值进行迭代优化而建立的混合优化算法，通过对椭偏仪测量介质薄膜层得到的椭偏参数值进行数据反演计算，并结合测量时的环境参数值和基底层已知参数值以得出纳米薄膜的厚度及光学参数。本发明保证了利用椭偏仪的测量数据计算出介质薄膜层厚度及光学常数这一过程精确且快速，为利用光谱型椭偏仪测量介质薄膜层的参数提供了数据处理方法保障。
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公开(公告)号：CN110726378A
公开(公告)日：2020-01-24
申请号：CN201911100142.4
申请日：2019-11-12
申请人： 上海市计量测试技术研究院
摘要： 本发明涉及一种基于四象限光电探测器的三维微接触式测量装置及方法，在利用本发明的一种基于四象限光电探测器的三维微接触式测量装置对样品表面参数进行测量时，开启激光光源并对X轴四象限光电探测器、Y轴四象限光电探测器、Z轴四象限光电探测器进行校正之后，将测端球沿被测样品的表面接触扫描；测端球通过测针以及中心连接部带动四棱锥反射镜产生位置变化，从而使得四棱锥反射镜的三个反射面反射至X轴四象限光电探测器、Y轴四象限光电探测器、Z轴四象限光电探测器上的光斑产生偏移量；根据光斑所产生的偏移量可以得出测端球与样品表面接触点的X轴方向、Y轴方向、Z轴方向的坐标参数。
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公开(公告)号：CN109238155B
公开(公告)日：2020-01-17
申请号：CN201811296986.6
申请日：2018-11-01
申请人： 上海市计量测试技术研究院 , 中国计量大学
IPC分类号： G01B11/06
摘要： 本发明为一种采用等效物理结构模型测量SiO2薄膜厚度的方法，其特征在于：所述测量SiO2薄膜厚度的方法是基于椭偏法采用微纳米薄膜厚度标准样片结合等效物理结构模型进行测量SiO2薄膜的厚度，所述的等效物理结构模型是根据SiO2薄膜的实际多层膜物理结构模型建立的简化等效物理结构模型，实际多层膜物理结构模型顺序包括表面粗糙层、SiO2薄膜层、中间混合层及Si基底层，其中所述的中间混合层为Si基底层与SiO2薄膜层之间反应产生的SixOy产物膜层。本发明可保证不同厂家、型号的椭偏仪建立薄膜物理结构模型的统一性与结果的一致性，为建立和完善微纳米薄膜量值溯源体系奠定基础。
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公开(公告)号：CN104677480B
公开(公告)日：2017-08-01
申请号：CN201510115053.2
申请日：2015-03-17
申请人： 上海市计量测试技术研究院 , 中国船舶重工集团公司第七〇四研究所
IPC分类号： G01G23/01
摘要： 本发明提供了一种砝码自动检测装置，包括：砝码盛放部，包含：多个砝码工位、多个砝码盘；称重部，包含：用于层层叠加放置至少一个砝码组件或至少一个砝码盘的秤盘、质量传感单元；夹取部，包含：将砝码组件夹取至秤盘上的夹取单元、用于驱动夹取单元移动从而进行夹取的驱动单元以及用于引导夹取单元移动的导轨；以及控制部，包含：基于预定顺序并根据夹取规则控制夹取单元进行夹取的控制单元，对应存储有标准砝码的标准折算质量的存储单元，根据标准折算质量、砝码盘质量和组件质量并基于预定算法计算出待检砝码的待检折算质量的计算单元。
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公开(公告)号：CN104635065A
公开(公告)日：2015-05-20
申请号：CN201510043869.9
申请日：2015-01-28
申请人： 上海市计量测试技术研究院
IPC分类号： G01R29/22
摘要： 本发明涉及薄膜材料压电常数测量装置，属于测量领域。一种气腔压力法薄膜材料压电常数测量装置，其特征在于：将待测薄膜材料放置在全封闭气腔内，所述全封闭气腔通过压力控制器连接气源，由压力控制器控制全封闭气腔内的压力，所述待测薄膜材料上下两面的电极与设置在全封闭气腔的腔体壁上的连通全封闭气腔内外的导电柱电连接，所述导电柱的外接电线连接电荷放大器，最后连接到数字示波器，所述压力控制器连接有数字压力计，所述全封闭气腔内还设置有热电偶传感器，热电偶传感器连接监控用数字温度计。本发明的测量装置和测量方法测试简单直接，待测薄膜材料在测试中非常稳定，大大提高了测试精度。
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公开(公告)号：CN101504273B
公开(公告)日：2010-08-11
申请号：CN200910056935.0
申请日：2009-03-06
申请人： 上海市计量测试技术研究院
摘要： 本发明为一种物体平面微、纳米尺寸的测量装置及其测量方法，其特征在于：包括纳米定位测量机、光学显微镜测头和数据处理器，纳米定位测量机箱体内设有三个微型平面镜干涉仪和两个角度传感器来实现计量性的定位和测量，纳米定位测量机箱体一侧垂直支撑其固定支架，固定支架的另一端安装光学显微镜测头，光学显微镜测头底下是被测物体和载物台；被测物体经光学显微镜测头成像后，图像数据传递到数据处理器，数据处理器将接收到的数据进行数值转换获取被测物体在光学显微镜测头视场内的灰度图，在灰度图中设定线宽方向，然后设定沿此方向的区域，计算所述区域内各像素点的灰度算术平均值，并将所述灰度算术平均值经数模转换后发送到纳米测量机。
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公开(公告)号：CN113237446B
公开(公告)日：2024-08-23
申请号：CN202110414926.5
申请日：2021-04-17
申请人： 上海市计量测试技术研究院 , 中国计量大学
摘要： 本发明为一种复合型纳米膜厚标准样板及其循迹方法，其特征在于：所述的标准样板包括分设于基底上的第一测量工作区域和第二测量工作区域两个工作区域，所述的第一测量工作区域为几何薄膜结构测量工作区域，所述的第二测量工作区域为物性薄膜结构测量工作区域，两测量工作区域厚度参数相同，所述的第一测量工作区域设有几何结构工作框，所述的工作框四边外周设有一级循迹标识，在工作框内部设有二级循迹标识，工作框中部则设有中心几何薄膜结构，所述的第二测量工作区域设有物性薄膜结构中心圆，其外周布置有带箭头循迹标识，所述物性薄膜结构中心圆的外周还顺序设有第一外环、第二外环和第三外环。
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